Présentation
Auteur(s)
-
Jacques DESPUJOLS :
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Lire l’articleINTRODUCTION
1 Principes de la spectrométrie d'émission X
1.1 Raies d'émission X
1.2 Différents types de spectromètres X
1.3 Procédés d'excitation des spectres X
2 Spectromètres de fluorescence X usuels
2.1 Constitution des spectromètres à dispersion de longueur d'onde
2.2 Constitution des spectromètres à dispersion d'énergie
3 Pratique de l'analyse
3.1 Analyses qualitative, quantitative et semi-quantitative
3.2 Préparation des échantillons
3.3 Étalonnage et corrections
3.4 Opérations automatiques et manuelles
4 Que peut-on attendre de la spectrométrie des rayons X?
4.1 Éléments envisageables, matrices, teneurs
4.2 Interférences possibles dues à la superposition de raies
4.21 Cas de la dispersion en longueur d'onde
4.22 Cas de la dispersion en énergie
4.3 Précision et sensibilité
4.4 Durée et coût
4.5 Comparaison avec les autres méthodes
5 Exemples
5.1 Industrie minière et cimenteries
5.2 Métallurgie
5.3 Chimie et géologie
5.4 Biologie et médecine
5.5 Études de pollution
5.6 Analyses de surfaces et de couches minces
6 Perspectives d'avenir et conclusion
6.1 Sources X du futur
6.2 Microsondes X
6.3 Conclusion
Pour en savoir plus
VERSIONS
- Version archivée 1 de avr. 1980 par Jacques DESPUJOLS
- Version archivée 2 de janv. 1987 par Jacques DESPUJOLS
- Version courante de sept. 2000 par Jacques DESPUJOLS
DOI (Digital Object Identifier)
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