Présentation
RÉSUMÉ
Les surfaces industrielles produites par des moyens techniques présentent des irrégularités par rapport à la surface idéale. Les équipements destinés à la quantification de la topographie de surface se sont multipliés ces dernières années, grâce notamment à l’évolution des appareils de mesure à contact (ajout d’un troisième axe de mesure), de la microscopie à haute résolution, et du traitement de l’information et de l’image. Les techniques tridimensionnelles sont à la veille d’être utilisées en production.
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Auteur(s)
-
Bernard RAPHET : Responsable Qualité et responsable Formation d’ANNECY MÉTROLOGIE - Ancien responsable du service métrologie du CTDEC (Centre technique de l’industrie du décolletage)
INTRODUCTION
C e document est à lire à la suite du dossier .
Les dossiers et [R 1 231] présentent, d’une manière non exhaustive, les connaissances actuellement admises dans le domaine de la caractérisation de surface à partir essentiellement d’une étude bibliographique et de l’expérience de l’auteur.
Dans le monde industriel, on retrouve aujourd’hui, la présence :
-
de plans avec des paramètres correspondants aux anciennes normes (définitions différentes suivant les pays d’origine) ;
-
de matériels d’ancienne génération (paramètres suivants anciennes normes avec un traitement du signal plus normalisé) ;
-
de plans et équipements conformes à la normalisation en vigueur, mais que peu de gens utilisent correctement ;
-
d’équipements permettant la caractérisation tridimensionnelle de l’état de surface, avec des méthodes de traitement différentes ;
-
de documents prénormatifs des paramètres de surface.
Cette situation est due à la récente évolution de la normalisation, et au développement des équipements, à l’augmentation des performances du matériel informatique et des logiciels.
La mesure tridimensionnelle de la microgéométrie est actuellement le moyen le plus fidèle pour caractériser une surface. Elle permet l’observation, l’identification et la quantification des irrégularités. Elle permet également la réalisation d’études sur les corrélations entre la microgéométrie et la fonction ou le comportement d’une surface. Ces études devraient permettre notamment de préciser ou redéfinir les limites entre les différents écarts géométriques (forme, ondulation et rugosité), que ce soit sur un profil ou sur une surface. En effet, si certaines fonctions nécessite la prise en compte de ces écarts géométriques séparément, d’autres nécessitent de les caractériser plus globalement (par exemple : forme + ondulation ou ondulation + rugosité ou forme + ondulation + rugosité).
Historiquement, l’état de surface a été évalué visuellement et/ou tactilement, puis mesuré sur un profil à l’aide de capteurs avec un traitement du signal plus ou moins performants (profilométrie), et enfin mesuré sur une partie de la surface (topographie). Les techniques tridimensionnelles ne sont plus réservées aux laboratoires de recherche. Les prototypes sont devenus des équipements industriels que l’on retrouve dans des laboratoires d’entreprises ou de sociétés de services. On peut imaginer qu’au niveau des équipements, les prochaines étapes seront la mesure tridimensionnelle d’état de surface en production et la mesure intégrale d’une surface entière (macro, microgéométrie, soit de façon séparée soit de façon globale).
DOI (Digital Object Identifier)
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2. Équipements de mesure d’états de surface
Il existe plusieurs moyens d’évaluer l’état de surface que l’on peut classer en deux groupes selon que l’évaluation est effectuée sur une surface ou sur un profil. Ces moyens sont utilisés :
-
soit couramment dans l’industrie, appareil à palpeur avec contact, échantillons de comparaison viso-tactile ;
-
soit plus rarement pour des applications spécifiques, appareil à palpeur sans contact, méthodes optiques ;
-
soit encore plus rarement dans des laboratoires de recherche et développement, méthodes optiques, par photogramétrie.
Dans l’industrie le moyen le plus utilisé est l’appareil d’état de surface à palpeur avec contact du palpeur avec la surface à caractériser.
2.1 Appareils à palpeur
Ce type d’équipement, suivant son degré de perfectionnement, permet la mesure de tout ou partie des paramètres définis précédemment. En effet, l’évaluation des paramètres de profil primaire et d’ondulation nécessite une référence de guidage externe. La figure 1 représente, de façon schématique, un appareil à palpeur dont les différents composants sont définis ci‐après :
-
chaîne de mesure : chaîne fermée qui comprend tous les éléments mécaniques reliant la pièce à mesurer et la pointe du palpeur ;
-
référence de guidage : composant de l’appareil qui génère le plan d’intersection et guide le capteur dans ce plan selon une trajectoire théoriquement exacte (profil de référence), qui est généralement une ligne droite ;
-
unité d’avance : composant de l’appareil qui déplace le capteur le long de la référence de guidage, ce dernier transmettant la position horizontale de la pointe du palpeur sous forme de coordonnée horizontale du profil ;
-
capteur : composant de l’appareil qui contient l’élément de palpage, avec la pointe du palpeur, et le transducteur ;
-
élément de palpage : élément qui transmet le déplacement de la pointe du palpeur au transducteur ;
-
pointe du palpeur : élément constitué d’un cône nominalement circulaire...
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Équipements de mesure d’états de surface
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - CNOMO - Guide de capitalisation pour la caractérisation et la mesure des états de surface en complément de la normalisation ISO. - GE40-084N, nov. 2000. http://www.cnomo.com
-
(2) - Dr BLUNT (L.) - Surfstand – The development of a basis for 3D surface texture standards. -
-
(3) - ZANI (M.-L.) - Les techniques de contrôle d’aspect des surfaces. - Revue « MESURES » no 741, page 60, janv. 2002.
-
(4) - ZANI (M.-L.) - La mesure de rugosité ? Quelques normes.... Et des dizaines de paramètres. - Revue « MESURES » no 758, page 59, oct. 2003.
-
(5) - La rugosité de surface des produits en acier : comment la caractériser. - OTUA Office Technique pour l’Utilisation de l’Acier – Le courrier technique no 63.
-
(6) - Recueil de conférences - Les...
NORMES
-
Spécification géométrique des produits (GPS) – Indication des états de surface dans la documentation technique de produits. - NF EN ISO 1302 - 04-02
-
Spécification géométrique des produits (GPS) – État de surface : méthode du profil – Caractéristiques nominales des appareils à contact (palpeur). - NF EN ISO 3274 - 03-98
-
Spécification géométrique des produits (GPS) – État de surface : méthode du profil – Termes, définitions et paramètres d’état de surface. - NF EN ISO 4287 - 12-98
-
Spécification géométrique des produits (GPS) – État de surface : méthode du profil – Règles et procédures pour l’évaluation de l’état de surface. - NF EN ISO 4288 - 03-98
-
Spécification géométrique des produits (GPS) – État de surface : méthode du profil : étalons – Partie 1 : mesures matérialisées. - NF EN ISO 5436-1 - 08-00
-
Spécification géométrique des produits (GPS) –...
ANNEXES
1 Constructeurs et fournisseurs (Listes non exhaustives)
Cotec http://www.cotec.fr
Digital Surf http://www.digitalsurf.fr
Hommelwerke http://www.hommelwerke.com
Mahr http://www.mahr.com
Mitutoyo http://www.mitutoyo.fr
Taylor-Hobson http://www.taylor-hobson.com
Veeco Instruments http://www.veeco-europe.com
HAUT DE PAGE
Breuckmann (Eotech) http://www.eotech.fr
Cotec http://www.cotec.fr
Digital Surf http://www.digitalsurf.fr
Fisba Optik (Eotech) http://www.eotech.fr
Fogale Nanotech http://www.fogale.fr
Hommel-Somicronic http://www.hommelwerke.com
Leica Microsystèmes https://www.leica-microsystems.com/fr/
Micromap...
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