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François DESVIGNES : Ingénieur de l’École Supérieure d’Optique et du Conservatoire National des Arts et Métiers - Ancien Directeur à la Société Anonyme d’Études et Réalisations Nucléaires (SODERN)
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Lire l’articleINTRODUCTION
Cet article ne traite que les aspects métrologiques de la caractérisation des rayonnements optiques, des sources, de la propagation dans les milieux, des propriétés des échantillons et objets passifs, et des détecteurs. Pour ce qui concerne la description de la structure et des propriétés des sources, milieux et détecteurs, le lecteur trouvera plusieurs références dans la bibliographie de la fiche documentaire .
On verra que la photométrie, ce mot étant pris au sens large, est un art rendu difficile par la complexité des distributions spatiale et spectrale du rayonnement. Pour cette raison, les métrologues ont été conduits à définir un nombre relativement important de grandeurs que l’on peut mesurer sans trop de difficultés, et dont on verra l’intérêt. C’est aussi cette complexité qui fait que la précision des mesures photométriques paraît souvent médiocre : une incertitude relative de 1 % correspond à une bonne précision courante, 10 – 4 est tout à fait exceptionnel.
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7. Problèmes et méthodes de la photométrie
7.1 Mesures directes
On a vu qu’il existe des détecteurs thermiques 6.3.2 dont la réponse i est proportionnelle au flux énergétique qu’ils absorbent, c’est-à-dire au produit du flux incident Φ e par leur facteur d’absorption et par le facteur de transmission de leur fenêtre.
Certains de ces détecteurs sont munis d’une résistance chauffante dans laquelle on peut dissiper une puissance électrique w qui permet de reproduire la réponse due au flux absorbé , et par là de mesurer ce flux par simulation. Si le détecteur satisfait à l’hypothèse de proportionnalité, on peut en déduire la sensibilité :
Les physiciens savent faire des instruments sans fenêtre, dont est aussi proche que l’on veut de 1 à toute longueur d’onde, mais ces...
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Problèmes et méthodes de la photométrie
BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - BOYD (R.W.) - Radiometry and the detection of optical radiation. - Wiley, New York (1983).
-
(2) - BURRUS (J.) & al - La photométrie en éclairage. - Sté Édition Lux, Paris (1991).
-
(3) - CAYLESS (M.A.), MARSDEN (A.M.) - Lamps and lighting (3e édition). - Edward Arnold, London (1983).
-
(4) - DESVIGNES (F.) - Détection et détecteurs de rayonnement. - Masson, Paris (1987).
-
(5) - DESVIGNES (F.) - Rayonnements optiques, radiométrie, photométrie. - Masson, Paris (1991).
-
(6) - ELBIG (E.) - Lichtmesstechnik. - Geest & Portig, Leipzig (1977).
-
(7)...
NORMES
-
Vocabulaire électronique. Chapitre 845 : Éclairage º [CEI 50 (845)]. - NF C 01-845 - 3-89
ANNEXES
Constructeurs
Sources étalons pour la radiométrie : 18, 19, 20
Sources étalons pour la photométrie : 18, 19, 20
Détecteurs pour la radiométrie : thermiques : 5, 12, 13, 17
Détecteurs pour la radiométrie : photoélectriques : 2, 4, 6, 7, 27
Détecteurs pour la photométrie : 19
Radiomètres (flux, éclairement énergétique) : 8, 14, 21, 22, 26, 28
Luxmètres (éclairement lumineux) : 1, 3, 9, 11, 15, 21
Luminancemètres photoélectriques : 1, 10, 15, 21, 25
Sphères intégrantes : 10, 17, 21
Goniophotomètres : 21
Réflectomètres : 11, 21, 24
Filtres optiques : 16, 18, 23
1 Bruel & Kjaer.
2 Centronic Ltd : représentant : Photonetics.
3 Chauvin-Arnoux.
4 EG & G Photon Devices : représentant : RMP.
5 Eppeley Laboratory.
6 Epitaxx.
7 Hamamatsu Photonics KK ; représentant : Hamamatsu Photonics France.
8 Hewlett-Packard.
9 International Light : représentant : Ealing.
10 Labsphere ; représentant : Oriel Sarl.
11 Lange-Bruno ; représentant : Chimilab Essor.
12 Laser Instrumentation ; représentant : Oriel Sarl.
13 Laser Precision Corp.
14 Li-Cor Inc ; représentant : Cunow.
15 Minolta.
16 MTO (Métallisations et Traitements Optiques).
17 Ophir ; représentant : Optilas.
18 Oriel Corporation ; représentant : Optilas.
19 Osram ; représentant : Cunow.
20 Polaron Special Lamps Division.
21 PRC Krochmann GmbH.
22 Schlumberger Technologies.
23 Schott Glaswerke ; représentant :...
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