Présentation
EnglishRÉSUMÉ
Cet article s’intéresse à la réflexion de la lumière par une surface métallique lisse ou rugueuse et à la simulation de son apparence visuelle. Les données fondamentales gouvernant le comportement optique des métaux et milieux conducteurs sont rappelées et de nombreuses valeurs des indices de réfraction complexes des éléments métalliques sont données en annexe. Les propriétés optiques de quelques alliages et minéraux à éclat métallique sont également présentées. Les rudiments théoriques exposés sont appliqués à la simulation de l'apparence visuelle d'alliages binaires ; l'exemple abordé concerne les bronzes (alliages de cuivre et d'étain) mais aussi l'électrum. Les méthodes classiques pour obtenir ces données fondamentales que sont les indices de réfraction complexes sont brièvement décrites.
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Patrick CALLET : Chercheur associé - CAOR-Centre de Robotique de Mines-Paris Tech - PSL Research University - Président du Centre Français de la Couleur - Laboratoire MICS, Centrale Supélec, Université Paris-Saclay - École Centrale Paris Châtenay-Malabry, France
INTRODUCTION
Nous nous intéressons ici à la réflexion de la lumière par une surface métallique lisse ou rugueuse et à la simulation de son apparence visuelle. Les données fondamentales gouvernant le comportement optique des métaux et milieux conducteurs sont rappelées et de nombreuses valeurs des indices de réfraction complexes des éléments métalliques sont données en annexe. Les propriétés optiques de quelques alliages et minéraux à éclat métallique sont également présentées. Ces données, plus que rares dans la littérature scientifique, ont permis de calculer l’apparence visuelle de quelques éléments métalliques et semi-métaux dans un grand état de pureté. Les rudiments théoriques présentés sont appliqués à la simulation de l’apparence visuelle d’alliages binaires ; l’exemple abordé concerne les bronzes (alliages de cuivre et d’étain) mais aussi l’électrum. Les méthodes classiques pour obtenir ces données fondamentales que sont les indices de réfraction complexes sont brièvement décrites. La matière n’étant pas la seule en cause dans l’interaction avec la lumière, et la vision qu’en a l’observateur, ne saurait être complètement décrite sans aborder les effets de l’éclairage. Nous montrons comment l’effet d’un éclairage ambiant orthotrope modifie la perception de l’éclat métallique, sorte de « non-éclat » dans ce cas précis. Ce calcul se fait par la détermination d’une intégrale particulière définissant une surface, nommée SWR. Nous en donnons une version graphique obtenue par intégration numérique dans le cas où la partie imaginaire de l’indice de réfraction n’est pas nulle. Il existe une réponse analytique au calcul de cette intégrale dans le cas où l’indice de réfraction est un nombre réel pur. L’influence d’un éclairage directionnel rend l’interprétation visuelle, la compréhension de ce qui est vu, plus habituelle ; c’est bien là le rôle des images obtenues par une synthèse spectrale d’image fondée sur l’usage exclusif de cette notion d’indice de réfraction complexe et présentées au fil du texte.
Il est recommandé, bien que pas absolument nécessaire au spécialiste, d’avoir lu la première partie de ce texte, intitulée « Le transparent, le translucide et l’opaque » [AF3252].
VERSIONS
- Version archivée 1 de juil. 2007 par Patrick CALLET
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3. Mesurer des indices de réfraction complexes
Nous avons vu dans les paragraphes précédents à la fois quelques propriétés théoriques et générales de l’indice de réfraction complexe, la rareté des sources bibliographiques pour s’en procurer, l’influence de la mise en forme et de la fabrication de l’échantillon sur les constantes optiques. Nous allons aborder maintenant l’acquisition des données, les méthodes utilisées pour caractériser des échantillons réels aussi purs et parfaits que possible ou bien tout à fait ordinaires.
L’expression la plus communément employée pour désigner la surface indicatrice de réflexion ou de transmission d’une surface matérielle donnée est une expression anglo-américaine de BRDF/BTDF (Bidirectional Reflectance/Transmittance Distribution Fonction). Lorsqu’il s’agit d’une indicatrice d’émission, pour une source réelle de lumière, on parle alors de solide photométrique. Cette expression désigne bien la dimension spatiale et spectrale de la manière de rayonner d’une source réelle de lumière. Ces notions de BRDF et BTDF sont abondamment employées en théorie du transfert radiatif (domaine infrarouge) et en synthèse d’image pour les applications de visualisation (domaine visible). Les mesurages effectués pour obtenir les différentes indicatrices sont donc à la fois angulaires et spectraux ; c’est cela l’objet même de la goniospectrophotométrie.
3.1 L’analyse de Kramers-Krönig
L’extraction des constantes optiques à partir du spectre de réflexion diffuse des poudres métalliques est une opération délicate rarement pratiquée. L’analyse de Kramers-Krönig est souvent préférée et porte, nous le verrons, sur la totalité du spectre électromagnétique mais, dans la pratique, se réduit aux contributions du proche infrarouge (IR), du visible et de l’ultraviolet (UV). Cette méthode simple permet d’obtenir un indice effectif spectral sans toutefois connaître les indices de réfraction des constituants. Comme les formules de Fresnel utilisent les valeurs de n(λ) et κ(λ) dans les milieux absorbants, leur connaissance revêt une importance particulière lorsque le matériau à décrire comporte une couche superficielle ayant elle-même un indice de réfraction complexe. Les données dont nous disposons en général sont les spectres de réflexion...
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BIBLIOGRAPHIE
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(1) - WEAVER (H.), KRAFKA (C.), LYNCH (D.W.), KOCH (E.E.) - Optical Properties of Metals, - volume 18-1 et 18-2. Fachinformationzentrum, 7514 Eggenstein-Leopoldhafen 2, Karlsruhe, Germany (1980).
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(2) - BORN (M.), WOLF (E.) - Principles of Optics – Electromagnetic Theory of Propagation, Interference and Diffraction of Light–. - Pergamon Press, Oxford (1975).
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(3) - FOURNET (G.) - Électromagnétisme. - [D1020] Génie électrique (1993).
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(5) - VERNES (A.), SZUNYOGH (L.), WEINBERGER (P.) - Limitations of the two-media approach in calculating magneto-optical properties of layered systems. - Physical Review B., 66(214404) : 1-5 (2002).
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