Présentation
EnglishAuteur(s)
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Jean-Michel MERMET : Ingénieur de l’École nationale supérieure de chimie de Strasbourg Docteur ès Sciences Directeur de Recherche au CNRS - Laboratoire des sciences analytiques de l’université Claude-Bernard (Lyon I)
-
Emmanuelle POUSSEL : Docteur Chargée de Recherche au CNRSLaboratoire des sciences analytiques de l’université Claude-Bernard (Lyon I)
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Lire l’articleINTRODUCTION
Compte tenu d’une demande croissante pour l’analyse de traces, de nouvelles méthodes d’analyse élémentaire sont développées pour améliorer les limites de détection afin d’obtenir des valeurs de l’ordre du ppb masse (10–9) dans un solide ou du ng.L–1 dans un liquide. Parmi ces méthodes, la spectrométrie de masse inorganique utilisant un plasma à couplage inductif comme source d’ionisation connaît un développement commercial important. Plusieurs types de spectromètre de masse sont présentement utilisés, filtre quadripolaire, secteur magnétique ou temps de vol, permettant d’accéder à des limites de détection très basses, tout en exploitant l’information isotopique par mesure de rapports isotopiques ou utilisation de la méthode de dilution isotopique. Les raisons d’utiliser la spectrométrie de masse, la justification du choix d’un plasma à couplage inductif, la mise en œuvre et les performances analytiques seront décrites dans cet article.
VERSIONS
- Version archivée 1 de juil. 1992 par Jean-Michel MERMET, Emmanuelle POUSSEL
- Version courante de juin 2010 par Hugues PAUCOT, Martine POTIN-GAUTIER
DOI (Digital Object Identifier)
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1. Intérêt du couplage ICP-MS
Les premiers appareils commerciaux utilisant des plasmas de gaz rares induits par haute fréquence (plasma HF ou en anglais, inductively coupled plasma ICP) comme source d’atomisation et d’excitation avec une détection par spectrométrie d’émission atomique ont été introduits en 1974 [1]. Les plasmas du type ICP sont maintenant largement utilisés comme sources de photons en spectrométrie d’émission atomique pour l’analyse élémentaire. Le succès d’un tel plasma provient de plusieurs qualités :
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grâce à l’utilisation d’un gaz rare, le milieu est chimiquement inerte (il n’y a donc pas de formation de composés intermédiaires stables dans le plasma) et le spectre de source est monoatomique ;
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la température élevée de la décharge (de l’ordre de 5000 K) en liaison avec un temps de séjour important (dû à des vitesses de gaz lentes, de l’ordre de quelques mètres par seconde) permet une bonne efficacité d’atomisation ;
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du fait de l’utilisation de l’argon (énergie d’ionisation suffisamment élevée : 15,76 eV) et des mécanismes possibles d’ionisation et d’excitation, il est possible de déterminer environ 70 éléments de la classification périodique (analyse multiélémentaire) ;
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le niveau des interférences physico-chimiques (effets de matrice, effets interéléments) est très faible comparé aux autres sources ;
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les limites de détection obtenues sont meilleures que celles fournies par la spectrométrie d’absorption atomique avec flamme. Seule la spectrométrie d’absorption avec four de graphite donne des meilleures limites, mais seulement pour les éléments non réfractaires.
Par contre, la détection optique présente plusieurs inconvénients. En particulier, les spectres émis sont très riches en raies, ce qui les rend très complexes dans le cas de certaines matrices (fer, uranium, tungstène, molybdène, terres rares...). La température élevée du plasma implique de plus des élargissements importants de raies. Spectres riches en raies et élargissements augmentent les risques d’interférences spectrales. Ainsi, travaillant en émission atomique, il est par exemple difficile de déterminer des traces dans ces matrices sans séparation chimique préalable. De plus, il est presque impossible...
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BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - MERMET (J.M.), ROBIN (J.), TRASSY (C.) - Excitation spectrographique – Plasmas induits par haute fréquence. - [P 2 719], Analyse et caractérisation (1988), épuisé.
-
(2) - MARICHY (M.), MERMET (M.), MERMET (J.M.) - Relationship between detection limits and mechanisms in inductively coupled plasma atomic emission spectrometry. - J. Anal. Atom. Spectrom., 2, 561 (1987).
-
(3) - BOTTER (R.), BOUCHOUX (G.) - Spectrométrie de masse. - [P 2 615], Analyse et caractérisation (1995).
-
(4) - HOUK (R.S.), FASSEL (V.A.), FLESCH (G.D.), SVEC (H.J.), GRAY (A.L.), TAYLOR (C.E.) - Inductively coupled argon plasma as an ion source for mass spectrometric determination of trace elements. - Anal. Chem., 52, 2283 (1980).
-
(5) - DATE (A.R.), GRAY (A.L.) - Applications of inductively coupled plasma mass spectrometry. - Blackie (1989).
-
(6)...
ANNEXES
(liste non exhaustive)
HAUT DE PAGE1.1 Constructeurs de spectromètres de masse ICP
Agilent Technologies http://www.agilent.com
GBC Scientific Equipment http://www.gbcsci.com
JEOL http://www.jeol.com
LECO http://www.leco.com
Perkin-Elmer http://www.perkinelmer.com
Spectro Analytical http://www.spectro-ai.com
Thermo Electron Corp. http://www.thermo.com
Waters http://www.waters.com
Varian http://www.varianinc.com
HAUT DE PAGE1.2 Constructeurs de systèmes d’introduction des échantillons
Burgener Research Inc. http://burgenerresearch.com
Cetac Technologies http://www.cetac.com
Glass Expansion http://www.geicp.com
Meinhard Glass Products http://www.meinhard.com
Precision Glassblowing http://www.glassblowing.com
Spectrotec...
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