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Article

1 - GÉNÉRALITÉS

2 - INTERFÉROMÉTRIE DE SPECKLE : MESURE DES DÉPLACEMENTS DANS LE PLAN

3 - INTERFÉROMÉTRIE DE SPECKLE À DÉDOUBLEMENT LATÉRAL OU « SHEAROGRAPHIE »

4 - INTERFÉROMÉTRIE DE SPECKLE ÉLECTRONIQUE OU « TV-HOLOGRAPHIE »

Article de référence | Réf : R6331 v1

Généralités
Interférométrie de speckle

Auteur(s) : Paul SMIGIELSKI

Date de publication : 10 mars 2001

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  • Paul SMIGIELSKI : Docteur ès sciences - Ingénieur de l’École supérieure d’optique (ESO) - Conseiller scientifique des directeurs de l’Institut franco-allemand de recherches - Fondateur d’HOLO 3 - Professeur conventionné à l’École nationale supérieure de physique de Strasbourg (ENSPS)Université Louis-Pasteur de Strasbourg

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INTRODUCTION

Cette technique a été inventée dans les années 1970 pour pallier les insuffisances de l’holographie dans le domaine de l’interférométrie en ce qui concerne le milieu d’enregistrement (en général des plaques et films argen-tiques puis des films thermoplastiques). Contrairement à l’interférométrie holographique classique, l’interférométrie de speckle permet l’utilisation de caméras CCD pour calculer et visualiser le champ des déplacements d’un objet diffusant. Elle s’est notamment développée en Grande-Bretagne avec A.E. Ennos, J.A. Leendertz, J.N. Butters, J.M. Burch et E. Arnold (cf. références bibliographiques). Elle est très adaptée aux applications industrielles (appareils plus compacts et facilement transportables, coûts plus faibles, traitement numérique des données en temps quasi réel ...) et s’est donc beaucoup développée ces dernières années au point de remplacer progressivement les systèmes de contrôles non destructifs holographiques existant dans les grandes sociétés notamment, et cela malgré des performances qui sont loin d’égaler celles de l’interférométrie holographique comme la résolution spatiale, la taille de l’objet analysé et la possibilité d’avoir une image 3D de cet objet, par exemple.

Les caméras CCD ont une résolution faible (6 µm au mieux aujourd’hui) comparée à celle des plaques photographiques argentiques (une fraction de µm). Les franges d’interférence créées, comme en holographie, par la superposition de deux ondes cohérentes entre elles devront pouvoir être lues par la caméra électronique, ce qui impose un angle voisin de zéro entre les ondes et une exploitation de l’information différente de l’holographie. Car, en fait, on va exploiter numériquement directement les franges d’interférence alors qu’en holographie on utilise ces franges d’interférence enregistrées sur plaque ou film photographique pour restituer analogiquement l’onde objet.

Dans les deux cas, on effectuera des enregistrements pour au moins deux états différents de l’objet (à 2 instants différents) pour accéder à la mesure des déplacements subis par l’objet entre ces deux états. En interférométrie de speckle, on fera donc l’exploitation numérique des 2 systèmes de franges pour remonter aux déplacements. En interférométrie holographique, les ondes restituées correspondant aux 2 états de l’objet créent un système de franges d’interférence sur l’image lumineuse 3D de l’objet, franges qui caractérisent le champ des déplacements. Ce sont ces franges qu’il faudra exploiter numériquement pour remonter aux déplacements.

Cet article donne les bases de diverses techniques d’interférométrie de speckle utilisées actuellement dans l’industrie et montre précisément quelques exemples typiques d’applications.

Cet article est tiré pour l’essentiel de la référence [7]. Pour d’autres renseignements sur l’holographie de speckle, le lecteur pourra consulter les références [2] à [6].

Pour tous renseignements concernant l’interférométrie holographique classique, on se reportera à l’article Holographie optique Interférométrie holographique de cette même rubrique, référence [9], première partie de cette étude sur l’holographie interférométrique.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-r6331


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1. Généralités

1.1 Granularité laser ou speckle

On a vu dans l’article Holographie optique Interférométrie holographique, paragraphe 1.2.4 de cette rubrique , qu’un objet diffusant éclairé en lumière cohérente générait un système d’interférences complexe dans l’espace appelé speckle en anglais (littéralement « moucheture, tache ») ou granularité laser en français (figure 1). Le mot speckle étant communément admis par les milieux scientifiques internationaux, nous l’utiliserons.

Le speckle se manifeste dès que la surface de l’objet diffusant, éclairé par une source de lumière cohérente, présente un relief microscopique donnant, vu du point d’observation, des variations de chemin optique supérieures à la longueur d’onde de la lumière.

Ainsi une surface polie optiquement ne donnera pas de speckle.

En un point de l’espace H, situé à une distance D de l’objet (figure 1), on a la superposition cohérente des ondes provenant des divers éléments de la surface rugueuse. On suppose que la longueur de cohérence de la source laser est plus grande que les variations du chemin optique (SMH). Les déphasages introduits par la rugosité de la surface sont aléatoires, ce qui explique l’allure de la figure de speckle (figure 2) composée de « grains » dont les dimensions latérales moyennes sont de l’ordre de :

s = λD / ∅D
...

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - JACQUOT (P.) -   Photographie de speckles : exemples tirés de l’analyse de déformation de corps solides  -  . Cours de l’Association Vaudoise des Chercheurs en Physique VCP, Lasers et Applications Industrielles. Presses Polytechniques Romandes (1982).

  • (2) - ARCHBOLD (E.), BURCH (J.M.), ENNOS (A.E.) -   Recording of in-plane surface displacement by double exposure speckle photography  -  . Optica Acta 17, p. 883 (1970).

  • (3) - LEENDERTZ (J.A.) -   Interferometric displacement measurement on scattering surfaces utilizing speckle effect  -  . J. Phys. E : Sci. Inst. 3, p. 214, (1970).

  • (4) - BUTTERS (J.N.), LEENDERTZ (J.A.) -   A double exposure technique for speckle pattern interferometry  -  . J. Phys. E : Sci. Inst. 4, p. 277 (1971).

  • (5) - LEENDERTZ (J.A), BUTTERS (J.N) -   An image-shearing speckle-pattern interferometer for measuring bending moments  -  . J. Phys. E : 6, p. 1107 (1973).

  • ...

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