Bibliographie & annexes
Présentation
Auteur(s)
-
Institut de Soudure : Association
Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.
Lire l’articleINTRODUCTION
Ce bulletin de veille fait état des principales évolutions normatives survenues au cours des dernières semaines ; on notera tout particulièrement les éléments suivants :
-
soudage : une nouvelle série de normes sur le soudage par friction-malaxage par points ; les 5 parties qui la composent traitent successivement de la terminologie, de la conception des assemblages, de la qualification du personnel et de modes opératoires et des exigences de qualité et de contrôle ; révision de la norme de classification des produits d’apport pour le soudage du cuivre et de ses alliages ;
-
plastiques : révision de la série de normes sur la détermination de la dureté des produits en caoutchouc vulcanisé ou thermoplastique ;
-
contrôles et essais : révision de la norme relative aux essais de traction à températures élevées pour les matériaux métalliques et de la norme traitant de la mesure de la vitesse de propagation des fissures de corrosion ; révision de la spécification applicable aux organismes de formation du personnel chargé des contrôles non destructifs ;
-
équipements sous pression : nouveaux amendements aux normes relatives aux matériaux et à la conception des récipients sous pression non soumis à la flamme ;
-
tuyauteries industrielles : nouveaux amendements à la norme spécifiant les matériaux utilisés pour les tuyauteries industrielles métalliques ;
-
nucléaire : nouvelle norme sur les exigences techniques essentielles pour les composants mécaniques et les structures métalliques destinés au réacteurs de quatrième génération ;
-
hygiène et sécurité : deux nouvelles norme sur la mesure et l’évaluation de l’exposition par inhalation aux nanoparticules.
L'expertise technique et scientifique de référence
DOI (Digital Object Identifier)
Cet article fait partie de l’offre
Veille normative et réglementaire
(69 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Présentation
Métrologie11. Analyse chimique
ISO 13084, Analyse chimique des surfaces – Spectrométrie de masse des ions secondaires – Étalonnage de l’échelle de masse pour un spectromètre de masse des ions secondaires à temps de vol
Remplace ISO 13084 ( de mai 2011).
Surface chemical analysis – Secondary-ion mass spectrometry – Calibration of the mass scale for a time-of-flight secondary-ion mass spectrometer
This document specifies a method to optimize the mass calibration accuracy in time-of-flight secondary ion mass spectrometry (SIMS) instruments used for general analytical purposes. It is only applicable to time-of-flight instruments but is not restricted to any particular instrument design. Guidance is provided for some of the instrumental parameters that can be optimized using this procedure and the types of generic peaks suitable to calibrate the mass scale for optimum mass accuracy.
Publié par ISO le 01/11/2018
ISO 16129, Analyse chimique des surfaces – Spectroscopie de photoélectrons X – Modes opératoires d’évaluation de la performance au jour le jour d’un spectromètre de photoélectrons X
Remplace ISO 16129 ( d’avril 2012).
Surface chemical analysis – X-ray photoelectron spectroscopy – Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
This document is designed to allow the user to assess, on a regular basis, several key parameters of an X-ray photoelectron spectrometer. It is not intended to provide an exhaustive performance check, but instead provides a rapid set of tests that can be conducted frequently. Aspects of instrument behaviour covered by this document include the vacuum, measurements of spectra of conductive or non-conductive test specimens and the current state of the X-ray source. Other important aspects of the instrument performance (e.g. lateral resolution) fall outside the scope of this document. The document is intended for use with commercial X-ray photoelectron spectrometers equipped with a monochromated Al Ka X-ray source or with an unmonochromated Al or Mg Ka X-ray source.
Publié par ISO le 01/11/2018
L'expertise technique et scientifique de référence
Cet article fait partie de l’offre
Veille normative et réglementaire
(69 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Analyse chimique
DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES
L'expertise technique et scientifique de référence
Cet article fait partie de l’offre
Veille normative et réglementaire
(69 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
