Présentation
EnglishRÉSUMÉ
Les cartes électroniques sont conçues avec une augmentation constante de niveau de complexité. Des effets sur la CEM et l’Intégrité du Signal (IS) sont constatés. Pour éviter ces conséquences indésirables, une méthodologie de simulation et de modélisation est nécessaire. Cet article propose une méthode de simulation et de modélisation en CEM conduite d’une carte électronique. Des modèles d’émission et de susceptibilité en CEM conduite sont considérés. Dans la dernière section de l’article, une étude marginale est décrite qui permet d’évaluer le niveau de risque de dysfonctionnement d’une carte.
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Lire l’articleAuteur(s)
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Blaise RAVELO : Ingénieur de l’ESPA, Université d’Antsiranana, Madagascar - Master et Docteur de l’Université de Bretagne Occidentale (UBO), - HDR de l’université Rouen - Professeur au NUIST, Nankin, Jiangsu, Chine
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Sébastien LALLÉCHÈRE : Ingénieur de Recherche en CEM et Docteur de l’Université Blaise Pascal, - HDR de l’université Clermont Auvergne - SafranTech, Magny-les-Hameaux, France
INTRODUCTION
Pour répondre aux besoins publics, les industries de conception et de fabrication des cartes électroniques ou PCB (Printed Circuit Board) s’orientent vers une technologie électronique avec implémentation à haute densité. Les électroniques sont de plus en plus contraintes de fonctionner dans des environnements sévères. Comme tous les équipements électriques, les PCB et les circuits électroniques doivent systématiquement satisfaire aux contraintes de compatibilité électromagnétique (CEM) [E 1 320] [E 2 475]. À la différence des autres domaines de l’ingénierie, la conception en CEM des PCB nécessite des notions fondamentales [E 1 302] et des éléments de connaissance en matière de théorie des circuits et d’électromagnétisme. Les tests de CEM de conformité sont mis au point avec des méthodologies adaptées aux équipements électriques et à leurs environnements de fonctionnement [E 1 315].
Cependant, quels que soient les équipements et plus particulièrement les PCB, il faut noter que les tests en CEM sont souvent onéreux et demandent un temps d’exécution pouvant être fastidieux. Pour remédier à ce coût, il est possible d’agir en amont durant la phase de conception en mettant au point des modèles analytiques ou numériques des émissions et des susceptibilités en modes rayonné et conduit. À l’image des tests expérimentaux, il existe divers types des modèles en CEM. Tout d’abord, on peut noter les modèles systémiques pouvant s’appliquer aux circuits relativement complexes. Des modèles analytiques des émissions de rayonnement en champ proche des PCB peuvent être considérés. À l’inverse, l’influence du rayonnement EM se modélise aussi avec des fonctions analytiques de couplage avec les éléments des PCB. Des modèles d’émission et de susceptibilité conduite des composants sont également des solutions pour les fabricants des équipements. Pour les ingénieurs de conception, tous ces différents modèles permettent de prédire les éventuels effets en CEM avant d’effectuer la réalisation. Pour les PCB, il est important de souligner qu’il est imaginable de développer des techniques de réduction des effets de CEM par exemple en utilisant des circuits à Temps de Propagation de Groupe (TPG) négatifs.
En plus des modèles de CEM composants [E 2 475], les interconnexions électriques jouent un rôle important dans la conception en CEM des PCB. Une modélisation des composants localisés passifs à base des réseaux de neurone est proposée dans la littérature. Des cas de modélisation d’interconnexions électriques validés avec des Lignes de Transmission (LT) micro-ruban ont été proposés.
Le présent article est destiné à développer une méthodologie de simulation en CEM conduite d’un circuit électronique représentant un PCB. La méthode dépend de la définition de l’environnement de test à l’origine des bruits de perturbation comme le cas de l’alimentation et des sources de décharges. Ensuite, le schéma équivalent électrique de couplage des tensions ou des courants représentant les émissions de CEM conduites est nécessaire. Dans ce schéma, tous les éléments sensibles ou pouvant influencer les paramètres d’Intégrité de Signal (IS) et d’Intégrité de Puissance (IP) devront être modélisés. Pour cette étude, on s’intéresse au cas des composants passifs R, L et C, actifs comme un oscillateur et un microcontrôleur (µC ou MCU), et également à l’effet des interconnexions électroniques. Puis, la Sûreté de Fonctionnement (SdF) vis-à-vis des perturbations de CEM affectant le circuit sera estimée.
Le lecteur trouvera en fin d'article un glossaire et un tableau des sigles et des notations utilisés.
MOTS-CLÉS
CEM simulation modélisation PCB émission conduite susceptibilité conduite intégrité du signal méthodologie d'analyse
VERSIONS
- Version courante de juin 2024 par Blaise RAVELO, Sébastien LALLÉCHÈRE
DOI (Digital Object Identifier)
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Présentation
1. Notions générales
Avant de procéder à l’étude de CEM, nous sommes spontanément amenés à nous interroger sur la compréhension du fonctionnement de la carte électronique concernée. De plus, il est indispensable de considérer une représentation de son environnement de fonctionnement. Cette section introduit des notions générales permettant de mener l’approche méthodologique d’analyse en CEM proposée dans cet article.
1.1 Approche méthodologique
Le point de départ de la méthode s’appuie sur la description du produit fourni par le fabricant destiné à opérer dans un environnement du client utilisateur. Nous nous sommes intéressés au cas d’une carte électronique. Du point de vue systémique, une carte peut être généralement représentée par une boîte noire (modèle black box en anglais) comprenant des points d’entrée et de sortie. Pour le présent système, nous avons une entrée notée V s et deux sorties. Pour formuler le problème à résoudre, le circuit est placé dans un scénario ayant subi des perturbations de CEM dans son environnement de fonctionnement. Le synoptique de la figure 1 présente une vue d’ensemble des différents éléments nécessaires pour notre analyse de CEM.
La perturbation en CEM est représentée par une ou des entrées sur lesquelles sont superposées des sources d’émissions électriques. L’immunité en CEM consiste à étudier le changement de comportement du circuit face aux agressions EM jusqu’à la détection d’endommagement. Tandis que la susceptibilité en CEM se limite aux effets de perturbation EM sur son fonctionnement. La susceptibilité se quantifie à partir de dérives de fonctionnement sur une ou des sorties en fonction des observables avec des tolérances exigées par des clients utilisateurs. De nombreux travaux se sont intéressés à l’analyse de ces phénomènes pour des PCB ...
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Notions générales
BIBLIOGRAPHIE
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(1) - MAURICE (O.) - Elements of theory for electromagnetic compatibility and systems. - Bookelis, Aix en Provence, France (2017).
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(2) - MAURICE (O.), REINEIX (A.), HOFFMANN (P.), PECQUEUX (B.), POULIGUEN (P.) - A formalism to compute the electromagnetic compatibility of complex networks. - Advances in Applied Science Research, vol. 2, no. 5, p. 439-448 (2011).
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(3) - RAVELO (B.), LIU (Y.), JASTRZEBSKI (A.K.) - PCB Near-Field Transient Emission Time-Domain Model. - IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 57, no. 6, p. 1320-1328 (2015).
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(4) - XU (Z.), RAVELO (B.), MAURICE (O.), GANTET (J.), MARIER (N.) - Radiated EMC Kron's Model of 3-D Multilayer PCB Aggressed by Broadband Disturbance. - IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, vol. 62, no. 2, p. 406-414 (2020).
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(5) - MANJOMBE (Y.T.), AZZOUZ (Y.), BAUDRY (D.), RAVELO (B.), BENBOUZID (M.E.H.) - Experimental investigation on the power electronic transistor parameters influence to the near-field radiation for the EMC applications. - Progress...
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