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Paul SMIGIELSKI : Docteur ès sciences - Ingénieur de l’École supérieure d’optique (ESO) - Conseiller scientifique des directeurs de l’Institut franco-allemand de recherches - Fondateur d’HOLO 3 - Professeur conventionné à l’École nationale supérieure de physique de Strasbourg (ENSPS)Université Louis-Pasteur de Strasbourg
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Cette technique a été inventée dans les années 1970 pour pallier les insuffisances de l’holographie dans le domaine de l’interférométrie en ce qui concerne le milieu d’enregistrement (en général des plaques et films argen-tiques puis des films thermoplastiques). Contrairement à l’interférométrie holographique classique, l’interférométrie de speckle permet l’utilisation de caméras CCD pour calculer et visualiser le champ des déplacements d’un objet diffusant. Elle s’est notamment développée en Grande-Bretagne avec A.E. Ennos, J.A. Leendertz, J.N. Butters, J.M. Burch et E. Arnold (cf. références bibliographiques). Elle est très adaptée aux applications industrielles (appareils plus compacts et facilement transportables, coûts plus faibles, traitement numérique des données en temps quasi réel ...) et s’est donc beaucoup développée ces dernières années au point de remplacer progressivement les systèmes de contrôles non destructifs holographiques existant dans les grandes sociétés notamment, et cela malgré des performances qui sont loin d’égaler celles de l’interférométrie holographique comme la résolution spatiale, la taille de l’objet analysé et la possibilité d’avoir une image 3D de cet objet, par exemple.
Les caméras CCD ont une résolution faible (6 µm au mieux aujourd’hui) comparée à celle des plaques photographiques argentiques (une fraction de µm). Les franges d’interférence créées, comme en holographie, par la superposition de deux ondes cohérentes entre elles devront pouvoir être lues par la caméra électronique, ce qui impose un angle voisin de zéro entre les ondes et une exploitation de l’information différente de l’holographie. Car, en fait, on va exploiter numériquement directement les franges d’interférence alors qu’en holographie on utilise ces franges d’interférence enregistrées sur plaque ou film photographique pour restituer analogiquement l’onde objet.
Dans les deux cas, on effectuera des enregistrements pour au moins deux états différents de l’objet (à 2 instants différents) pour accéder à la mesure des déplacements subis par l’objet entre ces deux états. En interférométrie de speckle, on fera donc l’exploitation numérique des 2 systèmes de franges pour remonter aux déplacements. En interférométrie holographique, les ondes restituées correspondant aux 2 états de l’objet créent un système de franges d’interférence sur l’image lumineuse 3D de l’objet, franges qui caractérisent le champ des déplacements. Ce sont ces franges qu’il faudra exploiter numériquement pour remonter aux déplacements.
Cet article donne les bases de diverses techniques d’interférométrie de speckle utilisées actuellement dans l’industrie et montre précisément quelques exemples typiques d’applications.
Cet article est tiré pour l’essentiel de la référence [7]. Pour d’autres renseignements sur l’holographie de speckle, le lecteur pourra consulter les références [2] à [6].
Pour tous renseignements concernant l’interférométrie holographique classique, on se reportera à l’article Holographie optique Interférométrie holographique de cette même rubrique, référence [9], première partie de cette étude sur l’holographie interférométrique.
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3. Interférométrie de speckle à dédoublement latéral ou « shearographie »
3.1 Principe
Le terme shearographie est, comme on l’a déjà dit, un terme commercial qui est passé dans les mœurs. Les Anglo-Saxons utilisent également le terme de speckle shearing interferometry ou des termes voisins. En français, on pourrait dire simplement interférométrie différentielle puisque cette méthode, comme on va le voir, permet de mesurer les dérivées spatiales des déplacements dans une direction donnée.
Le principe de base consiste tout simplement à dédoubler l’image de l’objet à l’aide d’un dispositif optique simple, interféromètre de Michelson ou biprisme, par exemple (figure 9).
Considérons le cas de l’interféromètre de Michelson qui possède l’avantage sur le biprisme de permettre le réglage du dédoublement par orientation du miroir M1.
L’objet est éclairé (pour simplifier) par un faisceau de lumière parallèle provenant de la source laser S et dont l’axe se trouve dans le plan (x, z) (plan de la figure 9). L’observation de l’objet se fait à travers la lame semi-transparente SP1 et à travers un interféromètre de Michelson. Le dédoublement de l’image est donné par une légère rotation ε du miroir M1 de l’interféromètre.
Supposons que cette rotation soit faite autour d’un axe perpendiculaire au plan (x, z ), toujours pour simplifier. Elle donne un décalage latéral δ x de l’image dans la direction x.
Les deux images (figures de speckle) décalées interfèrent dans leur partie commune et donnent une figure de speckle résultante complexe dans laquelle il est difficile de reconnaître les franges rectilignes dont le pas est lié au décalage δ x.
Comme dans le cas précédents, on va comparer la figure de speckle de l’image dédoublée avant et après déformation de l’objet. Les franges obtenues caractérisent, en première...
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BIBLIOGRAPHIE
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(1) - JACQUOT (P.) - Photographie de speckles : exemples tirés de l’analyse de déformation de corps solides - . Cours de l’Association Vaudoise des Chercheurs en Physique VCP, Lasers et Applications Industrielles. Presses Polytechniques Romandes (1982).
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(2) - ARCHBOLD (E.), BURCH (J.M.), ENNOS (A.E.) - Recording of in-plane surface displacement by double exposure speckle photography - . Optica Acta 17, p. 883 (1970).
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(3) - LEENDERTZ (J.A.) - Interferometric displacement measurement on scattering surfaces utilizing speckle effect - . J. Phys. E : Sci. Inst. 3, p. 214, (1970).
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(4) - BUTTERS (J.N.), LEENDERTZ (J.A.) - A double exposure technique for speckle pattern interferometry - . J. Phys. E : Sci. Inst. 4, p. 277 (1971).
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(5) - LEENDERTZ (J.A), BUTTERS (J.N) - An image-shearing speckle-pattern interferometer for measuring bending moments - . J. Phys. E : 6, p. 1107 (1973).
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