Présentation
Auteur(s)
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Jacques DESPUJOLS : Ingénieur E.C.P., Ingénieur-Docteur, Docteur ès sciences - Ancien Professeur à l’Université de Reims-Champagne-Ardenne
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Depuis 1895, date de la découverte du rayonnement X par W. Röntgen, les nombreux travaux concernant aussi bien l’émission de ce rayonnement que son interaction avec la matière ont conduit au développement de puissantes méthodes d’analyse, utilisables en laboratoire de recherche ou de contrôle, et même dans certains cas in situ.
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La diffusion des rayons X par la matière permet, notamment par l’observation de phénomènes d’interférence (diffraction), de connaître l’organisation interne de celle-ci, et d’étudier la structure des cristaux et des molécules ; elle permet aussi la détection et l’étude des contraintes et des défauts dans de nombreux matériaux.
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L’absorption du rayonnement X dépendant non seulement de la nature et, dans une moindre mesure, de la structure des matériaux constituant l’absorbant, mais aussi de la longueur d’onde du rayonnement, les techniques spectrométriques sont utilisées avec profit pour l’analyse chimique élémentaire (analyse par spectrométrie X d’absorption) ainsi que pour l’analyse de structure des molécules (Extended X-ray Absorption Fine Structures, ou EXAFS et X-ray Absorption Near Edge Structures, ou XANES).
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Mais ce sont les spectres d’émission qui ont conduit aux techniques les plus performantes pour l’analyse qualitative et quantitative élémentaire de la matière solide ou liquide ; les appareils correspondants diffèrent suivant le procédé d’excitation des spectres :
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l’excitation électronique (on dit aussi cathodique) est utilisée actuellement, essentiellement, dans les microsondes électroniques et dans les microscopes électroniques analytiques, notamment dans les microscopes électroniques à balayage (voir les articles correspondants dans ce traité) ;
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l’excitation à l’aide d’un tube à rayons X ou de radioéléments a donné lieu à toute une constellation d’appareils d’analyse que nous étudierons dans cet article. Nous verrons que ces appareils, utilisés tout d’abord principalement dans les industries métallurgiques, minières, pétrolières et dans les cimenteries, sont devenus maintenant universels ;
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enfin d’autres procédés d’excitation, demandant des installations plus lourdes [79] [80], sont aussi utilisés avec succès pour l’analyse.
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VERSIONS
- Version archivée 1 de avr. 1980 par Jacques DESPUJOLS
- Version archivée 2 de janv. 1987 par Jacques DESPUJOLS
- Version archivée 3 de oct. 1992 par Jacques DESPUJOLS
DOI (Digital Object Identifier)
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4. Que peut-on attendre de la spectrométrie des rayons X ?
4.1 Éléments envisageables, matrices, teneurs
La recherche et l’analyse quantitative de tous les éléments est possible, sauf pour les trois premiers de la classification périodique (H, He, Li) ; le dosage du béryllium est exceptionnel et ne peut être effectué que sur certains appareils très récents. Le dosage des quatre suivants (B, C, N, O) est difficile dans le cas des basses teneurs et n’est faisable que sur certains spectromètres, spécialement pour l’azote, dont les raies d’émission sont absorbées par l’oxygène présent dans la fenêtre du détecteur ; enfin, pour les huit suivants (jusqu’au soufre), la facilité est d’autant plus grande que le numéro atomique est plus élevé. Les spectromètres à dispersion d’énergie ne permettent pas, sauf exception, l’analyse des éléments très légers ( Z < 10).
Toutes les matrices sont envisageables ; la sensibilité pour les basses teneurs est d’autant plus grande que la matrice est plus légère, c’est-à-dire composée d’éléments de faible numéro atomique.
Les teneurs limites détectables sont de quelques dixièmes de ppm (en masse) ou de quelques ppm pour les éléments de numéro atomique supérieur à 14 ; elles sont de quelques ppm ou quelques dizaines de ppm pour les éléments plus légers (14 > Z > 8). Naturellement, ces teneurs sont abaissées si l’on peut enrichir l’échantillon avant la mesure ; des montages particuliers, tels que ceux utilisant la réflexion totale, permettent d’abaisser encore la limite de détection.
HAUT DE PAGE4.2 Interférences possibles dues à la superposition de raies
4.2.1 Cas de la dispersion en longueur d’onde
Les raies d’émission X sont beaucoup moins nombreuses que les raies optiques ; cependant, la résolution de la plupart des spectromètres utilisés en analyse (spectromètres de Bragg) reste limitée, nous l’avons vu au paragraphe ...
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BIBLIOGRAPHIE
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(1) - BIRKS (L.S.) - X-ray spectrochemical analysis. - 150 p. 1969 Interscience Publ.
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(2) - JENKINS (R.), DE VRIES (J.L.) - Practical X-ray spectrometry. - 180 p. 1970 Philips Technical Library et Mac Millan.
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(3) - JENKINS (R.), DE VRIES (J.L.) - Worked exemples in X-ray analysis, - 129 p. 1970 Philips Technical Library et Mac Millan.
-
(4) - MULLER (R.O.) - Spectrochemical analysis by X-ray fluorescence. - 324 p. 1972 Adam Hilger Ltd et Plenum Press.
-
(5) - AZAROFF (L.V.) - X-ray spectrometry. - 1974 Mc Graw-Hill.
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(6) - BERTIN (E.P.) - Principles and practice of X-ray spectrometric analysis. - 2e éd. 1975 Heyden and Son Ltd.
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ANNEXES
(liste non exhaustive)
Alexandre-Labo
Arelco http://www.arelco.fr
Bruker Spectrospin http://www.bruker.ca
Edax http://www.edax.com
Elexience http://www.elexience.fr
Fondis Electronic http://www.fondiselectronic.com
Houriba https://www.horiba.com/fra/
Oxford Instruments http://www.oxford-instruments.com
Rigaku http://www.rigaku.com
Spectro http://www.asoma.com
Thermo-optek https://www.thermofisher.com/fr/fr/home.html
T.N. Spectrace
HAUT DE PAGECet article fait partie de l’offre
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