Présentation
Auteur(s)
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Jacques DESPUJOLS : Ingénieur E.C.P., Ingénieur-Docteur, Docteur ès sciences - Ancien Professeur à l’Université de Reims-Champagne-Ardenne
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Depuis 1895, date de la découverte du rayonnement X par W. Röntgen, les nombreux travaux concernant aussi bien l’émission de ce rayonnement que son interaction avec la matière ont conduit au développement de puissantes méthodes d’analyse, utilisables en laboratoire de recherche ou de contrôle, et même dans certains cas in situ.
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La diffusion des rayons X par la matière permet, notamment par l’observation de phénomènes d’interférence (diffraction), de connaître l’organisation interne de celle-ci, et d’étudier la structure des cristaux et des molécules ; elle permet aussi la détection et l’étude des contraintes et des défauts dans de nombreux matériaux.
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L’absorption du rayonnement X dépendant non seulement de la nature et, dans une moindre mesure, de la structure des matériaux constituant l’absorbant, mais aussi de la longueur d’onde du rayonnement, les techniques spectrométriques sont utilisées avec profit pour l’analyse chimique élémentaire (analyse par spectrométrie X d’absorption) ainsi que pour l’analyse de structure des molécules (Extended X-ray Absorption Fine Structures, ou EXAFS et X-ray Absorption Near Edge Structures, ou XANES).
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Mais ce sont les spectres d’émission qui ont conduit aux techniques les plus performantes pour l’analyse qualitative et quantitative élémentaire de la matière solide ou liquide ; les appareils correspondants diffèrent suivant le procédé d’excitation des spectres :
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l’excitation électronique (on dit aussi cathodique) est utilisée actuellement, essentiellement, dans les microsondes électroniques et dans les microscopes électroniques analytiques, notamment dans les microscopes électroniques à balayage (voir les articles correspondants dans ce traité) ;
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l’excitation à l’aide d’un tube à rayons X ou de radioéléments a donné lieu à toute une constellation d’appareils d’analyse que nous étudierons dans cet article. Nous verrons que ces appareils, utilisés tout d’abord principalement dans les industries métallurgiques, minières, pétrolières et dans les cimenteries, sont devenus maintenant universels ;
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enfin d’autres procédés d’excitation, demandant des installations plus lourdes [79] [80], sont aussi utilisés avec succès pour l’analyse.
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VERSIONS
- Version archivée 1 de avr. 1980 par Jacques DESPUJOLS
- Version archivée 2 de janv. 1987 par Jacques DESPUJOLS
- Version archivée 3 de oct. 1992 par Jacques DESPUJOLS
DOI (Digital Object Identifier)
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1. Principes de la spectrométrie d’émission X
Concernant les études de structures par rayons X, le lecteur pourra se reporter aux articles [76] [77] [78] [79].
1.1 Raies d’émission X
On trouvera la description des spectres d’émission X dans l’article [81] de ce traité. Nous nous contenterons de rappeler ici ce qui est nécessaire pour la compréhension de la suite de cet article.
HAUT DE PAGE1.1.1 Niveaux d’énergie des électrons atomiques
Les électrons constituant le cortège électronique des atomes libres sont situés sur des niveaux d’énergie bien définis, correspondant aux différentes couches ( K, L, M, etc.) et sous-couches :
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deux électrons, au maximum, sont sur la couche K (la plus énergétique en valeur absolue) ;
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huit, au maximum, se trouvent sur la couche L, subdivisée en sous-couches L 1 , L 2 et L 3 ;
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dix-huit, au maximum, remplissent la couche M, subdivisée en sous-couches M 1 , M 2 , M 3 , M 4 , M 5 , etc.
Ces niveaux ont une certaine largeur, en général négligeable sauf pour les sous-couches les plus externes (c’est-à-dire les moins énergétiques en valeur absolue) qui interviennent dans la liaison chimique.
Les énergies des niveaux internes sont très peu modifiées par la liaison chimique.
HAUT DE PAGE1.1.2 Transitions entre niveaux
Sous l’influence d’un événement venant de l’extérieur (arrivée d’une particule chargée ou d’un rayonnement d’énergie suffisante), un électron du cortège électronique d’un atome, situé sur un certain niveau d’énergie Ex (rappelons que cette énergie est négative), peut être arraché de la couche à laquelle il appartient. La place libre est susceptible d’être comblée par un électron situé sur un autre...
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Principes de la spectrométrie d’émission X
BIBLIOGRAPHIE
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(1) - BIRKS (L.S.) - X-ray spectrochemical analysis. - 150 p. 1969 Interscience Publ.
-
(2) - JENKINS (R.), DE VRIES (J.L.) - Practical X-ray spectrometry. - 180 p. 1970 Philips Technical Library et Mac Millan.
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(3) - JENKINS (R.), DE VRIES (J.L.) - Worked exemples in X-ray analysis, - 129 p. 1970 Philips Technical Library et Mac Millan.
-
(4) - MULLER (R.O.) - Spectrochemical analysis by X-ray fluorescence. - 324 p. 1972 Adam Hilger Ltd et Plenum Press.
-
(5) - AZAROFF (L.V.) - X-ray spectrometry. - 1974 Mc Graw-Hill.
-
(6) - BERTIN (E.P.) - Principles and practice of X-ray spectrometric analysis. - 2e éd. 1975 Heyden and Son Ltd.
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ANNEXES
(liste non exhaustive)
Alexandre-Labo
Arelco http://www.arelco.fr
Bruker Spectrospin http://www.bruker.ca
Edax http://www.edax.com
Elexience http://www.elexience.fr
Fondis Electronic http://www.fondiselectronic.com
Houriba https://www.horiba.com/fra/
Oxford Instruments http://www.oxford-instruments.com
Rigaku http://www.rigaku.com
Spectro http://www.asoma.com
Thermo-optek https://www.thermofisher.com/fr/fr/home.html
T.N. Spectrace
HAUT DE PAGECet article fait partie de l’offre
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