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Philippe COLOMBAN
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La microspectrométrie Raman peut imager in situ l’état des contraintes mécaniques et les propriétés physico-chimiques de matériaux ou de dispositifs hétérogènes. L’optimisation, le dimensionnement et la compréhension du vieillissement de ces systèmes sont ainsi facilités.
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- Version courante de août 2013 par Philippe COLOMBAN
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Anharmonicité et décalage Raman sous contraintes2. Analyse de phases et imagerie
La microspectrométrie Raman est une des rares méthodes permettant une identification, non seulement des phases constituantes d’un solide hétérogène, mais aussi de leur degré de désordre et de leur orientation (texture), cela avec une résolution latérale de quelques microns.
Par rapport à la spectroscopie infrarouge, la spectroscopie Raman offre l’avantage de la finesse de ses pics (la largeur des pics devient une information importante, en particulier pour les composés mal cristallisés ou amorphes) et d’être une méthode optique classique. L’excitation et la collection de la lumière diffusée se font au travers d’une optique usuelle, la résolution pouvant être micronique. De nombreux matériaux peuvent être analysés sans aucune préparation.
Par rapport à l’analyse par diffraction des rayons X, il est possible d’analyser les composés amorphes et seuls les systèmes à microfaisceaux ont une résolution comparable.
Par rapport aux méthodes utilisant un microscope électronique, l’analyse ne perturbe pas et peut être faite à distance (optique longue focale, liaison par fibre optique, etc.) sans préparation contraignante des échantillons.
Dans les Techniques de l’Ingénieur
Spectroscopie dans l’infrarouge [P 2 845] de M. Dalibart et L. Servant
Résolution d’une structure cristalline par rayons X [P 1 075] de Y. Jeanin
Détermination de structure cristalline par rayons X : méthodes numériques [P 1 076] de Y. Jeanin
Caractérisation de solides cristallisés par diffraction X ...
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Analyse de phases et imagerie
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - BEYERLEIN (L.J.), AMER (M.S.), SCHADLER (L.S.), PHOENIX (S.L.) - New Methodology for Determining in-situ Fibre, Matrix and Interfaces Stresses in Damaged Multifiber Composites - . Science and Engineering Composites Materials, 7 (1-2), 151-204, 1998.
-
(2) - COLOMBAN (Ph.), CORSET (J.) - Special Issue on Raman micro-Spectrometry of Materials - . J. Raman Spectroscopy, 30 (10), 1999.
-
(3) - COLOMBAN (Ph.) - La Micro-spectrométrie Raman, outil d’analyse des composites et multimatériaux – État de l’art et perspectives - . Compte-Rendus des Douzièmes Journées Nationales des Composites (JNC-12), Cachan, 15-17 nov., vol. 1, 501-510, AMAC, Paris.
-
(4) - DE WOLF (I.) - Stress Measurements in Si Microelectronics Devices using Raman Spectroscopy - . J. Raman Spectroscopy, 30 (10), 877-883, 1999.
-
(5) - GOUADEC (G.), COLOMBAN (Ph.), BANSAL (N.P.) - Raman study of Hi-Nicalon-Fiber-Reinforced Celsian Composites. I : Distribution and Nanostructure of Different Phases. II : Residual Stress in Fibers - . J. Am. Ceram. Soc., 84 (5), 1129-35, 1136-42, 2001.
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