Présentation

Article

1 - PHÉNOMÈNES ÉLECTROSTATIQUES

2 - MAGNÉTOSTATIQUE

3 - MÉTHODE DE CALCUL DE GABRIEL KRON. COMMENT CALCULER LES INTERACTIONS DE FAÇON SIMPLE

4 - ONDES GUIDÉES

5 - NOTION DE CHAMP LOINTAIN

6 - CÂBLES ET BOÎTIERS BLINDÉS

7 - SOURCES DE BRUIT DANS LES CIRCUITS INTÉGRÉS

8 - PRINCIPALES INTERACTIONS DES PARTICULES AVEC LA MATIÈRE

  • 8.1 - Interactions électroniques-ions lourds : notions usuelles
  • 8.2 - Interactions photons-matière
  • 8.3 - Interactions des particules chargées avec la matière
  • 8.4 - Interactions nucléaires hadrons-matière

9 - CONCLUSION

10 - GLOSSAIRE

Article de référence | Réf : E1302 v2

Magnétostatique
Compatibilité électromagnétique - Notions fondamentales

Auteur(s) : Olivier MAURICE

Date de publication : 10 nov. 2016

Pour explorer cet article
Télécharger l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !

Sommaire

Présentation

Version en anglais English

RÉSUMÉ

Cet article a pour objectif de rappeler et de fournir les fondamentaux théoriques et pratiques sur la compatibilité électromagnétique (CEM). Sont ainsi abordées les définitions et les descriptions des principales interactions électromagnétiques, depuis les interactions conduites, de champ proche, aux interactions rayonnées en champ lointain. Les mécanismes fondamentaux à la base des interactions entre des particules chargées et des composants, ainsi que les mécanismes de base qui permettent de comprendre les bruits engendrés par les circuits électroniques numériques de grandes tailles, sont détaillés.

Lire cet article issu d'une ressource documentaire complète, actualisée et validée par des comités scientifiques.

Lire l’article

Auteur(s)

  • Olivier MAURICE : Directeur de la recherche et du laboratoire - ESIGELEC – IRSEEM EA4353, Saint-Étienne du Rouvray, France

INTRODUCTION

Cet article a pour objet le rappel de notions fondamentales pour la CEM, qui pourront être utilisées dans l’ensemble des articles traitant de la CEM de projets. Des renvois sont effectués lorsque les notions rejoignent celles des cours d’électromagnétisme pour l’ingénieur. On s’attache ici à rappeler des notions plus spécifiques au métier de la compatibilité électromagnétique. On aborde tout d’abord les principes qui prévalent aux interactions conduites ou de champs proches (interactions électrostatiques, magnétostatiques). Puis on aborde les interactions d’ondes guidées ou rayonnées. Une méthode de calcul dite « méthode de Kron » est présentée dans le paragraphe 3, qui permet de calculer rapidement de nombreux problèmes et d’une façon très efficace. Cette méthode permettra à tout ingénieur d’évaluer des problèmes de CEM déjà complexes et qui ne seraient pas, ou très difficilement, calculables par l’intermédiaire des outils disponibles sur le marché. Comme la méthode est utilisée dans divers paragraphes comme exemple et support d’exercices, nous la présentons en premier. Enfin nous abordons les effets des particules sur les composants et les approches « CEM » de ces derniers. Il faut bien discerner l’exercice de simulation d’un problème de CEM, qui exploite des schémas numériques s’appuyant sur des maillages et réalisant par là des expériences virtuelles, de l’exercice d’analyse théorique du problème qui s’appuie sur une description faite par l’ingénieur du système traité. La notion de démonstration se raccroche à l’accord entre une prédiction théorique et une expérience, qu’elle soit réelle ou virtuelle, dès lors que les schémas employés dans l’expérience virtuelle sont en adéquation avec la précision et la pertinence recherchées vis-à-vis du problème réel et de la maîtrise que l’on a de ses paramètres et phénomènes physiques.

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 93% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

VERSIONS

Il existe d'autres versions de cet article :

DOI (Digital Object Identifier)

https://doi.org/10.51257/a-v2-e1302


Cet article fait partie de l’offre

Électronique

(228 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Version en anglais English

2. Magnétostatique

2.1 Au niveau des charges

Soit une charge q en présence d’une charge Q, toutes deux étant fixes, nous avons vu que Q était source d’une force électrostatique sur q (et réciproquement).

Maintenant, si Q se déplace, tout en maintenant q fixe, cette dernière charge est toujours soumise au champ statique vu précédemment et indépendant du déplacement de Q, mais aussi à une contribution fonction de la vitesse de Q. En généralisant, cette contribution nous donne la force de Lorentz générée par des courants sur des circuits externes

Soit un circuit rigide parcouru par un courant, ce circuit ne se déplace pas spontanément, aussi, on peut dire que la résultante des forces appliquées au circuit est nulle. Afin de rompre cet équilibre, il faut produire des forces provenant de l’extérieur du circuit.

La force électromagnétique créée par des charges ponctuelles en mouvement et s’exerçant sur une particule de charge q et de vitesse v, appelée force de Lorentz, s’écrit sous la forme :

F=qE+qvB

EetB sont respectivement le champ électrique et l’induction magnétique dans lesquels baigne la particule (figure 6).

Considérons maintenant un élément de courant soumis à un champ magnétique, la force subie par cet élément de courant suit la loi de Laplace donnée par :

dF=idℓ B

Inversement,...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 92% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Électronique

(228 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS

Lecture en cours
Magnétostatique
Sommaire
Sommaire

BIBLIOGRAPHIE

  • (1) - KRON -   Tensorial Analysis of Networks  -  (1939).

  • (2) - MAURICE (O.) -   La compatibilité électromagnétique des systèmes complexes.  -  Hermès-Lavoisier (2007).

  • (3) - ANGOT (A.) -   Compléments de mathématiques pour l'ingénieur.  -  Masson (1957).

  • (4) -   *  -  http://www.scilab.org

  • (5) - NOUGIER (J.P.) -   Méthode de calcul numérique.  -  Hermès-Lavoisier (2001).

  • (6) - PAUL (C.R.) -   Electromagnetics for Engineer,  -  Wiley ( ).

  • (7) - VABRE...

1 Sites Internet

Ibis Spécifications des différentes normes IBIS sur http://www.eda.org/ibis/home/specs/specs.htm (page consultée le 28/10/10)

IEC Spécifications des différentes normes modélisation composants (projet IEC 62433), méthodes de mesure en émission (IEC 61967) et immunité (IEC 62132) sur http://www.iec.ch. Voir détails dans la section « Normes et standards » ci-après (page consultée le 28/10/10)

ITRS The International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS), http://www.itrs.net, version 2009 (page consultée le 28/10/10)

HAUT DE PAGE

2 Normes et standards

International Electrotechnical Commission IEC http://www.iec.ch/

IEC 62433 ((2010)), EMC IC modelling – Part 1 : General modelling framework IEC 62 433-1 47A/840/DTS.

IEC 61967-1 ((2002-03)), Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz – Part 1 : General conditions and definitions IEC 61967-1

IEC 61967-1-1 ((2010)), Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions – Part 1-1 : General conditions and definitions – Near-field scan data exchange format IEC/TR 61967-1-1

IEC 61967-1-1 ((2005)), Integrated circuits – Measurement of electromagnetic emissions,...

Cet article est réservé aux abonnés.
Il vous reste 95% à découvrir.

Pour explorer cet article
Téléchargez l'extrait gratuit

Vous êtes déjà abonné ?Connectez-vous !


L'expertise technique et scientifique de référence

La plus importante ressource documentaire technique et scientifique en langue française, avec + de 1 200 auteurs et 100 conseillers scientifiques.
+ de 10 000 articles et 1 000 fiches pratiques opérationnelles, + de 800 articles nouveaux ou mis à jours chaque année.
De la conception au prototypage, jusqu'à l'industrialisation, la référence pour sécuriser le développement de vos projets industriels.

Cet article fait partie de l’offre

Électronique

(228 articles en ce moment)

Cette offre vous donne accès à :

Une base complète d’articles

Actualisée et enrichie d’articles validés par nos comités scientifiques

Des services

Un ensemble d'outils exclusifs en complément des ressources

Un Parcours Pratique

Opérationnel et didactique, pour garantir l'acquisition des compétences transverses

Doc & Quiz

Des articles interactifs avec des quiz, pour une lecture constructive

ABONNEZ-VOUS