Bibliographie & annexes
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En anglais
Auteur(s)
-
Ghislaine COULON : Professeur à l’Université des Sciences et Technologies de Lille - Docteur ès sciences
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Lire l’articleINTRODUCTION
La microscopie à force atomique fait partie de la famille des microscopies à sonde locale.
Un des buts essentiels des microscopies à champ proche est d’imager la surface d’un matériau dans l’espace direct réel avec une résolution spatiale allant de quelques dizaines de micromètres au dixième de nanomètre. Leur principe est simple : une sonde de petite taille est placée à proximité de la surface ; en balayant la sonde au-dessus de la surface, on obtient une image tridimensionnelle de celle-ci qui est le reflet de l’interaction sonde-surface.
Pour le microscope à force atomique, la sonde est une pointe métallique et l’image est obtenue par détection des forces d’interaction entre les atomes de la pointe et ceux de la surface.
Actuellement, il existe plusieurs types de microscopie à force atomique que l’on peut regrouper en trois familles :
-
la microscopie en mode contact : la pointe est placée au contact de la surface étudiée ;
-
la microscopie en mode non-contact ou résonnant : la pointe est placée à quelques dizaines de nanomètres de la surface ;
-
la microscopie en mode intermittent : la pointe vient au contact de la surface de manière intermittente.
Dans cet article, nous étudierons l’application de ce type de microscopie à l’imagerie de surface de polymères.
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Détection de la force d’interaction pointe-surface
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6. Conclusion
La microscopie à force atomique est une technique en pleine évolution. Cet exposé a été consacré à l’imagerie des surfaces de polymères. Il faut toutefois remarquer que cette technique est aussi très utilisée en nanotribologie et en nanomécanique. Si l’avènement du mode intermittent a permis d’augmenter de façon notable la résolution des images de surface de polymères, l’interprétation du contraste des images est loin d’être totalement résolue. Actuellement, de nombreuses équipes étudient les interactions pointe-surface et essaient d’établir les conditions expérimentales qui conduisent soit à une image de type topographique, soit à une image de type mécanique. La microscopie à force atomique est également utilisée pour l’étude de la topographie de surface d’autres matériaux tels que les céramiques, les semi-conducteurs, les métaux... Cependant, lorsque les matériaux s’oxydent facilement à l’air, il est nécessaire de placer le microscope en atmosphère contrôlée ou sous vide ; ces conditions sont indispensables si on veut obtenir une résolution atomique.
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BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - BINNIG (G.), QUATE (C.F.), GERBER (C.) - Atomic force microscope. - Phys. Rev. Lett., 12, p. 930-933 (1986).
-
(2) - MIZES (H.A.), LOH (K.J.), MILLER (R.J.P.), AHUJA (S.K.), GRABOWSKI (E.F.) - Submicron probe of polymer adhesion with atomic force microscopy. - Appl. Phys. Lett., 59, p. 2901-2903 (1991).
-
(3) - MAGONOV (S.N.) - Atomic force microscopy of polymers and related compounds. - Polymer Science, 38, p. 143-182 (1997).
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(4) - WEISENHORN (A.L.), HANSMA (P.K.), ALBRECHT (T.R.), QUATE (C.F.) - Forces in atomic force microscopy in air and water. - Appl. Phys. Lett., 54, p. 2651-2653 (1989).
-
(5) - WITTMAN (J.-C.) - Orientation de matériaux organiques sur un substrat de Teflon. - Images de la Physique, CNRS Éd., p. 69-78 (1995).
-
(6) - COLLIN (B.), CHATENAY (D.), COULON (G.), AUSSERRE (D.), GALLOT (Y.) - Ordering...
ANNEXES
1 À lire également dans nos bases
ERARD (L.) - Organisation de la métrologie en France. Le LNE. - [R 60] Traité Mesures : généralités (2006).
RIVOAL (J.-C.) - FRETIGNY (C.) - Microscopie à force atomique (AFM). - [R 1 394] Traité Mesures mécaniques et dimensionnelles (2005).
ROBLIN (G.) - Microscopies optiques à balayage. - [R 6 714] Traité Mesures mécaniques et dimensionnelles (1999).
SALVAN (F.) - THIBAUDAU (F.) - Microscopie à sonde locale. - [P 895] Analyse et caractérisation (1999).
VAN LABEKE (D.) - Microscopie optique en champ proche. - [P 862] Traité Techniques d'analyse (1998).
HAUT DE PAGE2.1 Constructeurs – Fournisseurs – Distributeurs (liste non exhaustive)
Advanced Technologies Center (ATC) http://www.nanoscopy.net
Elexience http://www.elexience.fr
Fondis Electronic http://www.fondiselectronic.com
Novascan http://www.novascan.com
Oxford...
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