1 - GÉNÉRALITÉS

Tableau 1 - Évolution des technologies et leurs conséquences

2 - MODÉLISATION DE L’ÉMISSION PARASITE

• 2.1 - Courant élémentaire
• 2.2 - Capacité de découplage du circuit intégré
• 2.3 - Résonance élémentaire
  Figure 5 - Capacités de découplage intrinsèques des portes élémentaires et des plots d’entrée/sortie Figure 6 - Modèle simple d’émission d’un circuit intégré comportant la capacité de découplage C d , le générateur de courant interne Ib et les inductances d’accès aux alimentations Figure 7 - Comparaison entre le modèle simple d’émission conduite et la mesure Figure 8 - Modèle interne amélioré comportant deux résistances série et , et deux inductances série et Figure 9 - Mesure avec modèle amélioré Tableau 2 - Évolution des tensions d’alimentation, de la densité des portes, du [...]

3 - ÉTAT D’AVANCEMENT DES TRAVAUX DES COMITÉS NORMATIFS

4 - ORIGINES DES ÉMISSIONS PARASITES DES CIRCUITS INTÉGRÉS

• 4.1 - Origine des perturbations
  Figure 10 - Exemple d’interférences entre des microcontrôleurs embarqués et les systèmes électroniques environnants Figure 11 - Chemins inductifs véhiculant la tension d’alimentation d’un circuit intégré Figure 12 - Influence de la fréquence d’horloge sur le courant consommé Figure 13 - Trois types d’émission parasite
• 4.2 - Mécanismes d’émission

5 - MÉTHODES DE MESURE CEM DES CIRCUITS INTÉGRÉS

• 5.1 - Mesure de un ohm
• 5.2 - Mesure TEM
  Figure 14 - Schéma de branchement de la technique de mesure 1  (méthode VDE) Figure 15 - Représentation et photographie d’une cellule TEM Figure 16 - Représentation du circuit imprimé 4 couches à placer au-dessus de la TEM
• 5.3 - Mesure GTEM
  Figure 17 - Représentation et photographie d’une cellule GTEM Figure 18 - Sonde magnétique servant à identifier les zones d’émissions sur la surface d’un circuit intégré
• 5.4 - Mesure par sonde

6 - VERS UN MODÈLE DES CIRCUITS INTÉGRÉS : ICEM

• 6.1 - Modèles existants : IBIS et IMIC
  Figure 20 - Modèle IBIS d’une entrée Figure 21 - Caractéristique I (V ) permettant de simuler la réponse d’une sortie tout en préservant la confidentialité des paramètres technologiques Figure 22 - Type de caractéristique requise pour identifier la loi I (V ) au format IBIS Figure 23 - Principe de l’extraction du courant par la mesure Figure 24 - Modèle IBIS d’une sortie Figure 25 - Forme temporelle typique des signaux de commutation d’une sortie Figure 26 - Limites du modèle IBIS Figure 27 - Schéma du modèle IMIC
• 6.2 - Description du modèle d’émission ICEM
  Figure 28 - Modes de couplage des perturbations internes Figure 29 - Une représentation du modèle ICEM Figure 30 - L’interpolation permet de déterminer les courants des transistors MOS Figure 31 - L’activité d’un circuit : nombre de nœuds N changeant d’état au même instant Figure 32 - Contribution des différentes capacités à la capacité de découplage Figure 33 - Résistances et inductances série de V DD /V SS Figure 34 - Photographie de bondings Figure 35 - Capacité parasite d’un boîtier Figure 36 - Exemple de comparaison entre mesure et simulation avec le modèle ICEM Figure 37 - Alimentation unique pour le numérique et les entrées / sorties Figure 38 - Alimentations différentes pour le numérique et les entrées /sorties Figure 39 - Alimentation avec régulateur de tension incorporé au silicium Figure 40 - Mesures des spectres d’émission avec et sans entrées/sorties activées Figure 41 - Modèle simple avec résistances variables de l’étage de sortie d’une I/O Figure 42 - Schéma du couplage d’une puce avec le septum de la cellule TEM Tableau 3 - Valeurs typiques des boîtiers

7 - SUSCEPTIBILITÉ DES CIRCUITS INTÉGRÉS

• 7.1 - Origine
  Figure 43 - Les principales agressions pour un composant électronique
• 7.2 - Méthodes de mesure
  Figure 44 - Banc de test WBFC pour la susceptibilité Figure 45 - Banc de test utilisant la méthode BCI pour la susceptibilité Figure 46 - Banc de test DPI pour la mesure de la susceptibilité Figure 47 - Microcontrôleur
• 7.3 - Caractérisation d’un microcontrôleur
  Figure 48 - Protocole de mesure de la susceptibilité d’un microcontrôleur Figure 49 - Résultat de mesure de susceptibilité Figure 50 - Chargement de la mémoire programme
• 7.4 - Approche des logiciels défensifs
  Figure 51 - Principe de protection de variables critiques situées dans la mémoire RAM Figure 52 - Apport du filtrage numérique pour l’immunité Figure 53 - Multiple échantillonnage d’un même signal digital en vue de valider l’acquisition

8 - CONCLUSION