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| Réf : RE5 v1

Anharmonicité et décalage Raman sous contraintes
Imagerie Raman de matériaux et dispositifs hétérogènes

Auteur(s) : Philippe COLOMBAN

Date de publication : 10 juin 2002

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INTRODUCTION

La microspectrométrie Raman peut imager in situ l’état des contraintes mécaniques et les propriétés physico-chimiques de matériaux ou de dispositifs hétérogènes. L’optimisation, le dimensionnement et la compréhension du vieillissement de ces systèmes sont ainsi facilités.

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VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v1-re5


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3. Anharmonicité et décalage Raman sous contraintes

Une des spécificités de la technique d’imagerie Raman est la double analyse physico-chimique et mécanique. En effet, comme son nom l’indique, la dynamique des atomes détermine les propriétés mécaniques. Les propriétés mécaniques macroscopiques d’un matériau hétérogène sont fonction de l’état de contrainte résiduel de ses constituants, fixé lors de l’élaboration (par le différentiel de dilatation entre phases) ou modifié ultérieurement. Une contrainte Δσ appliquée à l’échelle macroscopique va se répercuter à l’échelle moléculaire ou atomique par une déformation Δε (%) des liaisons chimiques et vice versa. Il en résulte un déplacement direct du nombre d’ondes ν (cm−1) caractéristique des modes de vibration.

On rappelle que :

Δσ = E × Δε

avec :

E
 : 
le module d’Young.

Dans l’approximation harmonique, le nombre d’onde d’un phonon est indépendant de la pression et, plus généralement, de toute contrainte, ainsi que de la température : la distance interatomique moyenne est fixe. Un potentiel anharmonique, par exemple un potentiel de Morse, est donc nécessaire pour rendre compte des déplacements Raman. Ainsi, un mode Raman de nombre d’onde νi d’un composé soumis à un allongement Δε ou à une contrainte Δσ se décalera suivant la loi suivante :

( 1 )

S est un coefficient généralement négatif (ν baisse en tension, augmente en compression) dont la valeur est fonction de l’anharmonicité de la liaison considérée (figure 10).

À l’échelle de la liaison chimique, la force de rappel qui s’exerce sur les atomes est égale à :

F = − kΔε

L’analogie...

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BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - BEYERLEIN (L.J.), AMER (M.S.), SCHADLER (L.S.), PHOENIX (S.L.) -   New Methodology for Determining in-situ Fibre, Matrix and Interfaces Stresses in Damaged Multifiber Composites  -  . Science and Engineering Composites Materials, 7 (1-2), 151-204, 1998.

  • (2) - COLOMBAN (Ph.), CORSET (J.) -   Special Issue on Raman micro-Spectrometry of Materials  -  . J. Raman Spectroscopy, 30 (10), 1999.

  • (3) - COLOMBAN (Ph.) -   La Micro-spectrométrie Raman, outil d’analyse des composites et multimatériaux – État de l’art et perspectives  -  . Compte-Rendus des Douzièmes Journées Nationales des Composites (JNC-12), Cachan, 15-17 nov., vol. 1, 501-510, AMAC, Paris.

  • (4) - DE WOLF (I.) -   Stress Measurements in Si Microelectronics Devices using Raman Spectroscopy  -  . J. Raman Spectroscopy, 30 (10), 877-883, 1999.

  • (5) - GOUADEC (G.), COLOMBAN (Ph.), BANSAL (N.P.) -   Raman study of Hi-Nicalon-Fiber-Reinforced Celsian Composites. I : Distribution and Nanostructure of Different Phases. II : Residual Stress in Fibers  -  . J. Am. Ceram. Soc., 84 (5), 1129-35, 1136-42, 2001.

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