Présentation
Auteur(s)
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Jean-Luc LE GOËR : Ingénieur ESL (École Technique Supérieure du Laboratoire) - Président de Vishay-Micromesures
-
Jean AVRIL : Ancien Élève de l’École Polytechnique
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Lire l’articleINTRODUCTION
Cet article est une revue des moyens et des procédés actuels de l’extensométrie ; il ne constitue en aucune manière un manuel de mesure des contraintes. Son but est de faire saisir les possibilités et les limites de cette technique métrologique particulière.
Le lecteur se reportera également aux articles Photoélasticimétrie [R 1 870] et Capteurs à jauges extensométriques Capteurs à jauges extensométriques dans le présent traité.
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VERSIONS
- Version courante de juin 2011 par Fabrice BRÉMAND, Mario COTTRON, Pascal DOUMALIN, Jean-Christophe DUPRÉ, Arnaud GERMANEAU, Valéry VALLE
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Mesures mécaniques et dimensionnelles
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Interférométrie holographique et moirés de granulation4. Mesure des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X
4.1 Fondements et limites de validité de la méthode
L’emploi des rayons X en extensométrie repose sur le fait que, dans leur état usuel, les métaux et leurs alliages constituent des agrégats polycristallins, dont chaque cristal constitutif jouit de la propriété de diffracter les rayons X, c’est‐à‐dire de donner lieu, par interférence, à une réflexion partielle et sélective de ces rayons dès lors que leur longueur d’onde λ et leur incidence θ sur une famille de plans réticulaires du cristal, d’équidistance d, satisfont à la loi de Bragg :
Ce qu’on peut espérer atteindre par application de cette propriété, c’est donc la déformation Δ d /d dans la direction orthogonale à la famille de plans réticulaires considérée : par exemple, dans un acier à structure α, la famille des plans (3 1 0) de la ferrite. En effet, en différentiant la relation de Bragg, on obtient :
( 4 )
Autrement dit, la base de mesure, au sens du paragraphe 1.4...
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