Bibliographie & annexes
Présentation
En anglais
RÉSUMÉ
Le gain de performance des appareils électroniques provient beaucoup de l'amélioration des caractéristiques des composants électroniques. Toutefois la vérification des caractéristiques de ces composants est délicate et dépend du type de composant à tester. La mesure des caractéristiques est nécessaire pour définir la fonctionnalité du composant, et pour la mise au point des procédés de fabrication. Pour réaliser les mesures des composants, il existe beaucoup d'appareils de mesure souvent complexes à utiliser. Il importe de choisir l'appareil adéquat et de respecter les précautions de mesures.
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The increased performances of electronic equipment is largely due to the improvement of electronic components. However verifying the characteristics of such components is a delicate operation which depends on the type of component to be tested. The measurement of the characteristics is necessary in order to define the functionality of the component and develop fabrication processes. Measurements of the components can be carried out using a large variety of measuring devices which are often complex to use. It is essential to choose the appropriate device and comply with measurement precautions.
Auteur(s)
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Patrick POULICHET : ESIEE
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Gilles AMENDOLA : ESIEE
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Christophe DELABIE : ESIEE
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Yves BLANCHARD : ESIEE
INTRODUCTION
Les performances des appareils électroniques ont fait des progrès considérables ces dernières années : en termes de miniaturisation, de communication, de consommation... Bien sûr, ce gain en performances est étroitement lié à l'amélioration des caractéristiques des composants électroniques. La vérification de ces caractéristiques peut être très délicate et elle dépend beaucoup du type de composant à tester.
La mesure est indispensable, à plus d'un titre :
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elle permet la définition des caractéristiques et de la fonctionnalité ;
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elle est nécessaire à la mise au point des procédés de fabrication ;
-
elle garantit la qualité d'une production en faisant apparaître les dérives des caractéristiques du produit à chaque étape de celle-ci ;
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elle assure le suivi de qualité, aussi bien du côté du fabricant que de l'utilisateur, et facilite l'instauration d'un climat de confiance entre client et fournisseur.
Pour réaliser les mesures des composants, il existe beaucoup d'appareils de mesure qui peuvent être complexes à utiliser. Il importe dans un premier temps de choisir l'appareil adéquat. Il importe également de respecter les précautions de mesures, car si elles ne sont pas respectées, cela se traduira par des erreurs de mesure.
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Dans le premier paragraphe, nous décrivons les moyens et les méthodes de mesure que sont les mesures de tension et courant, les mesures du temps et de la fréquence et les différents principes utilisés par les appareils pour la mesure d'impédances.
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Dans le deuxième paragraphe, nous décrivons les précautions de mesures à prendre pour réaliser des mesures fiables. Celles-ci sont très importantes et elles concernent le mode de connexion de l'appareil de mesure, la description des phases de calibration et de compensation, les mesures sous pointes.
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Le troisième et le quatrième paragraphes décrivent respectivement la mesure des bruits et la mesure de la compatibilité électromagnétique.
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Les dossiers suivants Mesure des composants électroniques- Partie 2 : mesure des composants passifs[R 1 079] et [R 1 080] seront consacrés à la mesure des composants passifs, puis des composants actifs.
Ce texte est la nouvelle édition de l'article Mesure des composants électroniques, rédigé en 1993 par Jean-Claude Gourdon et Paul Prodhomme, dont il reprend quelques extraits.
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Moyens et méthodes de mesure
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4. Mesures de la compatibilité électromagnétique
Pour prévoir le comportement de la compatibilité électromagnétique (CEM) d'une carte, il est parfois important de tester le comportement de composant individuel. Par exemple, les émissions parasites d'un microcontrôleur sont mesurées quand il est utilisé pour certaines applications, le comportement d'un transformateur est analysé en fonction de la fréquence pour prévoir les courants de conduction entre le primaire et le secondaire.
Les tests CEM se font en conduction et en émission. Il est testé séparément la susceptibilité et l'émission des dispositifs. Les composants sont également testés avec des décharges électrostatiques pour vérifier qu'ils fonctionnent sans défaut. Pour en savoir plus sur la CEM, on se reportera à l'article [D 1 900]-[E 3 750] ([8] de [Doc. R 1 078v2]).
4.1 Mesures en conduction
La mesure des courants renvoyés vers le secteur ou l'alimentation par l'appareil à tester se fait à l'aide d'un dispositif se connectant entre l'appareil à tester et le secteur, dispositif appelé « réseau de stabilisation d'impédance de ligne » (RSIL). Cet appareil permet de séparer les courants de conduction à la fréquence du secteur des harmoniques aux fréquences beaucoup plus élevées. Il permet aussi de présenter une impédance constante pour le récepteur de la perturbation. Enfin, il isole le récepteur des perturbations secteur.
La figure 30 compare la mesure des différents harmoniques du courant mesuré avec un gabarit correspondant à une norme donnée. La figure donne le schéma de principe de la mesure. Dans le cas de la figure a, la norme de CEM est respectée mais pas dans le...
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BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - Agilent - Fundamentals of Microwave Frequency Counters. - Argilent Technologies, USA (1997). Disponible sur Internet http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5965-7661E.pdf.
-
(2) - PACAUD (A.), DAMBRINE (G.) - Mesures en radiofréquences – Méthodes de mesure et appareillage. - [R 1 135] Base documentaire Mesures et tests électroniques (1997).
-
(3) - Agilent - The Impedance Measurement Handbook, A Guide to Measurement Technology and Techniques. - Agilent Technologies Co. Ltd., USA, juil. 2006. Disponible sur le site Internet http://www.agilent.com.
-
(4) - ACHKAR (J.) - Analyseurs de réseaux en micro-ondes. - [R 1 145] Base documentaire Mesures et tests électroniques (2006).
-
(5) - Agilent - Applying the 8510 TRL Calibration for Non-Coaxial Measurements. - Product Note 8510-8A. Agilent technologies, USA, mai 2001. Disponible sur le site http://www.agilent.com.
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1 À lire également dans nos bases
SKOTNICKI (T.) - Transistor MOS et sa technologie de fabrication. - [E 2 430] Base documentaire Électronique (2000).
LETURCQ (P.) - Semi-conducteurs de puissance unipolaires et mixtes (partie 2). - [D 3 109] Base documentaire Convertisseurs et machines électriques (2002).
ACHKAR (J.) - Analyseurs de réseaux en micro-ondes. - [R 1 145] Base documentaire Mesures et tests électroniques (2006).
PREVOT (C.) - Conversions analogique-numérique et numérique-analogique (partie 1). - [E 370] Base documentaire Électronique (2004).
PREVOT (C.) - Conversions analogique-numérique et numérique-analogique (partie 2). - [E 371] Base documentaire Électronique (2004).
PREVOT (C.) - Conversions analogique-numérique et numérique-analogique (partie 3). - [E 372] Base documentaire Électronique (2004).
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