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EnglishRÉSUMÉ
Les composants passifs sont omniprésents en électronique, que ce soit dans les applications les plus simples ou dans les plus complexes. Le besoin de miniaturisation se fait grandement sentir, notamment pour des composants de fortes valeurs. Cependant, l'intégration de ces éléments assez volumineux reste un défi au niveau des procédés de fabrication. En effet, les contraintes technologiques imposées par cette intégration influencent de manière conséquente les caractéristiques et les performances atteintes. Chaque élément passif intégré, résistance, inductance et capacité, possède ainsi ses spécificités structurales, électriques et ses améliorations potentielles.
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Matthieu NONGAILLARD : Docteur en microélectronique - Ingénieur R
INTRODUCTION
Les composants passifs sont omniprésents en électronique, que ce soit dans les applications les plus simples ou les plus complexes. Comme les éléments passifs sont des dispositifs volumineux si ils sont comparés aux dispositifs actifs comme des transistors, il est intéressant de chercher à les intégrer au sein de puces. Cependant, l'intégration des éléments passifs est un défi au niveau du procédé de fabrication, car chaque composant passif ainsi réalisé doit avoir des performances au moins équivalentes à celle de son homologue discret pour présenter un intérêt d'un point de vue économique.
Les problématiques soulevées par l'intégration des composants passifs n'ont pas toujours suscité les mêmes intérêts que pour les composants actifs, intégrés notamment avec les technologies CMOS. En effet, le monde de la microélectronique est rythmé depuis 40 ans par la loi de Moore, qui est vérifiée depuis 1973 et devrait encore l'être quelques années avant de bloquer devant des effets physiques parasites. La majorité des efforts d'intégration ont été focalisés sur les composants actifs et plus particulièrement sur les transistors. Depuis 2004, la tendance à la miniaturisation souffre d'un ralentissement causé par des difficultés techniques très diverses : on peut citer par exemple, la dissipation thermique qui empêche une montée en fréquence des composants en dépit de leur taille plus faible. Les limitations physiques rencontrées rendent de plus en plus difficile la miniaturisation. L'industrie du semi-conducteur ne peut pas compter diviser la taille des transistors de génération en génération et doit par conséquent trouver un nouveau paradigme pour continuer de réduire les tailles et les coûts. À chaque nœud technologique (180 nm, 90 nm, 65 nm, 45 nm, 32 nm, 22 nm…), des limitations qui étaient jusqu'alors négligeables deviennent prépondérantes et la moindre non-uniformité lors du procédé de fabrication augmente de façon exponentielle la dispersion des caractéristiques des composants.
L'intégration des éléments passifs est donc moins avancée que celle des éléments actifs, mais les besoins de miniaturisation dans certains domaines tendent à réduire les différences.
Certains domaines d'application nécessitent de plus en plus de composants passifs de fortes valeurs, qui tireraient profit d'un meilleur niveau d'intégration. C'est le cas des applications radiofréquences avec les capacités de découplage, ou encore des fonctions d'alimentation des circuits.
Dans ce dossier, nous abordons les problématiques liées à l'intégration avec les différentes options technologiques et leurs influences sur les performances électriques. L'aspect technologique définit les principales caractéristiques et les performances électriques de ces éléments intégrés. Ensuite, les principaux composants passifs sont passés en revue, aussi bien d'un point de vue procédé de fabrication, avec les matériaux couramment utilisés et la structure des composants, que d'un point de vue électrique, avec les principales caractéristiques et performances atteintes. Les éléments passifs de base que sont les résistances, les inductances et les capacités sont donc détaillés.
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2. Résistances
2.1 Principales caractéristiques et structures
Les résistances (cf. [E 2 100]) sont des conducteurs qui suivent la loi d'Ohm décrite par l'équation (1) :
avec :
- U :
- tension aux bornes du conducteur,
- R :
- résistivité caractérisant le conducteur,
- I :
- courant qui le traverse.
La chute de tension aux bo rnes du conducteur est donc proportionnelle au courant le traversant.
De la même manière que pour une résistance discrète, une résistance intégrée est caractérisée par une valeur de résistivité donnée en Ohm et sa précision (en %), mais aussi par un coefficient de température, un coefficient de tension et une réponse en fréquence.
Le coefficient en température caractérise la modification de la valeur de résistivité du conducteur en fonction de la température du conducteur. En effet, le passage d'un courant dans une résistance va augmenter sa température en fonction de la mobilité des porteurs (et donc de la résistivité du matériau utilisé).
Le coefficient de tension prend en compte l'influence électrique des différents matériaux proches du composant susceptibles de modifier sa valeur.
La réponse en fréquence est un paramètre important pour les applications haute fréquence et dépend du couplage entre le conducteur et le substrat (différent en fonction des technologies utilisées).
La structure la plus courante d'une résistance intégrée est un simple conducteur réalisé...
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BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - * - STMicroelectronics, \Ipad.
-
(2) - ROOZEBOOM (F.), ELFRINK (R.), VERHOEVEN (J.), Van den MEERAKKER (J.), HOLTHUYSEN (F.) - High-value MOS capacitor arrays in ultra deep trenches in silicon. - Microelectronic Engineering, vol. 53, p. 581-584 (2000).
-
(3) - ROOZEBOOM (F.), KLOOTWIJK (J.), DEKKERS (W.), LAMY (Y.), Van GRUNSVEN (E.), KIM (H.) - 3D passive and heterogeneous integration technology options for system-in-package. - Solid State Technology, vol. 51, p. 38-47 (2008).
-
(4) - ROOZEBOOM (F.), KEMMEREN (A.), VERHOEVEN (J.), Van den HEUVEL (F.), KLOOTWIJK (J.), KRETSCHMAN (H.), FRIC (T.), Van GRUNSVEN (E.), BARDY (S.), BUNEL (C.), CHEVRIE (D.), LE CORNEC (F.), LEDAIN (S.), MURRAY (F.), PHILIPPE (P.) - More than moore : towards passive and system-in-package integration. - In Proceedings of Electrochemical Society Symposium, vol. 0, p. 16-31 (2005).
-
(5) - W.D.C. (S.-L.), BREDERLOW (D.T.R.), WEBER (R.) - Low-frequency noise of integrated polysilicon resistors. - Electron Devices, IEEE Transactions on, vol. 48, p. 1180-1187 (2001).
- ...
DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES
ANNEXES
1.1 Constructeurs – Fournisseurs – Distributeurs (liste non exhaustive)
IPDIA http://www.ipdia.com
ST Microelectronics http://www.st.com/internet/analog/class/1806.jsp
HAUT DE PAGE1.2 Laboratoires – Bureaux d'études – Écoles –Centres de recherche(liste non exhaustive)
LAAS http://www.laas.fr/
AMPERE http://www.ampere-lab.fr/
Université de Helsinki http://www.helsinki.fi/facultyofscience/research/index.html
London Imperial collegue http://www3.imperial.ac.uk/research
Centre technique et scientifique du bâtiment CSTB http://www.cstb.fr
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