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Article de référence | Réf : AM3282 v1

Conclusion
Caractérisation des polymères par microscopie électronique

Auteur(s) : Christopher John George PLUMMER

Date de publication : 10 avr. 2001

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INTRODUCTION

Dès l’apparition des premiers microscopes électroniques à transmission (MET), la microscopie électronique a commencé à jouer un rôle clé dans l’étude de la morphologie et de la microdéformation des polymères de synthèse. La microscopie électronique à transmission des polymères s’appuie, pour beaucoup, sur les techniques d’observation de la matière organique développées dans les sciences de la vie (biologie, médecine), domaine où travaillent actuellement la majorité des microscopistes. Préparation spécifique des échantillons et difficultés liées à l’endommagement engendré par le faisceau électronique la caractérise par rapport à celle des autres matériaux (métaux, céramiques). Au contraire, les méthodes utilisées en microscopie électronique à balayage (MEB) sont plus classiques si, comme c’est souvent le cas, son utilisation se limite à l’observation topographique d’une surface. Toutefois, les développements récents comme la microscopie électronique à balayage à haute résolution ou sous pression partielle de vapeur s’annoncent très prometteurs pour certains types d’études spécifiques aux polymères.

Seront présentés dans l’ordre :

  • les interactions entre faisceau électronique et polymère et l’endommagement qui en résulte ;

  • les techniques de préparation d’échantillon les plus courantes ;

  • des modes d’observation particuliers.

Les aspects purement techniques de la microscopie électronique ne seront pas abordés ici pour autant qu’ils n’aient pas de rapport direct avec les polymères de synthèse.

Nota :

Nous remercions Christelle Grein pour la relecture de cet article.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-am3282


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5. Conclusion

Par le passé, le MET était la seule technique adaptée à l’observation directe d’objets nanoscopiques comme les lamelles d’un polymère semi-cristallin ou les fibrilles dans une craquelure. À présent, des techniques à sonde balayée comme l’AFM et le MEB commencent à rivaliser avec lui sur ce plan. Le potentiel du MEB, en particulier, dépasse petit à petit son rôle traditionnel comme outil de faible grossissement et de grande profondeur de champ, tout en conservant l’avantage d’une préparation d’échantillons relativement facile. Cependant, le MEB et l’AFM sont principalement des techniques de surface et le MET reste indispensable pour l’étude de l’organisation tridimensionnelle locale des polymères par diffraction et imagerie simultanée, par exemple. D’ailleurs, les MET modernes offrent des possibilités d’imagerie et d’analyse avec une résolution spatiale et une sensibilité nettement supérieures à celles des premiers instruments, et toujours largement supérieures à celles du MEB. Cela étant dit, toutes les techniques mentionnées sont en évolution constante, et pour rester au courant des derniers développements, il est vivement conseillé de consulter régulièrement les revues spécialisées en plus des ouvrages cités en .

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - GRUBB (D.T.) -   *  -  J. Mater. Sci., 9, p. 1715 (1974).

  • (2) - REIMER (L.) -   Transmission Electron Microscopy.  -  Springer Verlag, Berlin (1993).

  • (3) - DU CHESNE (A.) -   *  -  Macromol. Chem. Phys., 200, p. 1813 (1999).

  • (4) - KRAMER (E.J.) -   *  -  In Adv. Poly. Sci., 52/53, KAUSCH (H.-H.) Ed., Springer Verlag, Berlin, Ch. 1 (1983).

  • (5) - KRAMER (E.J.), BERGER (L.L.) -   *  -  In Adv. Polym. Sci., 91/92, KAUSCH (H.-H.) Ed., Springer Verlag, Berlin, Ch. 1 (1983).

  • (6) - LOESCHE (M.), RABE (J.), FISCHER (A.), RUCHA (U.), KNOLL (W.), MOEHWALD (H.) -   *  -  Thin Solid Films, 117, p. 269 (1984).

  • (7)...

1 À lire également dans nos bases

LE GRESSUS (C.) - Microscopie électronique à balayage. - [P 865] Archives, janv. 1995.

PAQUETON (N.) - RUSTE (J.) - Microscopie électronique à balayage – Principe et équipement. - [P 865] Traité Techniques d'analyse, mars 2006.

LOUCHET (F.) - VERGER-GAUGRY (J.-L.) - THIBAULT-DESSEAUX (J.) - GUYOT (P.) - Microscopie électronique en transmission. Transmission conventionnelle et balayage en transmission. - [P 875] Traité Analyse et Caractérisation, avr. 1988.

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2 Annuaire

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2.1 Constructeurs – Fournisseurs – Distributeurs (liste non exhaustive)

BAL-TEC AG http://www.bal-tec.com

DIATOME Ltd. http://www.diatome.ch

Electron microscopy sciences http://www.emsdiasum.com/

Energy beam sciences Inc....

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