Article de référence | Réf : AM3280 v1

Détection de la force d’interaction pointe-surface
Imagerie de surface de polymères : microscopie à force atomique

Auteur(s) : Ghislaine COULON

Date de publication : 10 janv. 2000

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  • Ghislaine COULON : Professeur à l’Université des Sciences et Technologies de Lille - Docteur ès sciences

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INTRODUCTION

La microscopie à force atomique fait partie de la famille des microscopies à sonde locale.

Un des buts essentiels des microscopies à champ proche est d’imager la surface d’un matériau dans l’espace direct réel avec une résolution spatiale allant de quelques dizaines de micromètres au dixième de nanomètre. Leur principe est simple : une sonde de petite taille est placée à proximité de la surface ; en balayant la sonde au-dessus de la surface, on obtient une image tridimensionnelle de celle-ci qui est le reflet de l’interaction sonde-surface.

Pour le microscope à force atomique, la sonde est une pointe métallique et l’image est obtenue par détection des forces d’interaction entre les atomes de la pointe et ceux de la surface.

Actuellement, il existe plusieurs types de microscopie à force atomique que l’on peut regrouper en trois familles :

  • la microscopie en mode contact : la pointe est placée au contact de la surface étudiée ;

  • la microscopie en mode non-contact ou résonnant : la pointe est placée à quelques dizaines de nanomètres de la surface ;

  • la microscopie en mode intermittent : la pointe vient au contact de la surface de manière intermittente.

Dans cet article, nous étudierons l’application de ce type de microscopie à l’imagerie de surface de polymères.

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DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-am3280


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1. Détection de la force d’interaction pointe-surface

La détection de la force d’interaction interatomique se fait par l’intermédiaire d’un ressort à l’extrémité duquel se trouve la pointe. L’influence des interactions pointe-surface sur la déflexion du ressort est représentée (figure 1).

Dans la position A, l’échantillon se trouve à grande distance de la pointe : le ressort ne subit aucune déflexion car la force d’interaction est nulle. Quand on approche l’échantillon à une distance de l’ordre de 10-100 nm de la pointe, le ressort est alors soumis aux forces de longue portée telles que les forces de Van der Waals, les forces électrostatiques ou magnétiques. Sous l’effet des forces attractives de Van der Waals par exemple, le ressort va se courber vers la surface. Si on continue de déplacer verticalement l’échantillon vers la pointe, on observe un saut brusque de la pointe vers la surface (position B) quand l’ensemble pointe-surface se trouve dans l’air, ce qui est généralement le cas. Dans l’air, la surface est recouverte d’un mince film d’eau (d’épaisseur comprise entre 2,5 et 50 nm suivant le taux d’humidité ambiant) et la pointe est soumise aux forces attractives de capillarité (d’intensité égale à 10–8 N). Une fois la pointe au contact de la surface, si on continue de déplacer l’échantillon vers le haut, la courbure du ressort va progressivement changer de signe ; dans la position C, l’interaction interatomique pointe-surface est répulsive et le ressort se courbe vers le haut. Si, maintenant, on éloigne l’échantillon de la pointe, on constate que la pointe adhère à la surface (position D) et que le ressort est courbé vers la surface. Cette adhésion a deux origines : la force adhésive entre la pointe et la surface et la force de capillarité. Si on continue d’éloigner l’échantillon, la pointe va alors quitter brusquement la surface et la déflexion du ressort devient nulle (position E). Le scénario précédent montre clairement que la nature attractive ou répulsive de la force exercée sur la pointe influe sur le sens de déflexion du ressort : en mesurant la déflexion du ressort, on peut donc atteindre la valeur de la force qui agit sur la pointe. La variation de la force d’interaction en fonction de la distance pointe-surface est représentée figure 2.

L’hystérésis prononcé sur la figure ...

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - BINNIG (G.), QUATE (C.F.), GERBER (C.) -   Atomic force microscope.  -  Phys. Rev. Lett., 12, p. 930-933 (1986).

  • (2) - MIZES (H.A.), LOH (K.J.), MILLER (R.J.P.), AHUJA (S.K.), GRABOWSKI (E.F.) -   Submicron probe of polymer adhesion with atomic force microscopy.  -  Appl. Phys. Lett., 59, p. 2901-2903 (1991).

  • (3) - MAGONOV (S.N.) -   Atomic force microscopy of polymers and related compounds.  -  Polymer Science, 38, p. 143-182 (1997).

  • (4) - WEISENHORN (A.L.), HANSMA (P.K.), ALBRECHT (T.R.), QUATE (C.F.) -   Forces in atomic force microscopy in air and water.  -  Appl. Phys. Lett., 54, p. 2651-2653 (1989).

  • (5) - WITTMAN (J.-C.) -   Orientation de matériaux organiques sur un substrat de Teflon.  -  Images de la Physique, CNRS Éd., p. 69-78 (1995).

  • (6) - COLLIN (B.), CHATENAY (D.), COULON (G.), AUSSERRE (D.), GALLOT (Y.) -   Ordering...

1 À lire également dans nos bases

ERARD (L.) - Organisation de la métrologie en France. Le LNE. - [R 60] Traité Mesures : généralités (2006).

RIVOAL (J.-C.) - FRETIGNY (C.) - Microscopie à force atomique (AFM). - [R 1 394] Traité Mesures mécaniques et dimensionnelles (2005).

ROBLIN (G.) - Microscopies optiques à balayage. - [R 6 714] Traité Mesures mécaniques et dimensionnelles (1999).

SALVAN (F.) - THIBAUDAU (F.) - Microscopie à sonde locale. - [P 895] Analyse et caractérisation (1999).

VAN LABEKE (D.) - Microscopie optique en champ proche. - [P 862] Traité Techniques d'analyse (1998).

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