Présentation
Auteur(s)
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Jean-Luc LE GOËR : Ingénieur ESL (École Technique Supérieure du Laboratoire) - Président de Vishay-Micromesures
-
Jean AVRIL : Ancien Élève de l’École Polytechnique
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Lire l’articleINTRODUCTION
Cet article est une revue des moyens et des procédés actuels de l’extensométrie ; il ne constitue en aucune manière un manuel de mesure des contraintes. Son but est de faire saisir les possibilités et les limites de cette technique métrologique particulière.
Le lecteur se reportera également aux articles Photoélasticimétrie [R 1 870] et Capteurs à jauges extensométriques Capteurs à jauges extensométriques dans le présent traité.
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- Version courante de juin 2011 par Fabrice BRÉMAND, Mario COTTRON, Pascal DOUMALIN, Jean-Christophe DUPRÉ, Arnaud GERMANEAU, Valéry VALLE
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Mesure des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X3. Extensométrie par revêtements
L’extensométrie par revêtements peut être utilisée pour des relevés statiques ou dynamiques : dans les deux cas, les revêtements utilisés sont en effet les mêmes et ils suivent avec la même fidélité, dans ses déformations, la surface sur laquelle ils sont appliqués. Les relevés dynamiques supposent le recours à la cinématographie ou, s’il s’agit de phénomènes périodiques, à la stroboscopie.
3.1 Revêtements à réseaux de moiré
Le phénomène de moiré est obtenu par superposition de deux réseaux de pas voisins, formés de traits parallèles dont l’épaisseur est sensiblement égale à l’intervalle entre deux traits consécutifs : des franges apparaissent là où les traits de l’un des réseaux couvrent les intervalles de l’autre.
Si l’un des réseaux est un réseau témoin et l’autre un réseau obtenu par une déformation limitée (mais à part cela quelconque) d’un réseau initialement identique au réseau témoin, le passage d’une frange à la suivante caractérise un déplacement différentiel du réseau déformé, dont la composante orthogonale aux lignes du réseau est égale au pas p du réseau témoin : les franges sont en somme des lignes de niveau de cette composante.
Pour appliquer le phénomène de moiré en extensométrie, il suffit de prendre la surface de la pièce à étudier comme support d’une trame, formée de deux réseaux orthogonaux entre eux, et de comparer successivement chacun de ces réseaux avec le réseau témoin correspondant. On obtient ainsi, dans toute l’étendue couverte, les lignes de niveau des déplacements u et v dans les deux directions orthogonales Ox et Oy correspondant à la trame : graphiquement (figure 17) ou par dépouillement automatique, on en déduit les dilatations normales ε et le glissement γ , en se fondant sur les formules de définition :
conformément au fascicule de documentation AFNOR X 10-011...
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