Bibliographie & annexes
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Auteur(s)
-
Jacky RUSTE : Ingénieur INSA, docteur-ingénieur, ingénieur senior - EDF recherches et développement, Centre des Renardières - Département matériaux et mécanique des composants (Moret-sur-Loing)
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Microanalyse en mode « pression contrôlée » ou en chambre environnementale5. Analyse d'échantillons stratifiés
Si les procédures classiques de quantification imposent un échantillon homogène dans le volume d'analyse, il est cependant possible, grâce aux modèles f ( ρz ), d'analyser des échantillons stratifiés, c'est-à-dire constitués par une succession de couches minces d'épaisseur constante et dont l'épaisseur totale ne dépasse pas quelques microns.
Pour une couche enterrée entre les profondeurs ρzi et ρzi+1 contenant l'élément A, on peut, par définition de f (ρz ), écrire que l'intensité émergente caractéristique de l'élément considéré provenant de la couche i est égale à :
( 12 )
En mesurant pour différentes tensions d'accélération les variations d'intensités des éléments contenus dans les différentes couches et dans le substrat, on peut en déduire par itérations successives à la fois la composition chimique et l'épaisseur de chacune de ces couches en ajustant pour tous les éléments la courbe théorique de l'émission X aux données expérimentales. Différents modèles ont été proposés et plusieurs logiciels sont disponibles Microanalyse X par sonde électronique[12] Microanalyse X par sonde électronique[22] Microanalyse X par sonde électronique[23] Microanalyse X par sonde électronique[24].
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Analyse d'échantillons stratifiés
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - NEUILLY (M.), COURTIER (J.C.) - Erreurs et incertitudes de mesures. - [P 100] Base documentaire Archives Analyse-mesures (1997).
-
(2) - NEUILLY (M.) - Modélisation et calcul de l'incertitude d'un résultat de mesure. - [P 260] Base documentaire Archives Analyse-mesures (1996).
-
(3) - NEUILLY (M.) - Limite de détection. - [P 262] Base documentaire Mesures - Analyses (1998).
-
(4) - NEUILLY (M.) - Erreurs de mesure. - [R 280] Base documentaire Archives Mesures : généralités (1987).
ANNEXES
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Ouvrages généraux En langue française
MAURICE (F.) - MENY (L.) - TIXIER (R.) - Microscopie électronique à balayage et microanalyses. - École d'été de Saint-Martin d'Hères (1978), Les Éditions de physique (épuisé) (1979).
GN-MEBA - BRISSET (F.) - Microscopie électronique à balayage et microanalyses. - Édité par BRISSET (F.), en collaboration avec REPOUX (M.), RUSTE (J.), GRILLON (F.) et ROBAUT (F.), École d'été de Saint-Martin d'Hères (2006), EDP Sciences (2008).
BENOÎT (D.) - GRILLON (F.) - MAURICE (F.) - ROINEL (N.) - RUSTE (J.) - TIXIER (R.) - Microanalyse par sonde électronique : la spectrométrie de rayons X. - Collection GN-MEBA, EDP Sciences (1987).
BENOÎT (D.) - BRAULT (F.) - BRESSE (J.F.) - GRILLON (F.) - MAURICE (F.) - POUCHOU (J.L.) - RUSTE (J.) - Microanalyse par sonde électronique : aspects quantitatifs. - Collection GN-MEBA, EDP Sciences (1989).
BRESSE (J.F.) - Travaux pratiques de microscopie électronique à balayage et de microanalyse X. - Collection GN-MEBA, EDP Sciences (1994).
BRESSE (J.F.) - FIALIN (M.) - POUCHOU (J.L.) - Microanalyse X par sonde électronique: méthodes de Monte Carlo et modèles de correction. - Collection GN-MEBA, EDP Sciences (1997).
En langue anglaise
HEINRICH (K.F.J.) - Electron beam X-ray microanalysis. -...
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