Bibliographie & annexes
Présentation
English
Auteur(s)
-
Yvette CAUCHOIS : Ancien Directeur du Laboratoire de chimie physique, Professeur émérite à l’Université Pierre et Marie Curie (Paris VI)
-
Jacques DESPUJOLS : Ingénieur de l’École Centrale des Arts et Manufactures (ECP) - Professeur émérite à l’Université de Reims-Champagne-Ardenne
Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.
Lire l’articleINTRODUCTION
Les constantes essentielles de la spectrométrie d’émission X sont les longueurs d’onde des raies spectrales ; on peut trouver des tables de longueurs d’onde dans des ouvrages ou articles de revues spécifiques [1] à [9] ainsi que dans les annexes de livres sur la spectrométrie X ou encore dans la documentation présentée par les firmes industrielles. Le présent article n’a pas seulement pour but de présenter des tables suffisamment précises et à jour ; son objectif est aussi de fournir aux utilisateurs les explications nécessaires pour consulter avec profit les tables destinées aux spécialistes, ainsi que certains ouvrages traitant de la spectrométrie X et difficiles à lire pour les non-initiés. Ces explications paraîtront très élémentaires aux lecteurs avertis, mais nous pensons cependant qu’elles peuvent être utiles aux personnes non familiarisées avec la spectrométrie X ; on peut considérer ce texte comme un complément à l’article Spectrométrie d’émission des rayons X. Fluorescence X [P 2 695] du traité Analyse et Caractérisation.
L'expertise technique et scientifique de référence
DOI (Digital Object Identifier)
CET ARTICLE SE TROUVE ÉGALEMENT DANS :
Accueil > Ressources documentaires > Sciences fondamentales > Caractérisation et propriétés de la matière > Introduction aux constantes physico-chimiques > Constantes des spectres d’émission X > Systèmes dispersifs en longueur d’onde usuels
Cet article fait partie de l’offre
Métier : responsable risque chimique
(242 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Présentation
Conclusion
English
6. Systèmes dispersifs en longueur d’onde usuels
Dans le tableau 15 sont rappelés le nom, la formule chimique et l’espacement réticulaire des cristaux analyseurs usuels. Sont indiqués aussi les espacements périodiques élémentaires de systèmes à multicouches de type Langmuir-Blodgett. Une liste plus complète se trouve dans [9] [48]. D’autres cristaux utilisables ont été proposés récemment [51]. La plupart des espacements réticulaires relatifs aux cristaux utilisés ne sont pas connus avec une très grande précision ; les valeurs données dans les tables peuvent différer notablement et une calibration des spectromètres est nécessaire [52].
On sait préparer actuellement des systèmes à multicouches d’éléments alternés (tungstène – carbone notamment), ne faisant donc pas appel à des substances organiques, et dont l’espacement périodique élémentaire peut être choisi pratiquement à volonté pour obtenir la reflexion sélective de domaines étendus de longueurs d’onde,...
L'expertise technique et scientifique de référence
Cet article fait partie de l’offre
Métier : responsable risque chimique
(242 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
Systèmes dispersifs en longueur d’onde usuels
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - CAUCHOIS (Y.), SÉNÉMAUD (C.) - Longueurs d’onde des émissions X et des discontinuités d’absorption X. - 320 p., bibl., Tables Internationales de constantes sélectionnées, vol. 18, Pergamon Press (1978).
-
(2) - BEARDEN (J.A.) - X-ray wavelengths. US Atomic Energy Commission, Division of Technical Information, - NYO 10586, 1964, 531 p., bibl. résumé dans Rev. Mod. Phys. (USA.), 39, no 1, p. 78-124, janv. 1967.
-
(3) - BEARDEN (J.A.), BURR (A.F.) - Atomic energy levels. US Atomic Energy Commission, Division of Technical Information - NYO 2543-1, 1965, résumé dans Reevaluation of X-ray atomic energy levels. Rev. Mod. Phys. (USA) 39 no 1, p. 124-42, janv. 1967.
-
(4) - BURR (A.F.) - Characteristic X-ray emission lines, - dans CRC Handbook of spectroscopy, ROBINSON (J.W.) edit., vol. 1 (1974).
-
(5) - WHITE (E.W.), JOHNSON Jr (G.G.) - X-ray emission and absorption wave lengths and 2 θ tables. - Data Service DS 37 A, 2e édition, ASTM (1970).
-
...
ANNEXES
Groupement pour l’Avancement des Méthodes Spectroscopiques et physico-chimiques d’analyse (GAMS)
Centre de Documentation Scientifique et Technique du CNRS
Centre National d’Information Chimique (CNIC)
Bureau National de l’Information Scientifique et Technique (BNIST)
Bureau des Recherches Géologiques et Minières (BRGM)
Committee on Data for Science and Technology (CODATA)
Union Internationale de Chimie Pure et Appliquée [International Union of Pure and Applied Chemistry] (IUPAC)
HAUT DE PAGE
L'expertise technique et scientifique de référence
Cet article fait partie de l’offre
Métier : responsable risque chimique
(242 articles en ce moment)
Cette offre vous donne accès à :
Une base complète d’articles
Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques
Des services
Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources
Un Parcours Pratique
Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses
