La microscopie électronique à balayage MEB, est une technique puissante d'observation de la surface des échantillons. Elle peut mettre en valeur la topographie des surfaces non polies. Cette technique est fondée principalement sur la détection des électrons secondaires émergents de la surface sous l'impact d'un très fin faisceau d'électrons primaires qui balaye la surface observée. Elle permet d'obtenir des images ayant une résolution spatiale souvent inférieur à 5 nm et une grande profondeur de champ comparée à des images obtenues par microscopie optique. Les différentes parties de l'instrument seront décrites dans les pages suivantes : les sources d'électrons, la colonne électronique et les détecteurs les plus courants.
La microscopie électronique à balayage est un outil puissant d'observation des surfaces. Les images de MEB peuvent être facilement associées à des microanalyses et cartographies élémentaires obtenues par spectrométrie des rayons X et diffraction des électrons, par exemple. Elles se prêtent facilement à la numérisation et au traitement des images. Cet article présente les différents contrastes observés en microscopie électronique à balayage. La formation des images et les sources de contrastes sont explicitées. De nouveaux domaines d'application liés à de nouveaux développements apparaissent avec cette technologie.
Cet article présente la magnétométrie à balayage de défaut azote-lacune, une technique qui permet l’imagerie quantitative et non perturbatrice de configurations d’aimantation complexes à l’échelle nanométrique afin, notamment, d’étudier des matériaux d’intérêt pour la spintronique. Elle repose sur l’utilisation d’un capteur quantique, le défaut azote-lacune du diamant, intégré dans un microscope à force atomique. Après une description expérimentale précise du magnétomètre, les différents modes de mesure, ainsi que leurs applications et leurs limitations, sont introduits. L’interprétation des cartes obtenues est également discutée afin de donner un aperçu complet des possibilités offertes par cette technique d’imagerie.
Vous allez définir un plan de contrôle, mais le résultat de certaines opérations de contrôle ne permet pas de déterminer le niveau de conformité du produit. C’est dans ce type de cas précisément que définir, construire et exploiter une défauthèque peut apporter la solution.
Amélioration des performances, Certification ISO 9001, Management intégré...
Cette fiche vous permettra de faire la différence entre les différents outils métrologiques, afin de disposer du moyen de contrôle ou de mesure le plus approprié pour le contrôle qualité de votre produit.
Comment déterminer le type de contrôle ou de mesure à mettre en œuvre pour votre produit ?
Les points suivants seront abordés :
Un outil incontournable pour comprendre, agir et choisir- Nouveauté !
En France, il est obligatoire depuis 2013, pour tout industriel mettant sur le marché plus de 100 g/an de substances à l’état nanoparticulaire, de réaliser une déclaration nano avant le 1er mai de chaque année. Cette déclaration doit être effectuée auprès de l’Agence nationale de sécurité sanitaire de l’alimentation, de l’environnement et du travail (Anses).
La déclaration est réalisée en ligne sur le site R-Nano par le déclarant.
Cette fiche explique comment effectuer cette déclaration.
Les fiches pratiques répondent à des besoins opérationnels et accompagnent le professionnel en le guidant étape par étape dans la réalisation d'une action concrète.
TECHNIQUES DE L'INGENIEUR
L'EXPERTISE TECHNIQUE ET SCIENTIFIQUE
DE RÉFÉRENCE
Avec Techniques de l'Ingénieur, retrouvez tous les articles scientifiques et techniques : base de données, veille technologique, documentation et expertise technique
Plus de 10 000 articles de référence, fiches pratiques et articles interactifs validés par les comités scientifiques
Toute l'actualité, la veille technologique, les études de cas et les événements de chaque secteur de l'industrie
SUIVEZ-NOUS
