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RÉSUMÉ
Les techniques de spectrométrie optique (SEO) sont nombreuses et très largement utilisées dans le domaine de l’analyse des matériaux solides et des échantillons liquides. Cet article traite de l’une d’entre elles, la spectrométrie d’émission optique à source étincelle, employée couramment en industrie pour l’analyse des matériaux solides métalliques. Il détaille son principe de fonctionnement, ainsi que son appareillage : statif d’étincelage, système optique de dispersion et de diffraction de la lumière, système de détection du rayonnement et traitement des données.
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Lire l’articleAuteur(s)
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Raymond MEILLAND : Ingénieur - Chef de service, Arcelor Research
INTRODUCTION
Dans le domaine de l’analyse chimique, la spectrométrie ou plutôt les spectrométries occupent un espace majeur, aussi bien pour l’analyse des matériaux solides que pour l’analyse des échantillons liquides (voire gazeux dans certains cas). Si l’on se restreint à la spectrométrie d’émission optique (SEO, ou « optical emission spectrometry » : OES), là encore, un ensemble de techniques est concerné, que ce soit la spectrométrie d’émission optique à source plasma (ICP-SEO), plus particulièrement utilisée pour l’analyse des échantillons liquides, la spectrométrie d’émission optique équipée d’une source à décharge luminescente plus orientée aujourd’hui vers le domaine de l’analyse des revêtements ou la spectrométrie d’émission optique à source laser en cours de développement industriel. Quant à la spectrométrie d’émission optique à source étincelle, dans le cadre de son utilisation courante dans l’industrie, elle est couramment appliquée à l’analyse des matériaux solides métalliques.
Cette technique est traitée en deux parties dans les dossiers Spectrométrie d’émission optique à source étincelle (partie 1) et Spectrométrie d’émission optique à source étincelle (partie 2).
VERSIONS
- Version archivée 1 de oct. 1991 par Gérard WILLAY
DOI (Digital Object Identifier)
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2. Appareillage
Un spectromètre d’émission optique est constitué de différentes parties (figure 10) qui sont :
-
le statif d’étincelage (§ 2.1) qui reçoit l’échantillon à analyser et dans lequel est dissipée l’énergie émise par le générateur d’étincelles (§ 2.2) ;
-
le système optique de dispersion et de diffraction de la lumière (§ 2.3) qui sépare la lumière en ses différentes composantes de longueurs d’onde ;
-
le système de détection du rayonnement (§ 2.4), qui transforme la lumière en une information électrique quantifiable, constitué généralement par des photomultiplicateurs ;
-
le système de calcul (§ 2.5) intégrant le modèle mathématique de traitement des données qui fournit les résultats quantifiés de l’analyse.
2.1 Statif d’étincelage
Cette partie du spectromètre, schématisée sur la figure 11, reçoit l’échantillon qui constitue l’une des électrodes du circuit de décharge. Le statif est un sous-ensemble...
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