Présentation
Auteur(s)
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Norbert BROLL : Docteur ès Sciences - Directeur du laboratoire d’analyse de matériaux de la société FORTEX - Chargé d’enseignement et de recherche à l’École Nationale Supérieure des Arts et Industries de Strasbourg
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Lire l’articleINTRODUCTION
Lanalyse non destructive d’échantillons cristallisés par diffraction des rayons X est une méthode puissante pour résoudre de nombreux problèmes industriels et technologiques. Au début, cette technique était surtout utilisée pour déterminer, à partir d’échantillons monocristallins, les structures des cristaux. Par la suite, d’autres applications concernant la caractérisation des matériaux polycristallins ont été développées.
Parmi les appareils utilisés actuellement, c’est certainement le diffractomètre pour poudres qui est le plus courant dans les laboratoires industriels et universitaires.
VERSIONS
- Version archivée 1 de oct. 1983 par Christian LAHANIER, Paul PARNIÈRE, Gérard MAEDER
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1. Principe de la diffraction des poudres
Le lecteur pourra également se reporter aux articles [1] [2] [3] [4] des Techniques de l’Ingénieur, les trois premiers traitant de la caractérisation par rayons X.
Historiquement, après la découverte des rayons X par Röntgen en 1895, ce n’est qu’en 1912 que Laue eut l’idée d’utiliser un cristal comme réseau de diffraction. La longueur d’onde des rayons X étant du même ordre de grandeur que les distances entre atomes dans la matière, de l’ordre de l’angström (0,1 nm), des figures ou taches de diffraction ont ainsi été observées, confirmant la structure périodique des milieux cristallisés.
Les premières structures cristallines simples ont été déterminées par W.H. et W.L. Bragg en 1913.
1.1 Théorie de la diffraction des rayons X
L’interaction d’un faisceau de rayons X avec la matière donne naissance à une émission dans toutes les directions d’un rayonnement de même longueur d’onde et de phase cohérente. Ce phénomène de diffusion conduit à des ondes d’amplitude très faible dans le cas de la diffusion par un électron ou un atome. En revanche, la diffusion par la matière, c’est-à-dire un ensemble d’atomes, entraîne une interférence des ondes cohérentes diffusées par chaque atome. Cette onde, dite diffractée, dépend de la structure atomique de la matière. Les directions pour lesquelles les ondes émises sont en phase sont régies par les conditions de Laue.
HAUT DE PAGE1.2 Direction...
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BIBLIOGRAPHIE
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(1) - GUINIER (A.) - Théorie et technique de la radiocristallographie. - 1956 Dunod, Paris.
-
(2) - CULLITY (B.D.) - Elements of X-Ray diffraction. - 1956 Addison-Wesley Publishing Company, Inc.
-
(3) - NEFF (H.) - Grundlagen und Auswertung des Rönt-gen-Feinstruktur-Analyse. - 1962 Oldenburg, München.
-
(4) - WILSON (A.J.C.) - Mathematical theory of X-Ray powder diffractometry. - 1963 Philips Technical Library, Eindhoven.
-
(5) - NUFFIELD (E.W.) - X-Ray diffraction methods. - 1966 John Wiley and Sons, New York.
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(6) - KAELBLE (E.F.) - Handbook of X-Rays. - 1967 McGraw-Hill Book Company, New York.
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