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Auteur(s)
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Jean-Michel MERMET : Ingénieur de l'École nationale supérieure de chimie de Strasbourg - Docteur ès sciences - Consultant - Spectroscopy Forever
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Lire l’articleINTRODUCTION
De nombreuses méthodes d'analyse élémentaire sont fondées sur l'utilisation de spectres de raies atomiques. On peut citer la spectrométrie d'émission atomique avec comme sources de rayonnement possibles la flamme, l'arc, l'étincelle, la décharge luminescente et les plasmas, en particulier les Plasmas à Couplage Inductif ou ICP, et les plasmas produits par laser ou LIBS (Laser-Induced Breakdown Spectrometry), la spectrométrie d'absorption atomique avec comme sources d'atomisation la flamme et le four, et la spectrométrie de fluorescence atomique. Les spectres de raies atomiques sont liés à la production ou à l'absorption de photons. Les photons peuvent être facilement transportés sur de longues distances, et leur collecte est facile, et cela en utilisant une optique très simple, miroir ou lentille. Les photons n'ont pas de masse, ce qui signifie qu'ils ne produiront pas d'effets de mémoire ou de phénomènes d'implantation, par exemple au niveau du détecteur. Pour pouvoir identifier les raies émises et mesurer leur intensité, il est nécessaire de pouvoir quantifier le nombre de photons mis en jeu. C'est le rôle du détecteur de pouvoir transformer les photons en un signal, généralement électrique, signal qui pourra ensuite être amplifié, traité et utilisé dans les logiciels des systèmes. Les différents détecteurs de photons actuellement utilisés en spectrométrie atomique analytique seront décrits dans cet article.
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- Version archivée 1 de avr. 1981 par Robert GOUTTE, Claude LESUEUR
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BIBLIOGRAPHIE
-
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(4) - FURUTA (N.), McLEOD (C.W.), HARAGUCHI (H.), FUWA (K.) - Evaluation of a silicon-intensified target image detector for inductively coupled plasma emission spectrometer. - Appl. Spectrosc., 34, p. 211 (1980).
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(5) - KARANASSIOS (V.), HORLICK (G.) - Spectral characteristics of a new spectrometer designed for atomic emission spectrometry. - Appl. Spectrosc., 40, p. 813 (1986).
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