Présentation
En anglaisRÉSUMÉ
La microscopie électronique à balayage MEB, ou « Scanning Electron Microscopy » SEM, est une technique puissante d'observation de la topographie des surfaces. Cette technique est fondée principalement sur la détection des électrons secondaires émergents de la surface sous l'impact d'un très fin pinceau d'électrons primaires qui balaye la surface observée. Elle permet d'obtenir des images avec un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm et une grande profondeur de champ. Les différentes parties de l'instrument sont décrites : les sources d'électrons, la colonne électronique et les différents détecteurs.
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Scanning electron microscopy (SEM) is a powerful technique for the observation of surface topography. This technique is principally based upon the detection of secondary electrons emerging from the surface under the impact of a very fine beam of primary electrons that scans the surface observed. It allows for obtaining images with a separative power that is often of below 5 nm and a large depth of field. The various parts of the device are described: the electron sources, electron column and the various signal detectors.
Auteur(s)
-
Jacky RUSTE : Ingénieur INSA - Docteur ingénieur senior EDF
INTRODUCTION
La microscopie électronique à balayage MEB (ou « Scanning Electron Microscopy » SEM) est une technique puissante d'observation de la topographie des surfaces. Elle est fondée principalement sur la détection des électrons secondaires émergents de la surface sous l'impact d'un très fin pinceau d'électrons primaires qui balaye la surface observée et permet d'obtenir des images avec un pouvoir séparateur souvent inférieur à 5 nm et une grande profondeur de champ.
La MEB utilise, en complément, les autres interactions des électrons primaires avec l'échantillon : émergence des électrons rétrodiffusés, absorption des électrons primaires, ainsi que l'émission de photons X et parfois celle de photons proches du visible. Chacune de ces interactions est souvent significative de la topographie et/ou de la composition de la surface.
L'instrument permet de former un pinceau quasi parallèle, très fin (jusqu'à quelques nanomètres), d'électrons fortement accélérés par des tensions réglables de 0,1 à 30 kV, de le focaliser sur la zone à examiner et de la balayer progressivement. Des détecteurs appropriés, détecteurs d'électrons spécifiques (secondaires, rétrodiffusés, parfois absorbés...), complétés par des détecteurs de photons, permettent de recueillir des signaux significatifs lors du balayage de la surface et d'en former diverses images significatives.
Le présent article [P 865] rappelle les interactions sources d'imagerie et la constitution de l'instrument courant. L'article [P 866] précise la formation des images, les sources de contrastes, les récents développements de l'instrument et les diverses applications.
Cet article correspond à la mise à jour de l'article écrit par Henri PAQUETON et Jacky RUSTE en 2006.
KEYWORDS
materials | electronics | Electron microscopy | imagery
VERSIONS
- Version archivée 1 de juil. 1986 par Claude LE GRESSUS
- Version archivée 2 de mars 2006 par Henri PAQUETON, Jacky RUSTE
- Version courante de sept. 2024 par François BRISSET, Jacky RUSTE
DOI (Digital Object Identifier)
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2. Rappels sur les interactions électron-matière
Lorsqu'un faisceau électronique d'énergie E0 pénètre dans un échantillon solide, il subit un certain nombre d'interactions, élastiques et inélastiques. Les interactions inélastiques provoquent une perte progressive de son énergie, pour une grande part par transfert aux électrons des orbitales atomiques et pour une moindre part par perte radiative lors de l'interaction avec le noyau (le rayonnement de freinage appelé encore souvent Bremsstrahlung suivant le terme allemand historique). Les interactions élastiques, principalement avec le noyau, induisent en outre des variations plus ou moins brutales de la direction des électrons incidents (« diffusion »). La résultante de ces interactions induit pour chaque électron une « trajectoire électronique », de longueur finie et de forme aléatoire.
Par simulation numérique, suivant une méthode de Monte Carlo qui modélise les chocs aléatoires de l'électron incident avec les atomes de la cible, il est possible de visualiser des exemples de ces trajectoires (figure 2).
Ces interactions conduisent globalement, comme le schématise la figure 3 aux émissions suivantes :
-
une émission électronique rétrodiffusée, constituée d'électrons primaires qui, après avoir subi un certain nombre de chocs élastiques avec les noyaux atomiques et inélastiques avec les électrons orbitaux, retrouvent la surface et ressortent de la cible (avec une énergie plus ou moins proche de E0) ;
-
une émission électronique secondaire, de faible énergie (typiquement de l'ordre de 10 eV) : celle-ci résulte soit de l'émergence d'électrons primaires très fortement ralentis par des chocs inélastiques, soit plus généralement de l'éjection d'électrons (principalement de valence) arrachés aux atomes par ionisation ;
-
une émission d'électrons Auger, due à un mécanisme de désexcitation Auger après ionisation et constituée d'électrons d'énergie caractéristique (c'est-à-dire caractéristique de l'élément chimique excité) ;
-
un courant d'électrons absorbés, principalement constitué des électrons primaires qui ne se sont pas échappés et qui sont généralement évacués vers la masse ; mais...
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BIBLIOGRAPHIE
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(2) - ARNAL (F.), VERDIER (P.), VINCINSINI (P.D.) - * - CR acad. Sci., Paris, 268, p. 1526 (1969).
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-
(6) - SELME (P.) - La microscopie électronique. - PUF, Que sais-je no 1045 (1963).
-
...
ANNEXES
GNMEBA : deux réunions annuelles, une réunion thématique au printemps et une réunion pédagogique en décembre à Paris et tous les 5-6 ans une école d'été (la dernière a eu lieu en 2012 à Lille) http://www.gn.meba.org
EMAS : congrès européen tous les 2 ans et un colloque régional tous les 2 ans en alternance http://www.emas-web.net
SFmu : réunion bisannuelle. http://www.sfmu.org
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ISO TC202 Analyse par microfaisceau – microscopie électronique à balayage :
-
TC202/SC1 : terminologie
-
TC202/SC2 : la microanalyse par sonde électronique
-
TC202/SC4 : la microscopie électronique à balayage.
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