Présentation
Auteur(s)
-
Jean-Luc LE GOËR : Ingénieur ESL (École Technique Supérieure du Laboratoire) - Président de Vishay-Micromesures
-
Jean AVRIL : Ancien Élève de l’École Polytechnique
Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.
Lire l’articleINTRODUCTION
Cet article est une revue des moyens et des procédés actuels de l’extensométrie ; il ne constitue en aucune manière un manuel de mesure des contraintes. Son but est de faire saisir les possibilités et les limites de cette technique métrologique particulière.
Le lecteur se reportera également aux articles Photoélasticimétrie [R 1 870] et Capteurs à jauges extensométriques Capteurs à jauges extensométriques dans le présent traité.
L'expertise technique et scientifique de référence
VERSIONS
- Version courante de juin 2011 par Fabrice BRÉMAND, Mario COTTRON, Pascal DOUMALIN, Jean-Christophe DUPRÉ, Arnaud GERMANEAU, Valéry VALLE
DOI (Digital Object Identifier)
Cet article fait partie de l’offre
Mesures mécaniques et dimensionnelles
(121 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
Présentation
Généralités : la mesure des contraintes5. Interférométrie holographique et moirés de granulation
5.1 Interférométrie holographique
5.1.1 Principe de l’holographie
Soit une surface diffusante S, illuminée par une onde cohérente Ω i , issue d’une source ponctuelle O . Cette surface diffuse dans toutes les directions une onde Ωd qui impressionne quasi uniformément l’émulsion d’une plaque photographique. Si, simultanément, on impressionne également la plaque par une onde de référence Ω r , issue de la même source O que l’onde incidente Ω i , on observe après développement un ensemble de réseaux de franges d’interférence, chacun des réseaux étant homologue à un point P de la surface S (figure 20).
Le cliché de l’ensemble des réseaux d’interférence des différents points de la surface S constitue l’hologramme de cette surface.
se reporter à l’article Applications de l’holographie Holographie optique Interférométrie holographique dans le présent traité.
5.1.2 Observation d’un hologramme
On illumine l’hologramme par la même onde de référence Ωr et sur le même montage optique que lors de l’enregistrement. L’hologramme diffracte l’onde de référence en deux autres ondes, dont l’une est semblable à l’onde initiale diffusée par la surface S, c’est‐à‐dire de même amplitude Ad et de même phase ϕd...
L'expertise technique et scientifique de référence
Cet article fait partie de l’offre
Mesures mécaniques et dimensionnelles
(121 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
Interférométrie holographique et moirés de granulation
L'expertise technique et scientifique de référence
Cet article fait partie de l’offre
Mesures mécaniques et dimensionnelles
(121 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Doc & Quiz
Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive
