La caractérisation dans un microscope électronique à balayage des défauts cristallins - dislocations, défauts d’empilement, sous-joints de grains - dans un matériau massif a ouvert la voie à des avancées spectaculaires en sciences des matériaux. Cet article présente l’imagerie par contraste de canalisation des électrons, notée ECCI, avec ses limites et ses avantages, les conditions techniqu...
Les articles de référence permettent d'initier une étude bibliographique, rafraîchir ses connaissances fondamentales, se documenter en début de projet ou valider ses intuitions en cours d'étude.
La microscopie électronique à balayage est un outil puissant d'observation des surfaces. Les images de MEB peuvent être facilement associées à des microanalyses et cartographies élémentaires obtenues par spectrométrie des rayons X et diffraction des électrons, par exemple. Elles se prêtent facilement à la numérisation et au traitement des images. Cet article présente les diffé...
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Les microscopies à force atomique - AFM - et électronique à balayage - MEB - sont aujourd’hui des techniques très répandues pour la caractérisation des nano-objets. Afin d’obtenir des mesures fiables à ces échelles, la traçabilité et l’évaluation des incertitudes associées à ces mesures sont primordiales. Pour les utilisateurs de ces techniques, un des moyens de connaitre les capacités métrologiq...
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En France, il est obligatoire depuis 2013, pour tout industriel mettant sur le marché plus de 100 g/an de substances à l’état nanoparticulaire, de réaliser une déclaration nano avant le 1er mai de chaque année. Cette déclaration doit être effectuée auprès de l’Agence nationale de sécurité sanitaire de l’alimentation, de l’environnement et du travail (Anses).
La déclaration est réalisée en ligne sur le site R-Nano par le déclarant.
Cette fiche explique comment effectuer cette déclaration.
Les fiches pratiques répondent à des besoins opérationnels et accompagnent le professionnel en le guidant étape par étape dans la réalisation d'une action concrète.
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