Comparaison avec quelques autres méthodes d’analyse locale
Microsonde nucléaire - Applications

Le tableau 1 indique les caractéristiques des méthodes d’analyse élémentaire locale le plus souvent utilisées. Ce sont des caractéristiques moyennes et les informations apportées par les différentes méthodes sont plus souvent complémentaires que concurrentes. Ainsi, les deux premières méthodes concernent les premières couches atomiques, ce qui n’est pas le cas de la microsonde nucléaire.

La microsonde électronique a le même domaine d’application que la méthode PIXE ( particle induced X-ray emission) mais avec une sensibilité et une profondeur d’analyse beaucoup plus faibles. En revanche, des observations avec une résolution de l’ordre de 10 nm sont possibles, ce qui permet de corréler la composition élémentaire aux nanostructures.

Toujours dans le domaine de l’analyse X, les microsondes utilisant le rayonnement synchrotron peuvent désormais atteindre une taille de faisceau de 1 µm au moyen d’un système de focalisation par lentilles elliptiques multicouches de Bragg-Fresnel ou de capillaires [115] [116] [117]. Avec les nouvelles sources synchrotron, particulièrement brillantes, en cours de développement, cette méthode devrait conduire, sans dommage pour l’échantillon, à des sensibilités meilleures d’un ou deux ordres de grandeur que celles obtenues par la méthode PIXE, surtout pour les éléments lourds ( cf. Rayonnement synchrotron et applications ). En effet, ces éléments ont des sections efficaces d’ionisation relativement faibles avec des protons de quelques mégaélectronvolts, alors qu’ils peuvent être excités sélectivement par effet photoélectrique avec un rayonnement d’énergie adaptée à leur nature. Enfin, les échantillons peuvent être examinés sous pression, sans dégrader la qualité...