1 - SPÉCIFICITÉ DE LA DIFFRACTION DES ÉLECTRONS RAPIDES

• 1.1 - Fonctionnement d'un microscope électronique : lentille objectif
  Figure 1 - Application de l'optique géométrique pour la construction des faisceaux dans un microscope électronique en transmission Figure 2 - Effet de la faible épaisseur d'un cristal d'épaisseur t sur le profil autour des nœuds de son réseau réciproque Figure 3 - Construction d'Ewald pour un cristal mince : définition de l'écart aux conditions de Bragg
• 1.2 - Adoucissement des conditions de diffraction de Bragg pour les électrons
• 1.3 - Approximation du cristal projeté et cas des interactions tridimensionnelles
  Figure 4 - Construction d'Ewald Figure 5 - Aspect des différentes zones de Laue de diffraction interceptées par le sphère d'Ewald Figure 6 - Le faisceau cinématiquement…

2 - TRANSFORMÉES DE FOURIER

• 2.1 - Approche expérimentale
• 2.2 - Transformation de Fourier d'objets bidimensionnels
  Figure 7 - Apprentissage de la correspondance des informations dans les espaces direct et réciproque sur un bagnard Figure 8 - Figures de diffraction d'un, deux et trois trous Figure 9 - Transformées de Fourier de réseaux périodiques bidimensionnels de tailles et formes différentes Figure 10 - Transformées de Fourier de structures polycristallines bidimensionnelles Figure 11 - Transformées de Fourier de structures cristallines monocristallines (grains) bidimensionnelles avec des défauts Figure 12 - Transformées de Fourier faisant apparaître la pseudo-symétrie, le désordre et l'ordre à courte distance Tableau 1 - Correspondance entre l'espace direct et l'espace de Fourier

3 - INTERACTIONS DYNAMIQUES ENTRE ÉLECTRONS RAPIDES ET MATIÈRE

• 3.1 - Équation fondamentale de la diffusion des électrons rapides
  Figure 13 - Géométrie de la diffraction dans l'approximation des petits angles
• 3.2 - Dérivation des équations dynamiques : un exemple

4 - ASSISTANCE PAR DES LOGICIELS POUR LA DIFFRACTION ÉLECTRONIQUE

5 - MODES DE DIFFRACTION ÉLECTRONIQUE AVEC UNE ONDE PLANE INCIDENTE

• 5.1 - Diffraction par sélection d'aire
  Figure 18 - Diagrammes de diffraction en sélection d'aire Figure 19 - Indexation d'un cliché de diffraction symétrique d'un monocristal de silicium Figure 20 - Structures ordonnées dans les alliages Cu-Pd Figure 21 - Alliage Ti48,5 Ni25 Cu25 Zr2,5 : diagrammes de diffraction de l'austénite Figure 22 - Maclage fin dans Ru46 Nb54 en axe de zone [100]t et cliché de diffraction électronique associé (clichés K. Chastaing)
• 5.2 - Microdiffraction
  Figure 23 - Effet du mode de réseau sur le diagramme de microdiffraction Figure 24 - Effet d'un plan de glissement de type b parallèle à (001) sur le diagramme de microdiffraction Figure 25 - Diagramme de microdiffraction pour une orientation <110> des précipités Figure 26 - Diagramme de microdiffraction pour une orientation 001des précipités

6 - ANALYSE DE FOURIER D'IMAGES HAUTE RÉSOLUTION NUMÉRISÉES

• 6.1 - Identification d'une phase non reconnue expérimentalement
  Figure 27 - Image haute résolution d'une coupe transverse réalisée au niveau de l'interface entre Ni et Al2O3 montrant la présence d'une couche d'oxyde NiO (Al2O3 n'apparaît pas sur l'image)
• 6.2 - Symétrie cachée dans des nanostructures complexes
  Figure 28 - Alliage Fe-29 %Mo-12 %Cr-8,5 %Ti élaboré par hypertrempe Figure 29 - Zone de Guinier-Preston dans un alliage AlCu
• 6.3 - Image de la phase locale

7 - CONCLUSION