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EnglishRÉSUMÉ
La caractérisation chimique de la matière à l’échelle nanométrique est un enjeu majeur. Cet article présente une technologie innovante, appelée AFM-IR, capable de réaliser des mesures de spectroscopie et d’imagerie infrarouge à l’échelle de quelques nanomètres. Dans un premier temps, le principe de fonctionnement et les développements de cette nouvelle microscopie seront abordés. Puis quelques applications illustrant les capacités de la technique seront présentées pour les domaines les plus significatifs : science des polymères, pharmaceutique, et biologie.
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Lire l’articleAuteur(s)
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Alexandre DAZZI : Professeur des universités, docteur en physique de l’université de Bourgogne - Laboratoire de Chimie-Physique, université Paris-Sud, Orsay, France
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Ariane DENISET-BESSEAU : Maître de conférences, docteur en physico-chimie de l’université Paris-Sud - Laboratoire de Chimie-Physique, université Paris-Sud, Orsay, France
INTRODUCTION
La spectromicroscopie infrarouge (IR) est une technique efficace pour identifier chimiquement les composés d’un échantillon (par leurs spectres infrarouges) et les localiser spatialement. Cependant, la principale limitation de cette technique infrarouge « classique » est sa résolution spatiale : celle-ci est imposée par la partie optique et est de l’ordre de quelques micromètres.
C’est dans ce contexte que la technique d’AFM-IR a été développée pour permettre de réaliser des études IR (spectres d’absorption et cartographies) à l’échelle de quelques nanomètres. Cette technologie en pleine expansion est basée sur le couplage entre un microscope à force atomique (AFM) et un laser IR accordable pulsé. L’idée principale est de s’affranchir de la détection optique pour étudier l’interaction des photons infrarouges avec la matière, pour ne pas être limité par la diffraction de la lumière. Pour cela, on suit l’effet photothermique associé à l’absorption de la lumière infrarouge.
Pour faire ce type de mesure, l’échantillon est imagé par AFM (topographie de surface) puis illuminé avec la source laser IR. La pointe du microscope à force atomique qui est en contact avec l’échantillon est alors utilisée pour détecter l’effet photothermique induit dans l’échantillon suite à l’absorption du rayonnement IR : si la longueur d’onde du laser correspond à une bande d’absorption de l’échantillon, alors une partie de la lumière est absorbée puis convertie sous forme de chaleur. Ceci crée une augmentation locale de température. Cette augmentation de température induit la dilatation de l’échantillon qui repousse la pointe de l’AFM. Cette poussée est extrêmement rapide et est ressentie comme un choc dans la pointe engendrant l’oscillation du levier de l’AFM. L’avantage de cette approche est que l’amplitude des oscillations est proportionnelle à l’absorbance et permet d’atteindre une résolution de quelques nanomètres (grâce à la pointe de l’AFM).
Depuis 2012, cette technologie est utilisée, à travers le monde, en routine pour l’analyse infrarouge à l’échelle nanométrique que ce soit pour les académiques ou les industriels et ce dans des domaines aussi divers que la science des polymères, la microbiologie, la pharmacie ou encore l’étude des matériaux du patrimoine ou l’astrochimie.
Cet article propose de décrire le principe fondamental de cette technologie et d’expliquer son fonctionnement qui reste relativement simple et intuitif. C’est sans doute pour ces dernières raisons que cette technologie a pu séduire des scientifiques de différents horizons et est utilisée dans de nombreux domaines. Par la suite, l’article illustrera l’impact de cette technologie par la description de quelques applications récentes en sciences des polymères, en microbiologie et se terminera par la présentation des perspectives et les évolutions potentielles de la technique.
Points clés
Domaine : techniques d’imagerie et d’analyse chimique
Degré de diffusion de la technologie : croissante
Technologies impliquées : microscopie à force atomique et laser infrarouge
Domaines d’application : science des polymères, science de la vie, photonique, science des matériaux, pharmacie, patrimoine culturel
Principaux acteurs français :
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pôles de compétitivité
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centres de compétence
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industriels
Autres acteurs dans le monde :
https://www.anasysinstruments.com/
https://www.bruker.com/products/surface-and-dimensional-analysis.html
Contact : [email protected]/ http://www.lcp.u-psud.fr/spip.php?article358
DOI (Digital Object Identifier)
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3. Applications
Historiquement, la technique a d’abord été utilisée pour des applications en microbiologie et biologie cellulaire, pour détecter à l’échelle subcellulaire des entités exogènes ou endogènes . Sa commercialisation, en 2011, a permis de démocratiser la technique et d’élargir les domaines d’application. La science des matériaux (notamment polymères) est devenue la première utilisatrice, dans l’industrie comme l’académique. C’est, en effet, un domaine très demandeur en techniques analytiques novatrices pour identifier et cartographier la répartition des molécules d’intérêt ou structurantes dans les matériaux. Or, l’atout majeur de la technique réside dans sa capacité à analyser topographiquement et chimiquement de larges zones (jusqu’à 100 µm) avec une résolution sub-micrométrique. Elle permet de travailler sur un échantillon massif ou sur des coupes fines sans modification de surface et sans utilisation de marqueur ni de contrastant. Elle permet également d’évaluer rapidement la répartition des composants principaux d’un polymère, de repérer des changements de phase au sein de ce même matériau, des éventuelles dégradations, des hétérogénéités et des processus de désorption et/ou de diffusion d’adjuvants qui pourraient apparaître à la surface du matériau. Les applications ne se limitent pas aux matériaux organiques. Il est également possible de spécifier des hétérogénéités de composition ou de structure dans des matériaux inorganiques ...
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BIBLIOGRAPHIE
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DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES
ANNEXES
Équipe AFM-IR du laboratoire de chimie physique, université Paris-Sud.
http://www.lcp.u-psud.fr/spip.php?article358
HAUT DE PAGE
US patents (2008/0283,755 ; 2009/0249,521 ; 2011/0283,428 ; 2012/0050,718)
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