Présentation
En anglaisRÉSUMÉ
La fréquence d'un signal est la mesure du nombre d'oscillations pendant une unité de temps. Mais en pratique, les signaux n’ont pas de fréquence stable et constante, ce qui rend l’approche de la mesure temps-fréquence complexe. Cet article a pour objet la présentation des compteurs travaillant en haute fréquence (supérieure à 300 MHz), ainsi que les mesures de bruit de phase. Ainsi, sont traitées les mesures de fréquence micro-ondes qui nécessitent de faire appel à des formes de conversion abaisseuse de fréquences. Ensuite, sont présentées les différentes techniques qui permettent de caractériser un signal dans le domaine fréquentiel.
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The frequency of a signal consists in measuring the number of oscillations during a unit of time. However, in practice, signals do not have a stable and constant frequency, which makes the time-frequency measurement approach more complex. This article presents high-frequency counters (above 300 MHz) and phase noise measurements. It thus deals with microwave frequency measurements which require using types of conversions which lower frequencies. The various techniques which allow for the characterization of a signal in the frequency domain are then presented.
Auteur(s)
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Fabrice STHAL : Professeur des Universités à l'ENSMM - Institut FEMTO-ST, département Temps-Fréquence, Besançon
-
Enrico RUBIOLA : Professeur des Universités à l'UFC - Institut FEMTO-ST, département Temps-Fréquence, Besançon
INTRODUCTION
Dans un premier dossier [R 686] sont présentés les principes de comptage ainsi que les compteurs de base utilisés dans le domaine temporel. Les techniques d’amélioration de la résolution pour obtenir des appareils de mesure plus précis sont abordées dans un second dossier [R 687].
Dans ce dossier [R 688], nous nous concentrons sur les compteurs travaillant sur les fréquences supérieures à 300 MHz, ainsi que sur les mesures de bruit de phase.
Après avoir passé en revue les différents principes des compteurs, il est nécessaire d'apporter des compléments dans le cas des compteurs micro-ondes. En effet, les limites des composants électroniques nécessitent différentes techniques pour ramener les mesures de fréquence micro-ondes dans le domaine usuel. Elles sont décrites dans notre premier paragraphe.
La dualité temps-fréquence fait qu'il peut être intéressant de caractériser un signal non pas dans le domaine temporel mais dans le domaine fréquentiel. Les différentes techniques sont abordées dans le deuxième paragraphe.
Il existe aujourd'hui des appareils à techniques numériques très compacts et performants capables de faire les deux caractérisations. C'est l'objet de notre dernier paragraphe.
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2. Mesure du bruit de phase
2.1 Généralités
La caractérisation de la fréquence dans le domaine spectral passe par un certain nombre d’instruments de mesure spécifiques qui viennent s’ajouter aux compteurs que nous venons d’étudier pour la caractérisation dans le domaine temporel. Un signal est caractérisé soit :
-
par sa densité spectrale de puissance (DSP) des fluctuations de phase ;
-
par sa DSP des fluctuations de fréquence (si la fréquence porteuse du signal est précisée) ;
-
par la DSP des fluctuations relatives de fréquence.
On perd ainsi la notion de valeur absolue de la fréquence, contrairement au domaine temporel, où l’on mesure la valeur de la fréquence moyenne, la variance et la dérive. La technique de mesure du bruit de phase se prête bien à la caractérisation des fluctuations rapides de fréquence correspondant au phénomène lent dans le domaine temporel.
pour des informations complémentaires sur les notions théoriques, le lecteur pourra se reporter à la bibliographie .
Par définition, la DSP des fluctuations de phase est la transformée de Fourier de sa fonction d’autocorrélation de puissance. Cependant, en s’appuyant sur l’équation ...
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Mesure du bruit de phase
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - VERNOTTE (F.) - Stabilité temporelle et fréquentielle des oscillateurs : modèles - [R 680], Mesures et test électroniques (2006).
-
(2) - VERNOTTE (F.) - Stabilité temporelle et fréquentielle des oscillateurs : outils d’analyse - [R 681], Mesures et test électroniques (2006).
-
(3) - GIORDANO (V.), RUBIOLA (E.) - Synthèse de fréquence - [E 330], Électronique (2002).
-
(4) - GIORDANO (V.) - Génération de fréquence - [R 682], Mesures et test électroniques (2007).
-
(5) - DUBUS (J.P.) - Fonction comptage des appareils : Bascules et compteurs - Mesures et contrôle (1998).
-
(6) - CHRONOS - La mesure de la fréquence des oscillateurs - Masson, 348 p (1991).
- ...
ANNEXES
1 Constructeurs et Fournisseurs
Aeroflex
Agilent Technologies
Anritsu Corporation
B&K Precision Corporation
Fluke Corporation
Pendulum Instruments AB
http://www.pendulum-instruments.com
M/A-COM
Mini-circuits
Stanford Research Systems
Symmetricom
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