Présentation
En anglaisAuteur(s)
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Jean-Michel MERMET : Ingénieur de l’École nationale supérieure de chimie de Strasbourg Docteur ès Sciences Directeur de Recherche au CNRS - Laboratoire des sciences analytiques de l’université Claude-Bernard (Lyon I)
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Emmanuelle POUSSEL : Docteur Chargée de Recherche au CNRSLaboratoire des sciences analytiques de l’université Claude-Bernard (Lyon I)
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Lire l’articleINTRODUCTION
Compte tenu d’une demande croissante pour l’analyse de traces, de nouvelles méthodes d’analyse élémentaire sont développées pour améliorer les limites de détection afin d’obtenir des valeurs de l’ordre du ppb masse (10–9) dans un solide ou du ng.L–1 dans un liquide. Parmi ces méthodes, la spectrométrie de masse inorganique utilisant un plasma à couplage inductif comme source d’ionisation connaît un développement commercial important. Plusieurs types de spectromètre de masse sont présentement utilisés, filtre quadripolaire, secteur magnétique ou temps de vol, permettant d’accéder à des limites de détection très basses, tout en exploitant l’information isotopique par mesure de rapports isotopiques ou utilisation de la méthode de dilution isotopique. Les raisons d’utiliser la spectrométrie de masse, la justification du choix d’un plasma à couplage inductif, la mise en œuvre et les performances analytiques seront décrites dans cet article.
VERSIONS
- Version archivée 1 de juil. 1992 par Jean-Michel MERMET, Emmanuelle POUSSEL
- Version courante de juin 2010 par Hugues PAUCOT, Martine POTIN-GAUTIER
DOI (Digital Object Identifier)
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BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - MERMET (J.M.), ROBIN (J.), TRASSY (C.) - Excitation spectrographique – Plasmas induits par haute fréquence. - [P 2 719], Analyse et caractérisation (1988), épuisé.
-
(2) - MARICHY (M.), MERMET (M.), MERMET (J.M.) - Relationship between detection limits and mechanisms in inductively coupled plasma atomic emission spectrometry. - J. Anal. Atom. Spectrom., 2, 561 (1987).
-
(3) - BOTTER (R.), BOUCHOUX (G.) - Spectrométrie de masse. - [P 2 615], Analyse et caractérisation (1995).
-
(4) - HOUK (R.S.), FASSEL (V.A.), FLESCH (G.D.), SVEC (H.J.), GRAY (A.L.), TAYLOR (C.E.) - Inductively coupled argon plasma as an ion source for mass spectrometric determination of trace elements. - Anal. Chem., 52, 2283 (1980).
-
(5) - DATE (A.R.), GRAY (A.L.) - Applications of inductively coupled plasma mass spectrometry. - Blackie (1989).
-
(6)...
ANNEXES
(liste non exhaustive)
HAUT DE PAGE1.1 Constructeurs de spectromètres de masse ICP
Agilent Technologies http://www.agilent.com
GBC Scientific Equipment http://www.gbcsci.com
JEOL http://www.jeol.com
LECO http://www.leco.com
Perkin-Elmer http://www.perkinelmer.com
Spectro Analytical http://www.spectro-ai.com
Thermo Electron Corp. http://www.thermo.com
Waters http://www.waters.com
Varian http://www.varianinc.com
HAUT DE PAGE1.2 Constructeurs de systèmes d’introduction des échantillons
Burgener Research Inc. http://burgenerresearch.com
Cetac Technologies http://www.cetac.com
Glass Expansion http://www.geicp.com
Meinhard Glass Products http://www.meinhard.com
Precision Glassblowing http://www.glassblowing.com
Spectrotec...
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