La revue de presse quotidienne du 10 décembre 2025 : énergie, ...
Voici les infos à retenir de ce mercredi 10 décembre : une sélection express de ce qui fait l’actualité industrielle de ce jour.
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Rayonnement à large spectre restreint à la gamme des radiofréquences et perçu au voisinage d’un appareil électronique durant son fonctionnement nominal.
Des dispositifs à base de matériaux organiques sont présents dans de nombreux domaines de la photonique, des capteurs aux émetteurs de lumière incohérente (OLEDs). Les lasers, eux, n’ont pas encore atteint leur maturité technologique et de nombreux points de physique fondamentale sont encore à éclaircir. Cet article est une introduction au domaine des lasers organiques : il décrit les bases de la physique des matériaux dits «Π-conjugués », et passe en revue leurs propriétés et leur utilisation dans les lasers.
Utilisés tant dans le secteur industriel que scientifique, les lasers à fibre possèdent des propriétés singulières : une grande efficacité optique, une bonne capacité à dissiper la chaleur, une excellente qualité de faisceau, et un fort potentiel d’intégration. Cet article s’attache à décrire leurs propriétés, en les reliant à la fois aux effets physiques pertinents, aux types de fibres optiques actives utilisées, et à l’architecture laser mise en œuvre. Ceci permet d’expliquer leur grande polyvalence : les lasers à fibre émettent des longueurs d’ondes allant du visible à l’infra-rouge moyen, dans des régimes temporels allant du continu monofréquence aux impulsions femtosecondes.
La microscopie électronique à balayage MEB, est une technique puissante d'observation de la surface des échantillons. Elle peut mettre en valeur la topographie des surfaces non polies. Cette technique est fondée principalement sur la détection des électrons secondaires émergents de la surface sous l'impact d'un très fin faisceau d'électrons primaires qui balaye la surface observée. Elle permet d'obtenir des images ayant une résolution spatiale souvent inférieur à 5 nm et une grande profondeur de champ comparée à des images obtenues par microscopie optique. Les différentes parties de l'instrument seront décrites dans les pages suivantes : les sources d'électrons, la colonne électronique et les détecteurs les plus courants.
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