Bibliographie & annexes
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RÉSUMÉ
Depuis plus d'un siècle, il était admis pour des raisons théoriques que la résolution optimale des microscopes classiques était limitée à environ 250 nm. La microscopie optique en champ proche permet aujourd'hui de dépasser cette barrière. En se basant sur l'observation de la lumière diffractée par l'objet à seulement quelques nanomètres de sa surface, cette optique nouvelle donne accès au comportement des matériaux en réponse à une excitation électromagnétique avec une résolution de quelques nanomètres, ce qui constitue une avancée technologique spectaculaire dans le domaine.
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For over a century, it had been stated for theoretical reasons that the optimal resolution of traditional microscopes was limited to around 250 nm. The near-field optical microscopy now allows for going beyond this limit. Based upon the observation of the light diffracted by the object at only a few nanometers of its surface, this new optics provides access to the behavior of materials in response to an electromagnetic excitation with a resolution of a few nanometers which represents a spectacular technological breakthrough in this domain.
Auteur(s)
INTRODUCTION
Depuis plus d'un siècle, il était admis pour des raisons théoriques que la résolution optimale des microscopes classiques était limitée à environ 250 nm. La microscopie optique en champ proche permet aujourd'hui de dépasser cette barrière. En se basant sur l'observation de la lumière diffractée par l'objet à seulement quelques nanomètres de sa surface, cette optique nouvelle nous donne accès au comportement des matériaux en réponse à une excitation électromagnétique avec une résolution de quelques nanomètres, ce qui constitue une avancée technologique spectaculaire dans le domaine.
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5. Conclusion
Le domaine des microscopies à sonde locale est en pleine expansion et de plus en plus d'équipes de chercheurs y travaillent aujourd'hui à travers le monde. La microscopie en champ proche pose encore certaines difficultés théoriques et expérimentales, notamment dans l'interprétation des résultats ou dans la fabrication de sondes toujours plus fines. La prochaine révolution technologique ne pourra se faire sans une compréhension parfaite des phénomènes physiques, tant électromagnétiques que mécaniques, qui se déroulent à l'échelle atomique. Il serait cependant réducteur de ne considérer les performances de cette technique qu'en termes de résolution. Sa richesse et sa puissance, contrairement à l'AFM ou au TEM (Transmission Electron Microscope) où les résolutions atteintes peuvent être quasi atomiques, sont de donner accès à des informations autres que simplement la topographie de l'objet ou l'arrangement atomique et de mesurer les caractéristiques électromagnétiques intrinsèques de la matière. Qui plus est, la lumière possède de nombreux paramètres (longueur d'onde, polarisation...) qui, en les faisant varier, multiplient la quantité d'informations que l'on peut extraire d'un objet. Les perspectives offertes par le champ proche surpassent de loin le cadre de la simple microscopie et ouvrent la voie à une optique nouvelle : l'optique non radiative, basée sur l'utilisation d'ondes non progressives.
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BIBLIOGRAPHIE
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