Présentation
EnglishRÉSUMÉ
La caractérisation dans un microscope électronique à balayage des défauts cristallins - dislocations, défauts d’empilement, sous-joints de grains - dans un matériau massif a ouvert la voie à des avancées spectaculaires en sciences des matériaux. Cet article présente l’imagerie par contraste de canalisation des électrons, notée ECCI, avec ses limites et ses avantages, les conditions techniques pour son optimisation ainsi que la réalisation des pseudodiagrammes de Kikuchi haute résolution obtenus par précession du faisceau d’électrons pour le contrôle des conditions de canalisation. L’apport de l’ECCI à la science des matériaux est illustré par l’analyse de quelques défauts cristallins.
Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.
Lire l’articleAuteur(s)
-
Nabila MALOUFI : Maître de conférences – HDR - Laboratoire d’Étude des Microstructures et de Mécanique des Matériaux, UMR 7239 CNRS, université de Lorraine, Metz, France
INTRODUCTION
La technique d’imagerie par contraste de canalisation des électrons (en anglais ECCI pour Electron Channelling Contrast Imaging), mise en place dans un microscope électronique à balayage (MEB), permet de révéler des défauts cristallins tels que des dislocations ou des défauts d’empilement proches de la surface d’un échantillon massif. Cette technique est la conséquence directe de l’observation fortuite d’une modulation d’intensité, sous forme de bandes délimitées par des lignes sombres, sur une micrographie collectée sur un monocristal de GaAs et enregistrée sur un détecteur d’électrons rétrodiffusés par Coates en 1967.
Il s’agit en réalité d’un diagramme de canalisation nommé également « pseudodiagramme de Kikuchi » ou « ECP » pour Electron Channelling Pattern. L’extrême sensibilité de ce diagramme à l’orientation du cristal par rapport au faisceau d’électrons incidents constitue à la fois un grand avantage mais également un inconvénient. L’avantage est que cet ECP peut apporter des informations précises sur l’orientation du cristal dans le repère du microscope ou révéler même de très faibles désorientations entre deux cristaux.
Au voisinage de l’incidence de Bragg pour une famille donnée de plans hkl, l’intensité rétrodiffusée par un cristal parfait varie brutalement et passe par un minimum correspondant à la canalisation des électrons quand l’angle d’incidence augmente légèrement. C’est ainsi qu’un cristal imagé sous cette condition d’incidence présentera un rendement en électrons rétrodiffusés minimal. La présence d’un défaut comme une dislocation qui produit en son voisinage une distorsion du réseau va induire une forte variation d’intensité contrastant le défaut. L’ECCI repose sur ce phénomène. Il faut donc disposer au sein d’un microscope à balayage d’un moyen très précis de contrôle de l’orientation du cristal par rapport au faisceau primaire pour pouvoir mener des expériences ECCI. L’ECP dont la résolution spatiale est millimétrique ne peut être réalisé que sur un monocristal. Pour mener ce type d’expérience sur des polycristaux, il faut pouvoir réaliser des ECP sur une zone réduite par précession du faisceau d’électrons (diagrammes nommés « SACP » pour Selected Area Channelling Pattern). Et c’est l’inconvénient majeur de cette technique.
Depuis l’observation de Coates (1967), des solutions ont été proposées pour pallier cette difficulté. Les colonnes électroniques ne cessent d’évoluer et les détecteurs sont plus sensibles. La résolution spatiale des SACP s’est améliorée, ouvrant la voie à des caractérisations ECCI plus précises dans les polycristaux à grains fins, comme cela sera détaillé dans cet article. Parmi les avantages de la technique, la possibilité de procéder à des caractérisations de défauts successives dans différentes zones de l’échantillon massif pour une meilleure statistique comparée à la microscopie électronique en transmission. De même, il est possible de déterminer la nature de sous-joints de grain de faible désorientation ou de révéler des nanomacles. Les derniers développements concernent les essais in situ avec caractérisation fine du matériau avant et après déformation.
L’objectif de cet article est de présenter le principe et la mise en place de la technique ECCI dans un MEB. Pour aller au-delà de la simple observation d’un contraste de défaut par ECCI, i.e. sa caractérisation fine, les conditions de canalisation doivent être bien maîtrisées et, par conséquent, l’ensemble des éléments nécessaires à la conduite d’une expérience ECCI optimale sera détaillé en tenant compte entre autres des caractéristiques techniques des colonnes électroniques actuelles. L’application de l’ECCI en science des matériaux est illustrée par la caractérisation d’une dislocation, d’un dipôle de dislocations, d’un sous-joint de grain de très faible désorientation et de nanomacles grâce au couplage ECCI-EBSD (Electron BackScatter Diffraction). Une dernière application mettra en lumière l’apport de l’ECCI dans la compréhension du comportement viscoplastique d’une céramique.
MOTS-CLÉS
MEB Défauts cristallins Imagerie par contraste de canalisation des électrons (ECCI) Electrons rétrodiffusés (BSE)
DOI (Digital Object Identifier)
CET ARTICLE SE TROUVE ÉGALEMENT DANS :
Accueil > Ressources documentaires > Matériaux > Étude et propriétés des métaux > Essais métallographiques des métaux et alliages > Imagerie par contraste de canalisation des électrons (ECCI) et défauts cristallins > Application à la science des matériaux
Cet article fait partie de l’offre
Techniques d'analyse
(289 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
Présentation
5. Application à la science des matériaux
La caractérisation de la microstructure en particulier des défauts cristallins grâce à l’imagerie par contraste de canalisation des électrons a un apport de plus en plus important en science des matériaux et, avec l’évolution des MEB, ouvre des perspectives intéressantes.
Le dernier cas présenté ici concerne une étude du comportement viscoplastique du dioxyde d'uranium UO2 polycristallin, à l’aide d’essais de fluage en compression à 1 500 °C hors irradiation pour reproduire la situation en réacteur.
Le combustible utilisé dans les réacteurs à eau sous pression est formé de « crayons » constitués d’empilements de pastilles cylindriques d’UO2 enrichi, gainées par un alliage de zirconium ou d’alliage mixte d’uranium et plutonium [BN 3 620]. La faible conductivité thermique de UO2 entraîne un fort gradient de température entre le centre de la pastille et la périphérie lors des transitoires de puissance en réacteur. La partie centrale de la pastille est alors le siège de mécanismes de déformation viscoplastique influençant les processus d'interaction pastille-gaine.
Le potentiel de l’ECCI couplée à l’EBSD trouve ici toute sa place ; ces techniques ont en effet été optimisées pour suivre l’évolution de la microstructure particulière des échantillons qui subissent un endommagement, sous la forme de cavités intergranulaires, associé à la présence de dislocations et une sous-structuration des grains, comme l’illustre la figure 14 ...
Cet article fait partie de l’offre
Techniques d'analyse
(289 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
Application à la science des matériaux
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - COATES (D.G.) - Kikuchi-like reflection patterns obtained with the scanning electron microscope. - Phil. Mag., 16, p. 1179-1184 (1967).
-
(2) - BOOKER (G.R.), SHAW (A.M.B), WHELAN (M.J.), HIRSCH (P.B.) - Some comments on the interpretation of the ‘kikuchi-like reflection patterns’ observed by scanning electron microscopy. - Phil. Mag., 16, p. 1185-1191 (1967).
-
(3) - KRIAA (H.), GUITTON (A.), MALOUFI (N.) - Modeling dislocation contrasts obtained by accurate-electron channeling contrast imaging for characterizing deformation mechanisms in bulk materials. - Materials, 12, 10, p. 1587 (2019).
-
(4) - REIMER (L.) - Scanning Electron Microscopy. - Springer Verlag New York (1985).
-
(5) - KRIAA (H.), GUITTON (A.), MALOUFI (N.) - Fundamental and experimental aspects of diffraction for characterizing dislocations by electron channeling contrast imaging in scanning electron microscope. - Scientific reports, 7, p. 9742 (2017).
-
...
Cet article fait partie de l’offre
Techniques d'analyse
(289 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive