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RÉSUMÉ
La texture cristallographique est la statistique des orientations des cristallites d’un polycristal. Cet article présente les méthodes traditionnelles de détermination de la texture par inversion de figures de pôles, qui sont les distributions de directions cristallographiques particulières, ainsi que les méthodes plus récentes de Rietveld utilisant le spectre de diffraction complet (analyse combinée). L’article présente aussi les techniques de diffraction, notamment de neutrons et rayonnement synchrotron qui permettent en outre de réaliser in situ une cartographie 3D des orientations, avec une excellente résolution angulaire et spatiale au cours de la déformation ou de la recristallisation.
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Crystallographic texture is the statistics of the orientations of the crystallites of a polycrystal. This article presents the traditional methods of texture determination by inversion of pole figures, which are the distributions of particular crystallographic directions, as well as the more recent Rietveld methods using the complete diffraction spectrum (Combined Analysis). The article also presents diffraction techniques, notably neutron and synchrotron radiation, which allow in situ 3D mapping of orientations, with excellent angular and spatial resolution during deformation or recrystallization.
Auteur(s)
-
Claude ESLING : Professeur émérite de l’Université de Lorraine, Metz, France
-
Robert SCHWARZER : Professeur retraité de l’Université de Clausthal, Allemagne
INTRODUCTION
La plupart des matériaux utilisés technologiquement ont une structure polycristalline. Leurs propriétés dépendent à la fois de la structure de l’agrégat polycristallin et des propriétés des cristaux qui le constituent. Les propriétés des cristaux sont essentiellement données par le choix des matériaux. La structure de l’agrégat, et donc son influence sur les propriétés des matériaux obtenus, dépend cependant du traitement subi par les matériaux. À cause de l’anisotropie des propriétés cristallines, la statistique de l’orientation des cristallites individuelles et les corrélations de paires de ces orientations (fonctions de corrélation) jouent un rôle prédominant parmi les paramètres d’agrégat du matériau polycristallin. La texture et les grandeurs qui y sont reliées constituent donc d’importants paramètres structuraux à deux points de vue :
-
ils influencent les propriétés des matériaux ;
-
ils évoluent lors du traitement des matériaux.
Les distributions des orientations des cristallites et des corrélations de paires d’orientations peuvent être décrites quantitativement par des modèles mathématiques.
Des normes technologiques définissent les marges de variation maximale autorisées pour les propriétés des matériaux. Ces marges sont d’autant plus étroites que la qualité des matériaux s’accroît ; elles sont particulièrement étroites pour les matériaux dits de haute technologie. Pour cette raison, les propriétés de base des matériaux, telles que leur composition et leur pureté, doivent être contrôlées. Dès que l’incertitude sur les propriétés est inférieure à l’incertitude due à l’anisotropie cristallographique, la texture et les grandeurs qui y sont reliées deviennent les paramètres structuraux dominants ; le contrôle des grandeurs de base étant constamment amélioré, cela s’appliquera tôt ou tard à tous les matériaux polycristallins. En métallurgie, on effectue depuis longtemps des études et des contrôles de texture, mais cela est moins courant pour d’autres types de matériaux, pour deux raisons essentielles :
-
les normes technologiques n’exigent pas vraiment de contrôle des textures dans le domaine des matériaux non métalliques ;
-
les matériaux non métalliques ont des structures cristallines plus complexes, si bien que les analyses de texture de ces matériaux sont plus difficiles, voire quasi impossibles, à réaliser au moyen des techniques conventionnelles.
Ces deux points évoluent constamment, si bien que les études et les contrôles de texture deviennent importants pour tous les matériaux technologiques. Cet article donne la définition des textures et des grandeurs qui y sont reliées, et présente la détermination expérimentale des textures par diffraction des rayons X, par rayonnement synchrotron et par diffraction de neutrons.
MOTS-CLÉS
Texture cristallographique Fonction de densité des orientations Figure de pôles directe Figure de pôles inverse Diffraction de rayons X Méthode des harmoniques sphériques, ou méthode de Bunge Analyse combinée ATEX© - Outils d’analyse pour la diffraction d’électrons et de rayons X
KEYWORDS
Crystallographic texture | Orientation density function | Direct pole figure | Inverse pole figure | X-ray diffraction | Spherical harmonics method, or Bunge method | Combined analysis | ATEX© - Analysis Tools for Electron and X-ray diffraction
DOI (Digital Object Identifier)
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4. Glossaire
Agrégat polycristallin ; polycrystalline aggregate
Solide polycristallin constitué de cristallites individuelles monocristallines, séparées les unes des autres par des joints de grains.
Caractère Σ du joint de grains ; Σ character of grain boundaries
Volume de maille unitaire du réseau de coïncidence en unités de volume de la maille élémentaires des cristaux.
Dislocations géométriquement nécessaires ; geometrically necessary dislocations GND
Contrairement aux dislocations statistiques, distribuées de façon aléatoire, les dislocations géométriquement nécessaires GND sont agencées de façon constructive pour réaliser la déformation plastique locale du cristal.
Figures de pôles directes Phi (y) ; direct pole figures P hi(y)
Cas particuliers de la fonction axiale A( h, y ) où le vecteur h i est un vecteur fixe de l’espace réciproque, alors que le vecteur y varie continûment dans l’espace direct.
Figures de pôles inverses Ryi (h) ; inverse pole figures R yi(h)
Cas particuliers de la fonction axiale A( h, y ) où le vecteur yi est un vecteur fixe de l’espace direct alors que le vecteur h varie continûment dans l’espace réciproque.
Fonction de densité axiale A(h, y) ; axial density function A(h, y)
Densité des coïncidences des directions cristallines h avec les directions d’échantillon y, telles que DN, DL, DT pour un échantillon de tôle laminée.
Harmoniques sphériques généralisées, symétriques
;
generalized symmetric spherical harmonics
Fonctions définies sur le groupe des rotations SO(3), respectivement la sphère SO(2), et invariantes par les symétries des cristaux (double point) et de l’échantillon (point simple).
Joint de grains ;...
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Glossaire
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - BUNGE (H.-J.) - Texture analysis in material science – Mathematical methods. - Butterworth & Co, London (1982).
-
(2) - BUNGE (H.J.), ESLING (C.) - Quantitative texture analysis. - DGM Informationsges. mbH, Oberursel (1982).
-
(3) - ESLING (C.) - Effets des symétries des cristaux, des échantillons et de la diffraction sur la définition et la détermination de la fonction de texture. - Thèse de Doctorat d’État, Université de Metz (1981).
-
(4) - BUNGE (H.J.), SCHWARZER (R.A.) - Orientation stereology – a new branch in texture research. - Advanced engineering materials, 3, p. 25-39 (2001).
-
(5) - MATTHIES (S.) et al - On the representation of orientation distributions in texture analysis by σ-Sections. I. General properties of σ-sections. - Phys. Status Solidi B, Basic Res., 157, p. 71-83 (1990).
-
...
DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES
ANNEXES
DGM : Deutsche Gesellschaft für Materialkunde https://dgm.de/de/home
FACHAUSSCHUSS Texturen https://dgm.de/de/netzwerk/fach-gemeinschaftsausschuesse/texturen
SF2M : Société française de métallurgie et de matériaux https://sf2m.fr/
Commission thématique texture et anisotropie SF2M/DGM https://sf2m.fr/commissions-thematiques/commission-texture-anisotropie/
HAUT DE PAGE
Les fabricants d’équipements EBSD fournissent des logiciels sophistiqués et conviviaux pour la mesure et l’analyse quantitative de la texture. En outre, des progiciels et des boîtes à outils sont disponibles auprès de :
ATEX http://www.atex-software.eu/
AstroEBSD https://github.com/benjaminbritton/AstroEBSD
BEARTEX2020 http://eps.berkeley.edu/~wenk/TexturePage/beartex.htm
CrossCourt4 http://www.hrebsd.com/wp/
EBSD-Image https://github.com/ppinard/ebsd-image
(archive avec source...
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