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1 - INTRODUCTION AUX MATÉRIAUX ET DOMAINES FERROÉLECTRIQUES

2 - APERÇU DES TECHNIQUES DE DÉTECTION DES DOMAINES FERROÉLECTRIQUES

3 - PRINCIPE GÉNÉRAL DE LA MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE EN MODE CONTACT

4 - CARTOGRAPHIE DE LA POLARISATION FERROÉLECTRIQUE PAR PFM

5 - CONCLUSION

6 - GLOSSAIRE

Article de référence | Réf : R6719 v1

Glossaire
Détection et contrôle de la ferroélectricité à l’échelle nanométrique

Auteur(s) : Brice GAUTIER, David ALBERTINI

Relu et validé le 22 déc. 2023

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RÉSUMÉ

Cet article présente les techniques capables de détecter et de modifier la polarisation ferroélectrique à l’échelle nanométrique dans les matériaux monocristallins ou déposés en couches minces, en mettant l’accent sur l’une d’entre elles : la microscopie de force piézoélectrique (PFM), dérivée de la microscopie à force atomique (AFM). La technique y est décrite en détails : ses différents modes opératoires, ses forces et ses faiblesses, ainsi que les
artefacts qui peuvent compliquer l’interprétation des données. Des conseils de bonnes pratiques sont donnés afin de permettre aux utilisateurs non spécialistes de tirer le meilleur parti de ce type de microscopie.

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Auteur(s)

  • Brice GAUTIER : Professeur des universités - Institut des nanotechnologies de Lyon

  • David ALBERTINI : Ingénieur de recherche CNRS - Institut des nanotechnologies de Lyon

INTRODUCTION

La ferroélectricité désigne la propriété de certains matériaux de posséder une polarisation diélectrique permanente qui peut être basculée entre deux états stables par l’application d’un champ électrique extérieur. Les matériaux ferroélectriques peuvent s’organiser spontanément en domaines, c’est-à-dire en régions de polarisation uniforme. Il est également possible de créer les domaines artificiellement par l’application d’un champ électrique suffisamment important le long duquel la polarisation s’alignera. La frontière qui sépare deux domaines de polarisation différente est extrêmement fine : son épaisseur est de l’ordre du plan atomique. Les matériaux ferroélectriques sont donc des candidats très sérieux pour la réalisation de dispositifs de stockage de l’information, comme les mémoires RAM non volatiles, mais ils trouvent également des applications dans le domaine des capteurs (température, pression…), de l’optique non linéaire ou de l’électronique.

Dans ce contexte, il est crucial d’être en mesure de réaliser une cartographie de la polarisation ferroélectrique avec une résolution spatiale compatible avec les applications visées, c’est-à-dire l’échelle du nanomètre.

Cet article est consacré à la description de la technique la plus utilisée pour détecter et modifier localement la polarisation ferroélectrique avec une résolution nanométrique. Appelée « Piezoresponse Force Microscopy », elle dérive de la famille plus large des microscopies à force atomique et se fonde sur la mesure de la vibration due à l’effet piézoélectrique inverse, sous l’action d’une tension électrique imposée entre l’électrode inférieure de l’échantillon et la pointe du microscope (qui représente une électrode de taille nanométrique). Elle permet d’obtenir une cartographie de la composante verticale ou latérale de la polarisation, mais aussi de réaliser des cycles d’hystérésis locaux en arrêtant la pointe au-dessus d’une zone déterminée, et de modifier localement l’état de polarisation en appliquant des tensions continues positives ou négatives entre pointe et échantillon. Cette technique est décrite en détails ainsi que la théorie qui permet d’en comprendre le fonctionnement de manière complète. Les différents modes opératoires sont présentés. Les artefacts possibles sont également décrits et explicités, à l’exemple de l’interaction électrostatique et de la conduction ionique qui peuvent générer des signaux parasites et fausser l’interprétation des données obtenues par la technique. Des conseils de bonnes pratiques sont donnés pour tirer le meilleur parti de la méthode et éviter la sur-interprétation des résultats qu’elle fournit.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-r6719


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6. Glossaire

AFM ( Atomic Force Microscopy)

La microscopie à force atomique est une technique de microscopie basée sur l’utilisation d’une pointe solidaire d’un levier, approchée au contact ou à une très faible distance (quelques nanomètres) de la surface à étudier. Le contrôle de le déflexion du levier permet de réaliser une cartographie de la topographie avec une résolution spatiale nanométrique.

DFRT (Dual Frequency Resonance Tracking)

Le mode DFRT permet de décaler la fréquence d’excitation électrique de l’échantillon piézoélectrique de manière que la distance entre la fréquence d’excitation et la fréquence de résonance du système reste constante.

C-AFM (Conductive AFM)

Le mode C-AFM permet d’opérer une mesure de courant en appliquant une tension entre la pointe de l’AFM et l’échantillon. Plusieurs gammes de mesure sont possibles jusqu’à des valeurs aussi basses que quelques dizaines de femtoampères.

Détection synchrone ; Lock-in amplifier

Une détection synchrone permet de détecter un signal périodique même lorsqu’il est très faible ou noyé dans un bruit important. La détection synchrone fonctionne donc comme un filtre passe-bande très puissant. Elle est particulièrement performante quand le signal à détecter est de fréquence connue, par exemple le signal piézoélectrique généré par une tension de fréquence déterminée par un générateur de tension.

Cycle d’hystérésis ; Hysteresis loop

Un cycle d’hystérésis est caractéristique des matériaux ferroïques dans lesquels un stimulus S provoque le changement d’une variable d’état P. La courbe P(S) est fortement non linéaire et ne passe pas par le même chemin pour des valeurs de S croissantes ou décroissantes : P(S) décrit un cycle d’hystérésis.

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - VALASEK (J.) -   Piezo-Electric and Allied Phenomena in Rochelle Salt.  -  In: Phys. Rev., 17, p. 475-481, DOI : 10.1103/PhysRev.17.475 (4 avr. 1921).

  • (2) - WHATMORE (W.R.) et al -   Rapid reconstruction of a strong nonlinear property by a multiple lock-in technique.  -  In: Physical Review B, 85, p. 165426, DOI : 10.1063/ 5.0059208 (2012).

  • (3) - KAWAI (S.) et al -   100 years of ferroelectricity : a celebration.  -  In: Appl. Phys. Lett. Materials, 9, p. 070401, DOI : 10.1103/PhysRevB.85.165426 (2021).

  • (4) - SCOTT (J.), PAZ DE ARAUJO (C.A.) -   Ferroelectric memories.  -  In: Science, 246.4936, p. 1400-1405, DOI : {10.1116/1.589143} (1989).

  • (5) - BALLANDRAS (S.) et al -   A novel surface wave transducer based on periodically poled piezoelectric domain.  -  In: IEEE International Frequency Control Symposium and PDA Exhibition Jointly with the 17th European Frequency and Time Forum, 2003. Proceedings of the 2003, p. 893-896, DOI : 10.1109/FREQ.2003.1275208 (2003).

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