1 - CONTEXTE

2 - INGÉNIERIE DE DISPERSION : PRINCIPES

• 2.1 - Structures artificielles diélectriques
  Figure 1 - Détermination des paramètres d’indices en fonction des structurations latérales et transverses d’un cristal photonique bidimensionnel inscrit dans une hétérostructure semi-conductrice Figure 2 - Contrôle de la dispersion dans les cristaux photoniques bidimensionnels : autocollimation et ultra-réfraction
• 2.2 - Contrôle de la dispersion en infrarouge : prototypage
  Figure 3 - Focalisation par contrôle de la dispersion dans les cristaux photoniques, du concept au prototype : a) lentille plate à réfraction négative (n = − 1) b) lentille à gradient d’indice Figure 4 - Tapis d’invisibilité à deux dimensions : du concept au prototype Figure 5 - Procédé technologique de fabrication des réseaux de piliers et/ou de trous sur substrat épais a) vue de coté – et photographies au microscope électronique à balayage (MEB) de prototypes b) vue de dessus
• 2.3 - Mises en évidence expérimentales
  Figure 6 - Mises en évidence expérimentale de l’ingénierie de dispersion dans les cristaux photoniques à 1,55 µm : (a) lentilles plates en régime de réfraction négative (n = − 1 – avec et sans adaptation d’impédance), (b) lentilles plates à gradient d’indice (réseau de piliers et réseau de trous), (c) tapis d’invisibilité
• 2.4 - D’autres voies

3 - VERS LA DÉTECTION ET L’IMAGERIE INFRAROUGE

• 3.1 - Principe d’un détecteur et/ou imageur à base de lentilles à cristaux photoniques
  Figure 7 - Schéma de principe d’un détecteur et/ou imageur infrarouge en réflexion utilisant une lentille plate à réfraction négative : (a) principe général (b) vers un prototype : intégration avec son environnement
• 3.2 - De la nanophotonique intégrée à la nanofluidique
• 3.3 - Approches numériques
  Figure 8 - Illustration de la détection de cibles diélectriques (a) et de la reconstruction d’images de cibles métalliques (b) par le dispositif en réflexion décrit dans la figure 7

4 - CONCLUSIONS ET PERSPECTIVES