Présentation
En anglaisAuteur(s)
-
Jean-Michel MERMET : Ingénieur de l’École nationale supérieure de chimie de Strasbourg Docteur ès Sciences Directeur de Recherche au CNRS - Laboratoire des sciences analytiques de l’université Claude-Bernard (Lyon I)
-
Emmanuelle POUSSEL : Docteur Chargée de Recherche au CNRSLaboratoire des sciences analytiques de l’université Claude-Bernard (Lyon I)
Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.
Lire l’articleINTRODUCTION
Compte tenu d’une demande croissante pour l’analyse de traces, de nouvelles méthodes d’analyse élémentaire sont développées pour améliorer les limites de détection afin d’obtenir des valeurs de l’ordre du ppb masse (10–9) dans un solide ou du ng.L–1 dans un liquide. Parmi ces méthodes, la spectrométrie de masse inorganique utilisant un plasma à couplage inductif comme source d’ionisation connaît un développement commercial important. Plusieurs types de spectromètre de masse sont présentement utilisés, filtre quadripolaire, secteur magnétique ou temps de vol, permettant d’accéder à des limites de détection très basses, tout en exploitant l’information isotopique par mesure de rapports isotopiques ou utilisation de la méthode de dilution isotopique. Les raisons d’utiliser la spectrométrie de masse, la justification du choix d’un plasma à couplage inductif, la mise en œuvre et les performances analytiques seront décrites dans cet article.
VERSIONS
- Version archivée 1 de juil. 1992 par Jean-Michel MERMET, Emmanuelle POUSSEL
- Version courante de juin 2010 par Hugues PAUCOT, Martine POTIN-GAUTIER
DOI (Digital Object Identifier)
Cet article fait partie de l’offre
Techniques d'analyse
(289 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
Présentation
4. Possibilités analytiques
4.1 Limites de détection
En supposant une distribution gaussienne du bruit de fond, c’est-à-dire des fluctuations du fond, on admet que le signal net S d’un élément est significativement différent du fond lorsque sa valeur est au moins égale à trois fois l’écart-type s du bruit de fond. À ce signal on fait correspondre une limite de détection en concentration c L en utilisant la droite d’étalonnage avec l’hypothèse que celle-ci est linéaire jusqu’au voisinage de c L. La limite de détection est reliée au signal S obtenu pour une concentration c.
c L = 3 c s /SToute amélioration de la limite de détection va être limitée par la présence d’un fond et surtout de ses fluctuations ou bruit. Dans le cas de la spectrométrie de masse, il ne devrait pas y avoir de fond dû au plasma puisque les électrons ne sont pas reçus sur le détecteur. En fait, on est essentiellement limité par le bruit du détecteur, d’une part le courant d’obscurité, d’autre part le bruit produit par l’arrivée éventuelle des photons. C’est pourquoi les installations commerciales fondées sur l’utilisation d’un filtre quadripolaire tentent d’éliminer l’arrivée de ces photons : dispositif d’arrêt des photons (photon stop) et détecteur hors axe. Dans le cas d’un spectromètre de masse à double secteur, l’élimination des photons est très efficace à cause de la courbure naturelle du système. Il en est de même avec les spectromètres à temps de vol à extraction orthogonale.
Une autre augmentation possible du bruit de fond est due au phénomène de numérisation du signal aux faibles valeurs.
actuellement le fond est garanti inférieur à 10 coups/s sur les filtres quadripolaires et inférieur à 0,2 coups/s sur les systèmes à secteurs.
Il y a aussi une différence fondamentale entre les signaux obtenus en émission et en masse. En émission, jusqu’à présent, on isole une raie de l’élément parmi toutes les raies émises. Il y a donc une perte d’information très importante, surtout dans le cas d’éléments ayant beaucoup de raies sensibles, Ti par exemple. Dans le cas des ions, l’information est rassemblée dans un ou quelques...
Cet article fait partie de l’offre
Techniques d'analyse
(289 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
Possibilités analytiques
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - MERMET (J.M.), ROBIN (J.), TRASSY (C.) - Excitation spectrographique – Plasmas induits par haute fréquence. - [P 2 719], Analyse et caractérisation (1988), épuisé.
-
(2) - MARICHY (M.), MERMET (M.), MERMET (J.M.) - Relationship between detection limits and mechanisms in inductively coupled plasma atomic emission spectrometry. - J. Anal. Atom. Spectrom., 2, 561 (1987).
-
(3) - BOTTER (R.), BOUCHOUX (G.) - Spectrométrie de masse. - [P 2 615], Analyse et caractérisation (1995).
-
(4) - HOUK (R.S.), FASSEL (V.A.), FLESCH (G.D.), SVEC (H.J.), GRAY (A.L.), TAYLOR (C.E.) - Inductively coupled argon plasma as an ion source for mass spectrometric determination of trace elements. - Anal. Chem., 52, 2283 (1980).
-
(5) - DATE (A.R.), GRAY (A.L.) - Applications of inductively coupled plasma mass spectrometry. - Blackie (1989).
-
(6)...
ANNEXES
(liste non exhaustive)
HAUT DE PAGE1.1 Constructeurs de spectromètres de masse ICP
Agilent Technologies http://www.agilent.com
GBC Scientific Equipment http://www.gbcsci.com
JEOL http://www.jeol.com
LECO http://www.leco.com
Perkin-Elmer http://www.perkinelmer.com
Spectro Analytical http://www.spectro-ai.com
Thermo Electron Corp. http://www.thermo.com
Waters http://www.waters.com
Varian http://www.varianinc.com
HAUT DE PAGE1.2 Constructeurs de systèmes d’introduction des échantillons
Burgener Research Inc. http://burgenerresearch.com
Cetac Technologies http://www.cetac.com
Glass Expansion http://www.geicp.com
Meinhard Glass Products http://www.meinhard.com
Precision Glassblowing http://www.glassblowing.com
Spectrotec...
Cet article fait partie de l’offre
Techniques d'analyse
(289 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive