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Auteur(s)
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Thomas SKOTNICKI : Docteur en microélectronique - Ingénieur de recherche à France Télécom - Centre national d’études des télécommunications (CNET) de Grenoble - Ingénieur ST Microelectronics
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Le transistor MOS est, de loin, le dispositif le plus répandu dans la production actuelle de composants semi-conducteurs, car il est le composant de base de la technologie CMOS (Complementary MOS), qui, à elle seule, englobe plus de 70 % de la production mondiale de circuits intégrés.
Plusieurs sigles plus ou moins justifiés sont utilisés dans la littérature pour décrire le transistor MOS (Metal Oxide Semiconductor) : MOSFET (MOS Field Effect Transistor), IGFET (Insulated Gate Field Effect Transistor) et MOST (Metal Oxide Semiconductor Transistor).
Le transistor MOSFET se caractérise par le fait que la grille, par l’effet de champ électrique, contrôle à travers l’oxyde de grille la densité de porteurs dans le canal du dispositif et ainsi l’intensité du courant dans le canal. Le canal est relié de part et d’autre à deux régions fortement dopées entre lesquelles est appliquée une tension donnant lieu à la circulation du courant. Ce transistor n’est qu’un élément d’une famille plus vaste de composants dits FET (Field Effect Transistor) utilisant l’effet de champ pour moduler l’intensité du courant dans un canal. En fait, on distingue trois groupes dans la famille des FET :
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le IGFET, dont l’effet de champ provient d’une grille isolée du canal par un diélectrique mince ; actuellement, le diélectrique utilisé presque exclusivement, est l’oxyde SiO2 d’où la dénomination MOSFET ; cependant il faut remarquer que d’autres diélectriques, comme Si3N4, un empilement SiO2/Si3N4 ou un empilement SiO2/Ta2O5, peuvent aussi être utilisés ;
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le JFET (Junction FET), dont l’effet de champ provient d’une jonction PN polarisée en inverse ; si la région P est la grille, elle module l’épaisseur du canal (région N) et, ainsi, son courant par l’extension de la zone de charge d’espace sous l’effet de la polarisation inverse de la jonction ;
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le MESFET (Metal Semiconductor FET), dont l’effet de champ provient d’une jonction Schottky (métal-semi-conducteur) polarisée en inverse, le fonctionnement de la grille métallique étant analogue à celui de la grille du JFET.
Dans cet article concernant le transistor MOS (IGFET ou MOSFET), nous aborderons son fonctionnement ainsi que la technologie de fabrication. Le fonctionnement est décrit suivant trois niveaux de difficulté :
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un niveau qualitatif, permettant d’acquérir une bonne intuition du principe de fonctionnement du transistor ;
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un niveau « modèle simplifié », permettant de décrire le fonctionnement d’un transistor idéal ;
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un niveau « modèle complet », permettant de comprendre tous les effets parasites, ainsi que ceux dits secondaires, et d’analyser leur impact sur les caractéristiques du transistor.
La partie technologique montre l’intérêt de tous les éléments de l’architecture du transistor et de leurs modes de réalisation technologique. Différentes architectures de transistors (par exemple, à canal surfacique, à canal enterré, à canal à hétérostructure, etc.) sont détaillées, ainsi que l’assemblage d’une technologie complète.
Le fonctionnement et l’architecture des principaux types de circuits CMOS logiques, ainsi que les problèmes relatifs à l’intégration des circuits sur une puce de silicium sont présentés dans l’article Circuits intégrés CMOS sur silicium
Voir en fin d’article les tableaux Abréviations et Notations et symboles.
VERSIONS
- Version archivée 1 de sept. 1987 par René MICOLET
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2. Fonctionnement du transistor idéal
Avant d’aborder le modèle mathématique d’un transistor MOS, nous allons développer la notion de tension de seuil (Vth threshold voltage) ; c’est une des notions les plus fondamentales pour un TMOS, car elle gouverne la mise en conduction du transistor (parfois, Vth est aussi appelé tension de mise en conduction).
Ensuite, nous expliquerons le principe physique de la modélisation du TMOS en se basant sur la loi d’Ohm. Cela nous conduira aisément au modèle mathématique.
Dans ce paragraphe, nous prendrons pour exemple un transistor NMOS, mais les mêmes raisonnements et les mêmes équations (au changement de signe près) peuvent s’appliquer aux dispositifs PMOS.
2.1 Tension de seuil
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Examinons ce qui se passe à l’interface Si–SiO2 (figure 6) lorsque le potentiel de grille VG croît, les autres potentiels étant nuls, sauf celui du drain, qui est tout de même suffisamment faible pour que l’on puisse considérer le canal comme équipotentiel.
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Un potentiel VG suffisamment négatif conduit à un appel de trous en surface, laquelle est alors en accumulation.
Le potentiel de surface Vcan (canal) est inférieur au potentiel de la source, constituant ainsi une barrière pour les électrons. Cette barrière est le seuil de conduction de la jonction N+P (source-canal). Autrement dit, la jonction est polarisée en inverse ; aucun courant ne peut passer : le transistor est bloqué.
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Lorsque le potentiel de grille augmente, les trous sont progressivement repoussés de la surface, jusqu’à la création d’une zone subsurfacique ne comportant plus que des charges fixes négatives (atomes accepteurs ionisés) d’une densité surfacique Qdep. La surface est en déplétion.
Notons que le potentiel de surface sera déjà légèrement accru, car la tension entre la grille et le substrat se répartit entre la chute du potentiel dans le diélectrique (Vox) et la chute à travers la zone de déplétion (Vcan)....
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Fonctionnement du transistor idéal
BIBLIOGRAPHIE
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(1) - CAND (M.), DEMOULIN (J.-L.), LARDY, SENN (P.) - Conception des circuits intégrés MOS, - Éditions Eyrolles et CNET-ENST, 1986.
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(2) - ARRORA (N.) - MOSFET Models for VLSI Circuit Simulation. - Springer Verlag 1993.
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(3) - COLINGE (J.-P.), VAN DE WIELE (F.) - Physique des dispositifs semi-conducteurs. - De Bœck-Wesmael, 1996.
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(4) - SZE (S.-M.) - Physics of semiconductor devices, - J. Wiley & Sons, 1981.
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(5) - GROVE (A.-S.) - Physics and technology of semiconductor devices, - J. Wiley & Sons, 1967.
-
(6) - SKOTNICKI (T.), MERCKEL (G.), PEDRON (T.) - A new punchthrough current model based on the Voltage-Doping Transformation. - IEEE Transaction on Electron Devices, pp. 1076-1086, July 1988.
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