L’imagerie à bas niveau de lumière porte sur le domaine de la vision nocturne et s’est étendu aux domaines de l’acquisition vidéo numérique dans des conditions d’éclairement très faibles. Depuis les années 2000, de nouvelles technologies émergent avec l'accès à des détecteurs matriciels sensibles depuis le proche Ultra-Violet à 0,3 µm jusque dans l’Infra-Rouge à 2,5 µm. Cet article requiert un retour aux fondamentaux sur ce large domaine spectral, en particulier, sur les sources et sur les albédos des objets entrant dans la constitution du contraste des images dans les conditions d’éclairement de nuit rencontrées sur Terre ou dans les conditions de très faibles flux photoniques
La microscopie électronique à balayage est un outil puissant d'observation des surfaces. Les images de MEB peuvent être facilement associées à des microanalyses et cartographies élémentaires obtenues par spectrométrie des rayons X et diffraction des électrons, par exemple. Elles se prêtent facilement à la numérisation et au traitement des images. Cet article présente les différents contrastes observés en microscopie électronique à balayage. La formation des images et les sources de contrastes sont explicitées. De nouveaux domaines d'application liés à de nouveaux développements apparaissent avec cette technologie.
Cet article traite de la microscopie en champ proche ou à sonde locale. Ce type de microscopie est basé sur la détection d'une propriété physique en surface (tel un courant électrique, une force, des photons) à l'échelle locale. Son principe est très différent de celui des microscopes classiques, une pointe vient sonder les informations à l’extrême surface de l'échantillon. La technique a considérablement évolué depuis l'avènement des nanotechnologies et elle apporte maintenant de nombreuses réponses sur les propriétés des matériaux à l'échelle de la molécule ou de l'atome.
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