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Article

1 - PRINCIPES DE LA SPECTROMÉTRIE D’ÉMISSION X

2 - SPECTROMÈTRES DE FLUORESCENCE X USUELS

3 - PRATIQUE DE L’ANALYSE

  • 3.1 - Analyses qualitative, quantitative et semi-quantitative
  • 3.2 - Préparation des échantillons
  • 3.3 - Étalonnage et corrections
  • 3.4 - Opérations automatiques et manuelles

4 - QUE PEUT-ON ATTENDRE DE LA SPECTROMÉTRIE DES RAYONS X ?

5 - EXEMPLES

6 - CONCLUSION

Article de référence | Réf : P2695 v4

Conclusion
Spectrométrie d’émission des rayons X. Fluorescence X

Auteur(s) : Jacques DESPUJOLS

Date de publication : 10 sept. 2000

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Auteur(s)

  • Jacques DESPUJOLS : Ingénieur E.C.P., Ingénieur-Docteur, Docteur ès sciences - Ancien Professeur à l’Université de Reims-Champagne-Ardenne

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INTRODUCTION

Depuis 1895, date de la découverte du rayonnement X par W. Röntgen, les nombreux travaux concernant aussi bien l’émission de ce rayonnement que son interaction avec la matière ont conduit au développement de puissantes méthodes d’analyse, utilisables en laboratoire de recherche ou de contrôle, et même dans certains cas in situ.

  • La diffusion des rayons X par la matière permet, notamment par l’observation de phénomènes d’interférence (diffraction), de connaître l’organisation interne de celle-ci, et d’étudier la structure des cristaux et des molécules ; elle permet aussi la détection et l’étude des contraintes et des défauts dans de nombreux matériaux.

  • L’absorption du rayonnement X dépendant non seulement de la nature et, dans une moindre mesure, de la structure des matériaux constituant l’absorbant, mais aussi de la longueur d’onde du rayonnement, les techniques spectrométriques sont utilisées avec profit pour l’analyse chimique élémentaire (analyse par spectrométrie X d’absorption) ainsi que pour l’analyse de structure des molécules (Extended X-ray Absorption Fine Structures, ou EXAFS et X-ray Absorption Near Edge Structures, ou XANES).

  • Mais ce sont les spectres d’émission qui ont conduit aux techniques les plus performantes pour l’analyse qualitative et quantitative élémentaire de la matière solide ou liquide ; les appareils correspondants diffèrent suivant le procédé d’excitation des spectres :

    • l’excitation électronique (on dit aussi cathodique) est utilisée actuellement, essentiellement, dans les microsondes électroniques et dans les microscopes électroniques analytiques, notamment dans les microscopes électroniques à balayage (voir les articles correspondants dans ce traité) ;

    • l’excitation à l’aide d’un tube à rayons X ou de radioéléments a donné lieu à toute une constellation d’appareils d’analyse que nous étudierons dans cet article. Nous verrons que ces appareils, utilisés tout d’abord principalement dans les industries métallurgiques, minières, pétrolières et dans les cimenteries, sont devenus maintenant universels ;

    • enfin d’autres procédés d’excitation, demandant des installations plus lourdes [79] [80], sont aussi utilisés avec succès pour l’analyse.

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VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v4-p2695


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6. Conclusion

Les techniques de spectrométrie d’émission X, et particulièrement celles utilisant l’excitation par fluorescence, sont très bien adaptées à l’analyse chimique élémentaire aussi bien qualitative que quantitative de pratiquement tous les matériaux, naturels ou artificiels, y compris les objets de musée (voir, par exemple, [7], p. 413-81) et les éléments d’architecture, ainsi que de nombreux produits chimiques ou biologiques notamment végétaux [69] [70]. Elles permettent maintenant le dosage de traces et sont de plus en plus utilisées en biologie, médecine et études de pollution.

Ces techniques sont en progrès constant [71] [72] [73] : elles font l’objet d’environ 500 articles par an dans des revues scientifiques et techniques (dont plus de la moitié concernent les spectromètres à dispersion d’énergie, qui ne représentent cependant actuellement que le cinquième de la population totale des spectromètres X [71]) ; elles font l’objet aussi de nombreux congrès et colloques dont notamment aux États-Unis celui de Denver (Colorado) qui a lieu tous les ans au mois d’août et dont le compte rendu est publié sous le titre « Advances in X-ray Analysis » ; on peut noter, en France, les réunions et colloques organisés par l’ENSAIS (École Nationale Supérieure des Arts et Industries de Strasbourg) et les principaux constructeurs de spectromètres.

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - BIRKS (L.S.) -   X-ray spectrochemical analysis.  -  150 p. 1969 Interscience Publ.

  • (2) - JENKINS (R.), DE VRIES (J.L.) -   Practical X-ray spectrometry.  -  180 p. 1970 Philips Technical Library et Mac Millan.

  • (3) - JENKINS (R.), DE VRIES (J.L.) -   Worked exemples in X-ray analysis,  -  129 p. 1970 Philips Technical Library et Mac Millan.

  • (4) - MULLER (R.O.) -   Spectrochemical analysis by X-ray fluorescence.  -  324 p. 1972 Adam Hilger Ltd et Plenum Press.

  • (5) - AZAROFF (L.V.) -   X-ray spectrometry.  -  1974 Mc Graw-Hill.

  • (6) - BERTIN (E.P.) -   Principles and practice of X-ray spectrometric analysis.  -  2e éd. 1975 Heyden and Son Ltd.

  • ...

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