Présentation
En anglaisAuteur(s)
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Patrick POULICHET : ESIEE
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Gilles AMENDOLA : ESIEE
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Christophe DELABIE : ESIEE
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Yves BLANCHARD : ESIEE
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Lire l’articleINTRODUCTION
Le présent dossier fait suite au dossier [R 1 078v2] et traite des mesures sur les composants passifs.
La plupart des caractéristiques électriques des composants électroniques dépendent de la fréquence à laquelle elles sont mesurées. Cette dépendance est liée à l'existence d'éléments parasites de type inductance ou capacité.
Comme nous l'avons vu dans le dossier Mesures des composants électroniques. Partie 1 [R 1 078v2], beaucoup de ces mesures peuvent se faire avec un appareil capable de mesurer l'impédance : pont automatique, mesure I-V ou RF I-V et analyseur de réseau. Ces appareils permettent, à partir d'un modèle choisi par l'utilisateur, de déterminer les valeurs de résistance, capacités et inductance collant le mieux à la mesure.
Ce texte est la nouvelle édition de l'article Mesure des composants électroniques, rédigé en 1993 par Jean-Claude GOURDON et Paul PRODHOMME, dont sont repris quelques extraits.
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1. Mesure des résistances
La mesure des résistances peut se réaliser à l'aide d'un voltmètre et d'un ampèremètre. On utilise une méthode aval ou amont suivant la valeur de la résistance par rapport à celle du voltmètre et de l'ampèremètre. Des appareils de mesures automatiques permettent de mesurer la résistance et l'impédance de celle-ci en fonction de la fréquence.
La figure 1 présente l'allure de la variation de l'impédance des résistances en fonction de la fréquence.
Le comportement d'une résistance d'une inductance ou d'une capacité n'est idéal que sur une plage de fréquence donnée. Au-delà, les limitations de la technologie utilisée ou l'influence des connexions limitent la fréquence d'utilisation.
Les quatre méthodes décrites dans le tableau permettent de mesurer simplement l'impédance des composants passifs sur une large plage de fréquence. Ils permettent de mesurer la partie réelle et la partie imaginaire, le module et la phase de l'impédance.
1.1 Mesure de coefficients de température
On désigne par coefficient de température la variation relative d'un paramètre en fonction de la température. Souvent, par extension, la variation absolue du paramètre lui-même sera désignée par « coefficient de température ».
Le principe général est le suivant (figure a ) : le composant est placé dans un dispositif approprié (chambre climatique) permettant de faire varier la température ambiante et de mesurer le paramètre considéré à chaque température.
Des précautions doivent être prises afin que la liaison chambre climatique – appareil de mesure apporte une erreur acceptable.
La stabilité de la température des spécimens doit être suffisante, et la valeur absolue de cette température doit être connue avec une précision adéquate.
Un rapide calcul d'incertitude (figure 2b ) montre que la mesure d'un coefficient de température de 10–5 (valeur typique pour certaines familles de composants) avec une incertitude relative dα /α de 10 %, en admettant un écart de température entre deux points de mesure adjacents T2 – T1 ≥ 10 oC,...
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