1 - PRÉSENTATION GÉNÉRALE

• 1.1 - Ionisation des niveaux électroniques de cœur
• 1.2 - Désexcitation des atomes
  Figure 1 - Excitation de l'atome lors d'une interaction inélastique de l'électron incident avec un électron de cœur de l'atome de l'échantillon et processus de désexcitations ultérieurs par émission X ou d'un électron Auger

2 - SPECTROSCOPIE DES PERTES D'ÉNERGIE DES ÉLECTRONS

• 2.1 - Spectromètre
  Figure 2 - Schéma d'un spectromètre de pertes d'énergie des électrons (secteur magnétique) avec l'acquisition du spectre en parallèle
• 2.2 - Spectres
  Figure 3 - Spectre de pertes d'énergie typique d'une lame relativement épaisse d'aluminium et spectre de pertes proches typique d'une lame très mince (carbure de chrome), spectre (a) M. Stöger-Pollach, Université Technologique, Vienne, spectre (b) W. Rechberger, Université Technologique, Graz Figure 4 - Seuils d'ionisation du spectre de pertes d'énergie d'un acier au chrome contenant des précipités de nitrure de vanadium (VN), spectre F. Hofer, Université Technologique, Graz  Figure 5 - Détection des éléments dans une smectite du Wyoming. Le type de seuil, K, L, est indiqué, d'après  Figure 6 - Seuils d'ionisation idéalisés (modèle hydrogénique)
• 2.3 - Structure des seuils d"ionisation
  Figure 7 - Seuil d'ionisation K du Mg dans MgO sans fond continu avec la structure fine ELNES et EXELFS, spectre C. Hébert, Université Technologique, Vienne Figure 8 - Différences dans la structure fine du seuil L2-3 du nickel comme métal pur et dans les composés intermétalliques Ni3Al et NiAl, spectres D. A. Muller, Cornell University, Ithaca, NY 
• 2.4 - Microscopie filtrée en énergie
  Figure 9 - Schéma d'un filtre imageur « oméga » incorporé dans la colonne du microscope Figure 10 - Principe du filtre GIF (Gatan imaging filter ), qui peut être installé en bas de la colonne de tout microscope électronique à transmission, dans la même position que le spectromètre de pertes d'énergie Figure 11 - Représentation schématique des données de spectre image

3 - SPECTROSCOPIE X À DISPERSION D'ÉNERGIE

• 3.1 - Spectromètre
• 3.2 - Spectres
  Figure 15 - Rendement de l'émission X en fonction du numéro atomique Z, en comparaison avec l'émission des électrons Auger Figure 16 - Image en STEM d'un alliage à base de Ni et Cr et la cartographie EDXS en Ni et Cr de la partie encadré effectuée avec un pas de 150 nm, clichés J. Bernardi, Université Technologique, Vienne
• 3.3 - Artefacts fréquents en analyse EDXS
• 3.4 - Cartographie X élémentaire