Présentation
Auteur(s)
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Jean-Luc LE GOËR : Ingénieur ESL (École Technique Supérieure du Laboratoire) - Président de Vishay-Micromesures
-
Jean AVRIL : Ancien Élève de l’École Polytechnique
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Lire l’articleINTRODUCTION
Cet article est une revue des moyens et des procédés actuels de l’extensométrie ; il ne constitue en aucune manière un manuel de mesure des contraintes. Son but est de faire saisir les possibilités et les limites de cette technique métrologique particulière.
Le lecteur se reportera également aux articles Photoélasticimétrie [R 1 870] et Capteurs à jauges extensométriques Capteurs à jauges extensométriques dans le présent traité.
VERSIONS
- Version courante de juin 2011 par Fabrice BRÉMAND, Mario COTTRON, Pascal DOUMALIN, Jean-Christophe DUPRÉ, Arnaud GERMANEAU, Valéry VALLE
DOI (Digital Object Identifier)
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