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RÉSUMÉ
Les modifications chimiques liées à la perte de couleur du pigment smalt dans les peintures historiques ont été analysées par la spectroscopie d'absorption des rayons X utilisant le rayonnement synchrotron. La taille micronique du faisceau de rayons X et la gamme d'énergie étendue offertes par les lignes de lumière LUCIA et DiffAbs du synchrotron SOLEIL ont été déterminantes pour sonder individuellement les grains de smalt dans des microprélèvements de peintures provenant des collections de la National Gallery (Londres) et du musée du Louvre (Paris). Les spectres XANES et EXAFS enregistrés au seuil K de l'ion colorant cobalt ont révélé que ce changement de couleur était associé au changement de coordinance du cation.
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The chemical modifications linked to smalt discoloration in historic paintings have been analyzed by the X-ray absorption spectroscopy using synchrotron radiation. The micronic size of the X-ray beam and the wide range of energy provided by the LUCIA beam lines and DiffAds of the SOLEIL synchrotron have been determining in order to prove individually the smalt grains in microsamples from paintings from the National Gallery (London) and the musée du Louvre (Paris) collections. The XANES and EXAFS spectra registered at the threshold K of the coloring cobalt ion have proved that this change in color was associated with the coordination change in the cation.
Auteur(s)
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Laurianne ROBINET : Ingénieure de recherche sur la plateforme IPANEMA du synchroton SOLEIL - (actuellement Ingénieure de recherche du ministère de la culture au Centre de Recherche sur la conservation des Collections (CRCC), USR 3224 du CNRS, Museum national d'histoire naturelle)
-
Nicolas TRCERA : Scientifique sur la ligne LUCIA du synchrotron SOLEIL
-
Sandrine PAGÈS-CAMAGNA : Ingénieure de recherche du ministère de la culture au Centre de Recherche et de Restauration des Musées de France (C2RMF)
-
Marika SPRING : Scientifique à la National Gallery à Londres
-
Solenn REGUER : Scientifique sur la ligne DiffAbs du synchrotron SOLEIL
INTRODUCTION
Domaine : Technique d'analyse synchrotron
Degré de diffusion de la technologie : Émergence | Croissance | Maturité
Technologies impliquées : Spectroscopie d'absorption X
Domaines d'application : Analyse chimique d'œuvres patrimoniales
Principaux acteurs français :
Pôles de compétitivité :
Centres de compétence :
Industriels :
Autres acteurs dans le monde :
Contact : http://www.synchrotron-soleil.fr/ipanema
L'expertise technique et scientifique de référence
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BIBLIOGRAPHIE
-
(1) - KRAUSE (M.O.) - Atomic radiative and radiationless yields for K and L shells. - J. Phys. Chem. Data, vol. 8, no 2, p. 307 (1979).
-
(2) - TAILLEFUMIER (M.), CABARET (D.), FLANK (A.-M.), MAURI (F.) - X-ray absorption near-edge structure calculations with the pseudopotentials : Application to the K edge in diamond and α−quartz. - Phys. Rev. B, 66, p. 195107 (2002).
-
(3) - JOLY (Y.) - X-ray absorption near-edge structure calculations beyond the muffin-tin approximation. - Phys. Rev. B, 63, p. 125120 (2001).
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(4) - STERN (E.A.), SAYERS (D.E.), LYTLE (F.W.) - Extended x-ray-absorption fine-structure technique. III. Determination of physical parameters. - Phys. Rev. B, 11, p. 4836 (1975).
-
(5) - SAYERS (D.E.), STERN (E.A.), LYTLE (F.W.) - New technique for investigating noncrystalline structures : Fourier Analysis of the extended X-ray-absorption fine structure. - Phys Rev. Lett., 27, p. 1204 (1971).
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DANS NOS BASES DOCUMENTAIRES
ANNEXES
Synchrotron SOLEIL http://www.synchrotron-soleil.fr
HAUT DE PAGE
Logiciel Athena, Newville M., IFEFFIT : interactive XAFS and FEFF fitting, J. Synchrotron Rad. 8, 322, 2001.
Logiciel Cherokee http://www.icmpe.cnrs.fr/spip.php?article578
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